专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]晶圆异质融合方法-CN202210228762.1在审
  • 王鑫华;刘新宇;母凤文;魏珂;黄森;项金娟;殷海波;高润华 - 中国科学院微电子研究所
  • 2022-03-09 - 2023-09-19 - H01L21/18
  • 本发明提供一种晶圆异质融合方法,涉及半导体材料与器件制备技术领域。该方法包括以下步骤:将两片晶圆装入载片腔,对载片腔进行抽真空;通过真空传输腔,将晶圆传送至表面光滑化腔,对晶圆依次进行表面离子束清洗和表面光滑化处理;通过真空传输腔,将晶圆传送至键合腔,对晶圆进行离子束表面活化,同步采用复合元素补偿表面键态,在两片晶圆的表面相对位置各自形成过渡层;将两片晶圆各自的过渡层对准,在预设条件下对两片晶圆进行键合;通过真空传输腔,将键合后的晶圆传送至载片腔。本发明将表面离子束清洗、表面光滑化、无氧真空环境样品传输、附加元素离子结合的氩离子束表面活化及晶圆键合技术集成,实现常温晶圆高质量异质融合。
  • 晶圆异质融合方法
  • [发明专利]一种基于噪声抵消的抗干扰无源混频器-CN202310638127.5在审
  • 李企帆;王旭东;王鑫华;廖春连 - 中国电子科技集团公司第五十四研究所
  • 2023-06-01 - 2023-09-05 - H03D7/16
  • 本发明公开了一种基于噪声抵消的抗干扰无源混频器,属于集成电路技术领域;其为一种利用恒GM补偿电路优化的基于噪声抵消的抗干扰无源混频器,输入射频电压信号一方面通过主支路采用恒GM补偿的跨导单元转成电流信号,再通过电容耦合到无源混频器进行下变频,生成I、Q两路差分中频信号,另一方面通过辅助支路的无源混频器直接下变频生成I、Q两路差分中频信号。由于主支路的跨导单元的反相结构使信号经过一次反相,实现噪声抵消和抗干扰。本发明利用恒GM补偿电路优化的基于噪声抵消的抗干扰无源混频器,在实现噪声抵消和抗干扰要求的同时,在宽温差(‑45℃‑125℃)环境内优化了混频器的增益和抗干扰性能。
  • 一种基于噪声抵消抗干扰无源混频器
  • [发明专利]一种噪声抵消无源混频器-CN202310689720.2在审
  • 杨格亮;李企帆;王旭东;王鑫华;廖春连;陈超 - 中国电子科技集团公司第五十四研究所
  • 2023-06-12 - 2023-08-18 - H03D7/14
  • 本发明公开了一种噪声抵消无源混频器,属于混频器技术领域。该混频器包括射频跨导级电路、混频器开关级电路以及跨阻放大级电路,其中,射频跨导级电路采用CMOS互补推挽结构电路,混频器开关级电路采用单平衡无源结构的双下混频并联支路的噪声抵消电路,跨阻放大级电路通过并联的反馈电阻与电容抑制自混频导致的直流失调电压。该混频器采用无源结构,具有更好的线性度和更低的功耗。同时,该混频器采用双下混频并联支路的噪声抵消电路,在高性能模式下,两条支路并行导通,对于输入射频信号,使用噪声抵消网络优化了噪声系数同时提高了转换增益。
  • 一种噪声抵消无源混频器
  • [发明专利]晶体管制备方法及晶体管-CN202210097219.2在审
  • 蒋其梦;王宇豪;黄森;王鑫华;刘新宇 - 中国科学院微电子研究所
  • 2022-01-26 - 2023-08-04 - H01L21/335
  • 本发明提供一种晶体管制备方法,包括:提供一个叠层结构,所述叠层结构包括从下向上依次设置的基板、氮化镓沟道层、第一氮化铝膜层、氮化镓铝势垒层、第二氮化铝膜层、P型氮化镓膜层以及重掺杂P型氮化镓膜层;对所述叠层结构的第一区域刻蚀至氮化镓沟道层,并在所述氮化镓沟道层形成背栅电极;在所述叠层结构的第二区域形成间隔设置的源漏电极;对所述源漏电极之间的第三区域刻蚀至P型氮化镓膜层之内,并在所述刻蚀区域形成栅电极。本发明提供的晶体管制备方法及晶体管,能够通过背栅调制来实现栅下空穴的耗尽,从而完成对阈值电压的调制,避免对栅槽的深度刻蚀,提高栅下空穴的迁移率。
  • 晶体管制备方法
  • [发明专利]氮化镓基CMOS制备方法及氮化镓基CMOS结构-CN202210097292.X在审
  • 黄森;金昊;蒋其梦;王鑫华;刘新宇 - 中国科学院微电子研究所
  • 2022-01-26 - 2023-08-04 - H01L21/8252
  • 本发明提供一种氮化镓基CMOS制备方法,包括:提供一叠层结构,所述叠层结构包括由下向上依次设置的衬底、氮化镓缓冲及沟道层、氮化铝插入层、氮化镓铝超薄势垒层、氮化铝截止层、P型氮化镓层以及重掺杂P型氮化镓层;对所述叠层结构的部分区域刻蚀至氮化铝截止层;在刻蚀区域制备源/漏电极以及栅电极形成NMOS,在未刻蚀的区域制备源/漏电极以及栅电极形成PMOS;并对所述NMOS和所述PMOS进行隔离;将所述NMOS和所述PMOS的栅电极通过导电金属进行电连接,将所述NMOS和所述PMOS的漏电极导电金属进行电连接。本发明提供的氮化镓基CMOS制备方法,能够在单个衬底上实现NMOS和PMOS场效应管的集成,避免了器件之间的串扰,提高了CMOS的整体可靠性。
  • 氮化cmos制备方法结构
  • [发明专利]基于氮化镓基增强型器件的探测器及其制作方法-CN201910732534.6有效
  • 黄森;施雯;王鑫华;魏珂;刘新宇 - 中国科学院微电子研究所
  • 2019-08-08 - 2023-07-21 - G01N27/414
  • 一种基于氮化镓基增强型器件的探测器及其制作方法,该探测器为气体探测器或溶液探测器,当所述探测器用于电解质溶液的检测时,电解质溶液位于栅极开口区域直接与薄势垒层接触,形成一接触界面,电解质溶液影响该接触界面的界面电荷,从而导致二维电子气浓度变化,进一步导致源极和漏极之间的电流变化。当所述探测器用于含氢危险气体的检测时,含氢危险气体中的H浓度影响栅极与薄势垒层接触界面的界面电荷,从而导致二维电子气浓度变化,进一步导致源极和漏极之间的电流变化。与比传统半导体探测器相比,本公开提出的基于GaN基增强型器件的溶液探测器和气体探测器具有更高的探测灵敏度和更低的功耗,器件一次成型制备并且可反复使用。
  • 基于氮化增强器件探测器及其制作方法

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