专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体器件及其制造方法-CN202010099223.3有效
  • 安佑松;李相惇;吴容哲 - 夏泰鑫半导体(青岛)有限公司
  • 2020-02-18 - 2023-01-06 - H10B12/00
  • 本发明关于一种半导体器件及制造方法。一种半导体器件包括基板,栅极特征,栅极间隔和介电层。所述栅极特征在所述基板上方,并包含栅电极。所述栅极间隔位于所述栅极特征的侧壁上。所述电介质与所述栅极间隔接触,并具有比所述栅电极更大的厚度。本发明还提供一种半导体器件制造方法,该方法包括提供具有一对栅极特征的基板,形成间隔层在所述栅极特征之上,去除所述间隔层的一部分以暴露出所述栅极特征的顶表面,和形成第一介电层在所述间隔层和所述栅极特征的顶表面上,在所述栅极特征之间的第一介电层中形成第一缝。
  • 半导体器件及其制造方法
  • [发明专利]一种存储单元的检测方法和检测电路-CN202011140774.6在审
  • 李相惇;孙永载;赵劼;杨涛;张欣 - 中国科学院微电子研究所;真芯(北京)半导体有限责任公司
  • 2020-10-22 - 2022-04-22 - G11C29/12
  • 本发明涉及一种存储单元的检测方法和检测电路。存储单元的检测方法包括如下步骤:在封装存储块之前,将存储块边缘单元的字线的一端以及位线的一端分别通过第一放大器和第二放大器,与内建自测逻辑电路的输入端连接;对与内建自测逻辑电路连接的字线和位线施加测量电压或测量电流;通过内建自测逻辑电路的输出端输出边缘单元的测量结果。将位于存储块边缘单元的字线的一端以及位线的一端分别通过第一放大器和第二放大器与内建自测逻辑电路的输入端连接,再施加测量电压或测量电流,通过内建自测逻辑电路的输出端输出测量结果,能够在不影响存储单元的情况下对存储块进行性能检测,方法便捷,不影响产品良率和产品成本。
  • 一种存储单元检测方法电路
  • [发明专利]与非门树结构-CN202010923207.1在审
  • 李相惇;张欣;杨红;杨涛;李俊峰;王文武 - 中国科学院微电子研究所;真芯(北京)半导体有限责任公司
  • 2020-09-04 - 2022-03-22 - G01R31/26
  • 本公开提供了一种与非门树结构,与非门树结构包括:多个与非门;其中,第一个与非门的第一输入端连接第一输入信号,第一个与非门的输出端作为整个与非门树结构的输出,第一个与非门的第二输入端连接第二个与非门的输出端。本公开的优点在于,本公开为了实现无环形振荡器的面积增加,因此,将输入信号分为与非门树测定用和环形振荡器用两种,两种情况下,均采用包含在输入输出端子内部的与非门电路。两种情况下的输出结果都可以得到。因此,本公开不必扩大的产品的尺寸,利于半导体器件的小型化及成本抑制。
  • 与非门结构
  • [发明专利]分频电路及具有该分频电路的环形振荡器-CN202010043650.X在审
  • 李相惇 - 夏泰鑫半导体(青岛)有限公司
  • 2020-01-15 - 2021-07-16 - H03K21/02
  • 一种分频电路,所述分频电路包括第一触发电路、第二触发电路及第一反相器,所述第一触发电路的输出端与所述第二触发电路的输入端电连接,所述第二触发电路的输出端与所述第一反相器的输入端电连接,所述第一反相器的输出端与所述第一触发电路的输入端电连接,其中,所述第一触发电路受来自外部的第一时钟信号控制,所述第二触发电路受所述第一时钟信号反相后控制,当所述第一触发电路接收到一第一输入信号时,所述第一触发电路及第二触发电路对输入信号进行分频处理,并通过所述第一反相器输出一第二时钟信号,且使得所述第一时钟信号的频率为第二时钟信号频率的两倍。本发明还公开了具有该分频电路的环形振荡器。
  • 分频电路具有环形振荡器

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