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[发明专利]试验方法、试验装置及制造方法-CN202310236840.7在审
发明人：三浦武雄;本间恭彰 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2023-03-13 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种试验方法、试验装置及制造方法，可缩短试验时间。所述试验方法，包括：将形成有单片化前的多个元件的面板级封装载置于载置部；使至少一个触点分别与多个元件中的至少一个元件的至少一个端子接触，所述至少一个触点与试验电路的至少一个端子电连接，所述至少一个元件的至少一个端子在面板级封装中的与载置部侧的第一面为相反侧的第二面露出；以及试验电路对经由至少一个触点而与所述试验电路电连接的至少一个元件进行试验。
试验方法试验装置制造

[发明专利]试验方法、制造方法、面板级封装及试验装置-CN202310237201.2在审
发明人：三浦武雄;本间恭彰 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2023-03-13 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明提供一种试验方法、制造方法、面板级封装及试验装置，可缩短试验时间。所述试验方法包括：将以矩阵状形成有单片化前的多个元件的面板级封装载置于载置部；使与试验电路的多个端子电连接的多个触点分别与多个接触端子接触，所述多个接触端子设置于面板级封装中的矩阵的行方向的一边侧，且经由多个引出布线而与多个元件中各行的各元件的内部电路连接；以及试验电路对经由多个触点而与所述试验电路电连接的各行的各元件进行试验。
试验方法制造面板封装试验装置

[发明专利]温度调整装置、电子部件处理装置、电子部件试验装置以及DUT的温度调整方法-CN202211690907.6在审
发明人：菊池有朋 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2022-12-28 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： G05D23/20 文献下载
摘要：本发明的课题在于提供一种能够实现DUT的冷却效率的提高的温度调整装置。为此，温度调整装置(40)是在对具备具有入口(132)以及出口(133)的空间(131)以及配置于空间(131)内的裸片(110)的DUT(100)进行试验时调整该DUT(100)的温度的温度调整装置。该温度调整装置(40)具备：流通孔(41)，其具有与DUT(100)的空间(131)的入口(132)连接的连接口(411)；以及流体供给系统(50)，其与流通孔(41)连接，向DUT(100)的空间(131)供给温度调整用的流体。
温度调整装置电子部件处理试验装置以及 dut 方法

[发明专利]温度调整装置、电子部件处理装置以及电子部件试验装置-CN202310061891.0在审
发明人：山田祐也;菊池有朋;加藤康之 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2023-01-18 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G05D23/22 文献下载
摘要：本发明的课题在于提供一种能够实现DUT的温度调整中的响应性的提高的温度调整装置。为此，温度调整装置(8)具备：热交换构件(82)，其与DUT(300)接触；第八流通孔(821)，其通过热交换构件(82)的内部；以及连接部(817)，其使流体的流动回转而形成回转流(SF2)，将回转流(SF2)供给至第八流通孔(821)，回转流(SF2)是以第八流通孔(821)的中心轴(CA5)为中心而沿着第八流通孔(821)的内周面(821e)回转的制冷剂的流动。
温度调整装置电子部件处理以及试验装置

[发明专利]光声波测定装置-CN202010128412.9有效
发明人：樱井孝夫;增田伸;城市知辉;藤野昌男 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2020-02-28 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： A61B5/1455 文献下载
摘要：本发明提供一种光声波测定装置，其通过对测定对象照射某波长的脉冲光后立刻照射其它波长的脉冲光来行进光声波测定。光声波测定装置具备：超声波脉冲输出部，其输出超声波脉冲；激光输出装置，其输出激光；测定部，其根据超声波脉冲在测定对象反射的反射波以及通过激光在测定对象产生的光声波来对测定对象进行测定。激光输出装置具备：激励激光器，其输出预定波长的激光来作为预定的频率的第一脉冲；声光调制器，其接受第一脉冲，对每一个第一脉冲将光路决定为多个光路中的某一个光路来进行输出；以及波长变化部，其接受在多个光路中的各个光路行进的行进光，使其变化分别不同的波长来进行输出。
声波测定装置

[发明专利]电子部件处理装置和电子部件试验装置-CN202010263797.X有效
发明人：加藤康之;山田祐也;高木慎太郎;细贝弘树 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2020-04-07 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种能够实现成本降低的电子部件处理装置。处理器(2)具备将DUT(5)按压于测试头(3)的插座(32)的臂(20)，臂(20)具备与DUT(5)接触的推动器(22)、以及经由推动器(22)对DUT(5)进行加热的加热器(21)，推动器(22)具备内部空间(223)和与内部空间(223)连通的通气路径(229)，并从测试头(3)经由通气路径(229)对内部空间(223)供给空气。
电子部件处理装置试验装置

[发明专利]电子部件处理装置以及电子部件试验装置-CN202211642691.6在审
发明人：山田祐也 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2022-12-20 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明的课题在于提供能够实现响应性的提高并且能够实现加热器的损伤的防止的电子部件处理装置。为此，对DUT(300)进行处理的处理器(3)具备通过将DUT(300)朝向插座(2)按压而使DUT(300)与插座(2)电连接的推杆(6)，推杆(6)具备调整DUT(300)的温度的温度调整装置(7)，温度调整装置(7)包括作为加热源的加热器单元(71)，加热器单元(71)包括面状加热器(72)、配置于面状加热器(72)的第一主面(721a)的第一传热材料(73)、以及配置于面状加热器(72)的第二主面(721b)的第二传热材料(74)。
电子部件处理装置以及试验装置

[发明专利]电子部件处理装置以及电子部件试验装置-CN202211643256.5在审
发明人：山田祐也 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2022-12-20 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明的课题在于提供一种能够实现温度控制中的响应性的提高的电子部件处理装置。为此，对DUT(300)进行处理的电子部件处理装置具备通过将DUT(300)朝向插座(2)按压而将DUT(300)与插座(2)电连接的推杆(6)，推杆(6)具备与DUT(300)接触的接触板(62)和保持接触板(62)的保持器(63)，在接触板(62)与DUT(300)接触时，接触板(62)从保持器(63)离开，在接触板(62)不与DUT(300)接触时，接触板(62)由保持器(63)保持。
电子部件处理装置以及试验装置

[发明专利]光声波测定装置-CN202010127047.X有效
发明人：岩崎秀明;宫岛淳;伊田泰一郎 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2020-02-28 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： A61B5/00 文献下载
摘要：在本发明的光声波测定装置中，容易地知晓声学透镜的焦点的位置。光声波测定装置(1)具备：脉冲光输出部(10a)，其输出脉冲光(P)；透镜(10c)，其接受因脉冲光(P)而在测定对象(2)中产生的光声波(AW)并将该光声波(AW)变换为电信号；测定部(16)，其测定电信号；波形显示部(20)，其显示测定部(16)的测定结果的波形(AW)；焦点位置显示部(22)，其显示波形(AW)中的透镜(10c)的焦点(fp)的位置；Z方向移动部(14)，其使脉冲光输出部(10a)的输出端(10d)移动；以及显示图形移动部(24)，其根据输出端(10d)的移动量(d1、d2)，使由焦点位置显示部(22)显示的标记(M)相对于波形(AW)移动。
声波测定装置

[发明专利]中介板、插座、插座组装体以及线路板组装体-CN202010008891.0有效
发明人：川岛敬史;伊藤明彦;奥圭史;汐田夏基 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2020-01-06 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供能实现低成本化的中介板以及插座。插座(20)具备：第一接触探针(21)，其具有能与DUT(90)的第一端子(91)接触的第一端部；第二接触探针(22)，其具有能与DUT(90)的第二端子(92)接触的第二端部；以及内侧壳体(23)，其以第一端部和第二端部实质上位于同一假想平面(VP)上的方式保持第一以及第二接触探针(21、22)，第二接触探针(22)的长度(L2)短于第一接触探针(21)的长度(L1)。中介板(30)具备：基板(31)，其具有能供第一接触探针(21)插入的贯通孔(311)；以及布线图案(32)，其设置于基板(31)，布线图案(32)具有能供第二接触探针(22)接触的焊盘(321)。
中介插座组装以及线路板

[发明专利]电源装置、电源单元、试验装置-CN202180066119.7在审
发明人：清水贵彦;今井祥一朗 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2021-10-20 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： H02M3/28 文献下载
摘要：本发明提供电源装置、电源单元、试验装置。多个通道的电源单元(200)分别具备根据控制信号(Vctrl)在正极输出(OUTP)与负极输出(OUTN)之间产生输出电压(Vi)的输出级(210)、以及生成表示输出电压(Vi)的电压检测信号(Vsi)的电压检测器(220)。作为多个通道之一的主通道的电源单元(200＿1)的反馈信号生成部(230)从作为多个通道的剩余通道的从通道的电源单元(200＿2～200＿N)接收电压检测信号(Vs2～VsN)，生成基于全部通道的电压检测信号(Vs1～VsN)的反馈信号(Vfb)。反馈控制器(240)生成控制信号(Vctrl)，使得反馈信号(Vfb)接近目标值(Vref)。从通道的输出级(210)基于在主通道中生成的控制信号(Vctrl)进行动作。
电源装置单元试验装置

[发明专利]电源装置、电源单元、试验装置-CN202180066117.8在审
发明人：清水贵彦;今井祥一朗 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2021-10-20 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： H02M3/28 文献下载
摘要：本发明提供电源装置、电源单元、试验装置。电源装置(100)具备被堆叠连接的多个通道的电源单元(200)。电源单元(200)分别具备在正极输出(OUTP)与负极输出(OUTN)之间产生与控制信号(Vctrl)相应的输出电压(Vi)的输出级(210)。主通道的电流检测器(250)生成表示输出级(210)的输出电流的电流检测信号(Is)。反馈控制器(240)生成控制信号(Vctrl)，使得电流检测信号(Is)接近目标值(Iref)。
电源装置单元试验装置

[发明专利]电子部件测试装置、插座以及载体-CN202211031906.0在审
发明人：今泉直人;金成衍;长岛昌范;川岛敬史;伊藤明彦 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2022-08-26 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供一种能够高精度地进行DUT的端子与插座的接触件的对位的电子部件测试装置。电子部件测试装置(900)具备：具有插座(50)的测试头(5)；以及处理器(1)，插座(50)具备与DUT(90)的端子(91)对应地设置的多个接触件(53)、以及朝向嵌件(710)沿着DUT(90)的按压方向突出的壁(55)，嵌件(710)具备将配置于插座(50)上的DUT(90)按压于插座(50)的壁(55)的按压机构(750)、以及使DUT(90)的端子(91)相对于插座(50)露出的开口(741)，在处理器(1)将DUT(90)按压于插座(50)时，DUT(90)被按压机构(750)按压于壁(55)，从而使DUT(90)的端子(91)与插座(50)的接触件(53)对位。
电子部件测试装置插座以及载体

[发明专利]试验用载体及电子部件试验装置-CN202210258276.4在审
发明人：清川敏之;山田祐也 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2022-03-16 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种试验用载体及电子部件试验装置，能够实现DUT的温度调整的高效化。在收容有DUT(90)的状态下被输送的试验用载体(1)具备供从试验用载体(1)的外部供给的空气流通的流路(63)。
试验载体电子部件试验装置

[发明专利]电子部件处理装置用的载体的芯、载体及芯的拆卸方法-CN202210555785.3在审
发明人：今泉直人;藤原雅一;伊藤明彦;筬部明浩 -专利权人： 株式会社爱德万测试
申请日： 2022-05-20 - 公布日： 2023-01-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种电子部件处理装置用的载体的芯、载体及芯的拆卸方法，能够实现载体的低成本化。保持DUT(90)并在电子部件处理装置内输送的载体(710)的芯(730)具备：芯主体(731)，具有能够供DUT(90)插入的开口(733)；保持部(734)，设置于芯主体(731)的底部，保持经由开口(733)插入的DUT(90)；以及钩(732)，从芯主体(731)朝向上方延伸，钩(732)包括：钩身(735)，与芯主体(731)连接；以及卡合部(736)，与钩身(735)的前端连接，钩身(735)随着接近钩身(735)的前端部(735a)而朝向芯主体(731)的外侧倾斜。
电子部件处理装置载体拆卸方法

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