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[发明专利]测试方法、电源装置、电源评价装置、仿真方法-CN201310148363.5有效
发明人：石田雅裕;冈安俊幸;山本和弘 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2009-09-03 - 公布日： 2013-09-11 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明涉及测试方法、电源装置、电源评价装置、仿真方法。主电源（10）将电源电压（Vdd）提供给DUT（100）的电源端子（102）。控制图形生成部（22）用于生成包含脉冲列的控制图形（CNT）。补偿电路（20）根据控制图形（CNT），而从与主电源（10）不同的通路向DUT（100）的电源端子（102）中间歇性地注入补偿电流（Icmp）。开关（20b）被设置在电压源（20a）的输出端子和DUT（100）的电源端子（102）之间，并根据控制图形（CNT）而切换为开、关。
测试方法电源装置评价仿真

[发明专利]调制后的被测试信号的测试装置以及测试方法-CN201080037527.1无效
发明人：石田雅裕;渡边大辅;冈安俊幸 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2010-08-09 - 公布日： 2012-05-30 - 主分类号： G01R31/319 文献下载
摘要：测试装置(2)对来自DUT(1)的调制后的被测试信号(S1)进行测试。交叉定时数据生成部(10)用于生成交叉定时数据，所述交叉定时数据表示被测试信号(S1)的电平分别与多个阈值进行交叉的定时。期望值数据生成部(30)用于生成定时期望值数据，所述定时期望值数据表示在将被测试信号(S1)所期望的期望值波形(S2)与多个阈值进行比较时期望值波形与各阈值进行交叉的定时。定时比较部(40)对交叉定时数据与定时期望值数据进行比较。
调制测试信号装置以及方法

[发明专利]传输系统及测试装置-CN200980150803.2无效
发明人：渡边大辅;冈安俊幸 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2009-12-04 - 公布日： 2011-11-23 - 主分类号： H04B3/02 文献下载
摘要：提供一种传输系统，该系统是传输数据的传输系统，包括：调制部，其按照准备传输的数据调制预先规定的载波信号的振幅；电光变换部，其把调制部输出的调制信号变换为光信号；光纤，其传输光信号；光电变换部，其把光纤传输来的光信号变换为电流信号；电流电压变换部，其把电流信号线性变换为电压信号；解调部，其解调电压信号。
传输系统测试装置

[发明专利]定时发生器和测试装置以及测试速率的控制方法-CN200980144118.9有效
发明人：渡边大辅;冈安俊幸 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2009-10-29 - 公布日： 2011-09-28 - 主分类号： H03K3/02 文献下载
摘要：延迟设定数据生成部(10)根据速率数据DRATE而生成延迟设定数据DDS。可变延迟电路(30)以规定的单位延迟量τu作为标准，从而使测试图形数据DPAT延迟了与延迟设定数据DDS相对应的延迟时间τ。第一速率数据DRATE1以单位延迟量τu的精度来指定测试图形数据的周期τ。第二速率数据DRATE2以高于单位延迟量τu的精度，来指定测试图形数据的周期。延迟设定数据生成部(10)以与第二速率数据DRATE2相对应的比例，将第一值X1和第二值X2进行时分输出，所述第一值X1和第二值X2与第一速率数据DRATE1相对应。
定时发生器测试装置以及速率控制方法

[发明专利]测试装置、测试方法、电路系统、以及电源装置、电源评价装置、电源环境的仿真方法-CN200980135553.5无效
发明人：石田雅裕;冈安俊幸;山本和弘 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2009-09-03 - 公布日： 2011-08-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：主电源(10)将电源电压(Vdd)提供给DUT(100)的电源端子(102)。控制图形生成部(22)用于生成包含脉冲列的控制图形(CNT)。补偿电路(20)根据控制图形(CNT)，而从与主电源(10)不同的通路向DUT(100)的电源端子(102)中间歇性地注入补偿电流(Icmp)。开关(20b)被设置在电压源(20a)的输出端子和DUT(100)的电源端子(102)之间，并根据控制图形(CNT)而切换为开、关。
测试装置方法电路系统以及电源评价环境仿真

[发明专利]时间测量电路、时间测量方法、以及使用其的时间数字转换器和测试装置-CN200980129971.3有效
发明人：山本和弘;冈安俊幸 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2009-06-24 - 公布日： 2011-06-29 - 主分类号： G04F10/00 文献下载
摘要：时间测量电路(10)测量第1信号(S1)和第2信号(S2)的边沿的时间差。采样电路(12)以第2信号(S2)的边沿的定时读入第1信号(S1)的逻辑电平。采样电路(12)变为亚稳状态时，输出信号(S3)以较长的时间标度进行过渡。过渡时间测量电路(14)测量采样电路(12)在亚稳状态下的输出信号(S3)的过渡时间(稳定时间)。
时间测量电路测量方法以及使用数字转换器测试装置

[发明专利]使用内置器件标准接口的测试装置和半导体设备-CN200980127150.6有效
发明人：渡边大辅;冈安俊幸 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2009-07-09 - 公布日： 2011-06-08 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：接口电路经由与主总线不同的测试控制总线BUS3连接到ATE，接收从ATE输出的控制信号，并且根据该控制信号控制多个BIST电路。此外，DUT被配置成，使得ATE能够经由测试控制总线读出该控制信号所指定的测试结果信号。BISI同步控制单元生成第一控制信号和第二控制信号，并且将这些信号经由测试控制总线提供给DUT，所述第一控制信号用于各个地控制包含在DUT中的多个BIST电路，所述第二控制信号用于读取BIST电路所生成的测试结果信号。
使用内置器件标准接口测试装置半导体设备

[发明专利]时钟数据恢复电路、方法及测试装置-CN200880009100.3有效
发明人：渡边大辅;冈安俊幸 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2008-03-18 - 公布日： 2010-02-24 - 主分类号： H03K5/00 文献下载
摘要：变化点检测电路(16)从作为输入数据的串行数据(S1)中抽取时钟信号(S3)。可变延迟电路(40)向具有规定频率的基准信号(S4)提供与延迟控制信号(S8a)相应的延迟，使基准信号(S4)的相位以初始延迟为基准移相。输入锁存电路(14)将可变延迟电路(40)的输出信号作为选通(Strobe)信号(S5)来锁存内部串行数据(S2)。相位比较器(22)使时钟信号(S3)和选通信号(S5)的频率一致，生成与两个信号相位差相应的相位差数据(S9)。环路滤波器(30)对通过相位比较器22所生成的相位差数据(S9)进行积分，并作为延迟控制信号(S8a)输出。相移量获取部(50)根据延迟控制信号(S8a)来获取以可变延迟电路(40)提供给基准信号的初始延迟为基准的相移量。
时钟数据恢复电路方法测试装置

[发明专利]测试装置及测试方法-CN200880012375.2有效
发明人：渡边大辅;冈安俊幸 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2008-04-21 - 公布日： 2010-02-24 - 主分类号： G01R31/3183 文献下载
摘要：本发明提供一种测试装置，是对被测试器件进行测试的测试装置，包括：产生用于规定应供给至被测试器件的测试信号的测试图案的图案生成部；产生表示将测试信号供给至被测试器件时序的时序信号的时序信号产生部；对测试图案进行滤波，输出表示与测试图案相对应的抖动的抖动控制信号的数字滤波器；根据抖动控制信号而使时序信号延迟，借此将抖动施加至时序信号的抖动施加部；以及波形成形部，以施加了抖动的时序信号为基准，生成已形成测试图案的测试信号。
测试装置方法

[发明专利]测试装置及电子器件-CN200880010198.4无效
发明人：渡边大辅;冈安俊幸 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2008-03-21 - 公布日： 2010-02-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种测试装置，是测试具有外部接口电路的被测试器件的测试装置，所述外部接口电路在该器件内部的内部电路和该器件外部之间进行信号传输，所述测试装置包括：接口控制部，使在所述外部接口电路中折回输出所述测试图形；接口判断部，根据所述外部接口电路折回输出的所述测试图形，判定所述外部接口电路的好坏。
测试装置电子器件

[发明专利]数据接收电路、利用该数据接收电路的测试装置及调节选通信号的时刻调节电路和方法-CN200880009189.3无效
发明人：渡边大辅;冈安俊幸 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2008-03-18 - 公布日： 2010-02-03 - 主分类号： G01R31/319 文献下载
摘要：可变延时电路42向选通信号S5提供可调节的延时。输入锁存电路14根据通过可变延时电路42延时的选通信号S6，锁存包含于内部串行数据S2中的各比特数据。延时设定部40调节通过可变延时电路42向选通信号S5所提供的延时量τ1。当将已知的校准图形作为串行数据输入的校准动作时，延时设定部40统计获取输入锁存电路14的输出锁存数据S3，并调节延时量τ1使得1和0的出现概率达到规定比例。
数据接收电路利用测试装置调节通信时刻方法

[发明专利]管理方法及管理装置-CN200580051700.2无效
发明人： 冈安俊幸;须川成利;寺本章伸 -专利权人：爱德万测试株式会社;国立大学法人东北大学
申请日： 2005-09-27 - 公布日： 2008-09-24 - 主分类号： G05B19/418 文献下载
摘要：本发明提供一种管理方法，该方法是针对通过多道生产工序生产电子器件的被管理生产线，管理各道生产工序中使用的各个生产装置的管理方法；具有：基准特性取得阶段，其取得基准器件的特性，该基准器件通过可实施多道生产工序的、预定的基准生产线生产；比较器件生产阶段，其使被管理生产线处理多道生产工序中的至少一道生产工序，使基准生产线处理其它生产工序，生产比较器件；比较特性测定阶段，其测定比较器件的特性；特性比较阶段，其比较基准器件的特性和比较器件的特性；判定阶段，其根据特性的差异，判定处理比较器件的被管理生产线的生产工序中使用的生产装置是否良好。
管理方法装置

[发明专利]生产系统、生产方法、管理装置、管理方法以及程序-CN200580051556.2无效
发明人： 冈安俊幸;须川成利;寺本章伸 -专利权人：爱德万测试株式会社;国立大学法人东北大学
申请日： 2005-09-13 - 公布日： 2008-09-03 - 主分类号： G05B19/418 文献下载
摘要：本发明提供一种通过多个生产工序生产电子器件的生产系统，具有：生产线，其配备有对相对多个生产工序进行处理的生产装置，生产晶片，电子器件；生产控制部，其通过生产线制造包括含多个被测定晶体管的测试电路的晶片；测定部，其测定测试电路中含有的多个被测定晶体管各自的电特性；确定部，其根据电特性不满足预定基准的被测定晶体管在前述晶片上的分布，确定多个生产工序中产生不良的生产工序；设定变更部，其变更生产装置的处理条件，该生产装置实施与产生前述不良的生产工序对应的处理。
生产系统方法管理装置以及程序

[发明专利]器件识别方法、器件制造方法以及电子器件-CN200580051329.X无效
发明人： 冈安俊幸;须川成利;寺本章伸 -专利权人：爱德万测试株式会社;国立大学法人东北大学
申请日： 2005-08-18 - 公布日： 2008-08-06 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供电子器件的器件识别方法，是识别具有电子器件实际工作时工作的实际工作电路；以及设有多个测试用元件，在测试电子器件时工作的测试用电路的电子器件的器件识别方法；该方法具有：特性测量步骤，其测试多个测试用元件的电特性；识别信息存储步骤，其作为电子器件的识别信息存储各个测试用元件的电特性；识别信息取得步骤，其为了识别所需的电子器件，测量该电子器件中包含的多个测试用元件的电特性，取得该电子器件的识别信息；匹配步骤，其将识别信息取得步骤取得的前述识别信息与识别信息存储步骤存储的识别信息进行比较，当识别信息一致的情况下，判定为同一电子器件。
器件识别方法制造以及电子器件

[发明专利]光信号接收装置、测试装置、光信号接收方法、测试方法、测试模块及半导体芯片-CN200680027622.7无效
发明人： 冈安俊幸;渡边大辅 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2006-07-19 - 公布日： 2008-07-30 - 主分类号： H04B10/02 文献下载
摘要：本发明提供一种光信号接收装置，用于接收光信号，输出通过光信号传输的数码数据的数据值。该装置包括：接收光信号，输出对应光信号强度的光电流的受光元件；将与数码数据的现周期对应的光电流，进行周期内的规定期间积分的现周期积分器；将与现周期的前周期对应的光电流，在该周期中进行和规定的期间大致相等的期间积分的前周期积分器；根据现周期积分器积分的电荷量和前周期积分器积分的电荷量的差分，输出数码数据的现周期中的数据值的数据值识别电路。
信号接收装置测试方法模块半导体芯片

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