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[发明专利]信号发送/接收装置、测试装置、测试模块及半导体芯片-CN200680027160.9有效
发明人： 冈安俊幸;渡边大辅 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2006-07-20 - 公布日： 2008-07-23 - 主分类号： H04B10/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种信号发送装置，包括：输出与所给与的电源电流对应的强度的激光的发光单元、能够将对应多值数据跃迁的多个值的多个电流值的电源电流提供给发光元件的电流源、对应多值数据的跃迁，调制电流电源供给的电源电流的电流值的调制部；多值数据光信号由多位数码数值的输入而生成，电流源具有对应了数码数值位的个数的位电流源，每个位电流源生成与数码值的对应位的位单元对应的电流。调制部与位电流对应具有相应于数码值的位数的个数的电流控制开关，每个电流控制开关，根据数码值对应的位逻辑值，对是否将对应的电流源生成的电流提供给发光元件进行转换。
信号发送接收装置测试模块半导体芯片

[发明专利]测试装置-CN200580044457.1无效
发明人：小野淳;冈安俊幸;藤本明博;柴田正志 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2005-11-25 - 公布日： 2007-12-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种测试装置，具有：向电子设备施加测试图案的测试头；设置了多个机架侧连接器并通过机架侧连接器将控制信号提供给测试头的主机机架；将机架侧连接器和测试头进行光连接并将控制信号传输给测试头的电缆单元；其中电缆单元具有：用于传输控制信号的多个光纤电缆；设置在光纤电缆端部并与多个机架侧连接器对应而设置的多个单元侧连接器；对主机机架固定电缆单元的单元固定部；能够相对于对应的机架侧连接器各自独立插拔地保持各个单元侧连接器的连接器保持部。
测试装置

[发明专利]光连接器清洁方法、清洁工具、清洁工具单元及光连接器-CN200580030861.3无效
发明人：柴田正志;冈安俊幸 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2005-09-13 - 公布日： 2007-08-15 - 主分类号： G02B6/36 文献下载
摘要：提供一种光连接器清洁方法，用以清洁光连接器的金属环(ferrule)，包括喷吹步骤及去除步骤。其中喷吹步骤使清洁用的溶媒喷吹于金属环，去除步骤在溶煤干燥前，借由喷吹空气以使溶媒飞散。在喷吹步骤前，该光连接器清洁方法，可更包含嵌合步骤，使用以嵌合光连接器的清洁工具的嵌合部嵌合于光连接器。又，去除步骤借由使空气喷吹于金属环的正面将该空气及溶媒吹散至金属外周所设置的贯通孔。
连接器清洁方法工具单元

[发明专利]可变延迟电路-CN200480034305.9无效
发明人：须田昌克;须藤训;冈安俊幸 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2004-04-28 - 公布日： 2006-12-20 - 主分类号： H03K5/13 文献下载
摘要：本发明的可变延迟电路包括：多段第1可变延迟元件，串联连接，使参考时钟信号或数据信号依次延迟；第2可变延迟元件，并联连接于多段第1可变延迟元件，使参考时钟信号延迟；相位比较器，将通过多段第1可变延迟元件所延迟的参考时钟信号的相位，与通过第2可变延迟元件所延迟的参考时钟信号的相位进行比较；以及延迟量控制部，根据相位比较器的比较结果，为了使多段第1可变延迟元件所延迟的参考时钟信号的相位，与第2可变延迟元件所延迟的参考时钟信号在特定周期后的相位大致相等，对多段第1可变延迟元件的各延迟量进行控制。
可变延迟电路

[发明专利]时钟恢复电路以及通讯装置-CN200480034306.3无效
发明人：须田昌克;须藤训;冈安俊幸 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2004-04-28 - 公布日： 2006-12-20 - 主分类号： H04L7/02 文献下载
摘要：本发明的一种时钟恢复电路，包括：多级第1可变延迟元件，使数据信号依次延迟第1延迟量；多级第2可变延迟元件，使时钟信号依次延迟大于第1延迟量的第2延迟量；多个定时比较器，根据因同一级第2可变延迟元件而延迟的时钟信号，对因多级第1可变延迟元件而延迟的多个数据信号进行抽样；多个EOR电路，对连续的2个定时比较器的2个抽样结果进行逻辑异或运算；以及恢复可变延迟电路，依据多个EOR电路的运算结果，使时钟信号延迟。
时钟恢复电路以及通讯装置

[发明专利]测试装置以及电缆导引单元-CN200480032658.5无效
发明人：柴田正志;冈安俊幸;秋山勉 -专利权人：爱德万测试株式会社;古河电气工业株式会社
申请日： 2004-10-27 - 公布日： 2006-12-06 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种测试装置以及电缆导引单元，以提供能满足多条光缆的曲率限制的排设技术为目的，测试装置100包括检测头102、主要框架104、光纤缆器106、光塞107、光缆108、周长差吸收装置110与电缆导引单元112。检测头102具有多块检测基板，此多块检测基板外加检测模型在被测试元件中。主要框架104根据检测头102控制检测程序。光纤缆器106具有多条平坦型缆线200，此平坦型缆线200用以旋光性连接检测头102和主要框架104。光塞107连接光纤缆器106和光缆108。周长差吸收装置110吸收平坦型缆线200之间的周长差。电缆导引单元112使光缆108保持弯曲，光缆108连接有主要框架104的检测基板612。
测试装置以及电缆导引单元

[发明专利]校准比较器电路-CN200480025335.3有效
发明人：梅村芳春;冈安俊幸;淡路利明;山川雅裕 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2004-09-08 - 公布日： 2006-10-11 - 主分类号： G01R31/316 文献下载
摘要：一种用于对装置测试的测试设备，包括：定时发生器，用于生成指明施加测试信号的定时的定时信号；多个定时延迟部件，用于延迟所述定时信号；多个驱动器，用于施加所述测试信号；采样器，用于对所述测试信号进行采样，以输出采样电压；比较器，用于输出指明所述采样电压是否高于参考电压的比较结果；确定部件，用于确定所述采样电压是否与所述参考电压一致；和定时校准部件，用于校准由所述多个定时延迟部件提供的定时信号中的延迟时间，从而使得将所述测试信号施加到该被测试装置的定时彼此一致。
校准比较电路

[发明专利]时序比较器、数据取样装置、以及测试装置-CN200480022637.5无效
发明人：须田昌克;须藤训;冈安俊幸 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2004-04-28 - 公布日： 2006-09-13 - 主分类号： G01R31/3181 文献下载
摘要：本发明中所述的数据取样装置包含：多数段第1可变延迟元件，其以第1延迟量依次延迟数据信号；多数段第2可变延迟元件，其以大于第1延迟量的第2延迟量依次延迟选通信号；以及多数个时序比较器，其利用由同一段的第2可变延迟元件而延迟的选通信号，对由多数段第1可变延迟元件而延迟的多数个数据信号进行取样；并且，时序比较器具备：动态D－FF电路，其根据选通信号且使用寄生电容锁存数据信号并进行输出，以及正反馈D－FF电路，其根据延迟的选通信号且使用正反馈电路将动态D－FF电路所输出的输出信号锁存并进行输出。
时序比较数据取样装置以及测试

[发明专利]传送系统、接收装置、测试装置及测试头-CN200480015931.3有效
发明人：渡边大辅;冈安俊幸 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2004-06-08 - 公布日： 2006-07-12 - 主分类号： H04L7/033 文献下载
摘要：一种传送系统，包括输出预定周期的周期时脉的周期时脉输出部、将传送信号与周期时脉同步传送的传送部、及接收传送信号的接收部。此接收部具有数据同步时脉产生部，根据来自传送信号的取样数据，以产生与取样数据值的变化同步的数据同步时脉；周期相位差检测部，对周期时脉和数据同步时脉的周期相位差进行检测；相位变化时脉产生部，根据周期相位差产生使周期时脉的周期改变的相位变化时脉，使相位变化时脉和数据同步时脉的相位差，即相位变化差，变成预定大小；以及藉由与相位变化时脉同步接收传送信号，从而从传送信号中取出取样数据，并供给到数据同步时脉产生部的数据取出部。
传送系统接收装置测试

[发明专利]光脉冲传输系统及其方法-CN98800050.4无效
发明人： 冈安俊幸;岸信人 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 1998-01-22 - 公布日： 2004-06-09 - 主分类号： H04B10/152 文献下载
摘要：提供一种对定时精度高且周期不定并存在直流成分的信号也能够高精度地进行光传输的光传输方式。在发送侧具有：上升沿检测电路1，检测传输信号波形的上升沿；传输用脉冲产生电路2，产生传输用脉冲信号(b)、该传输用脉冲信号(b)以该检测定时为界，由极性相互反转的极性反转脉冲对构成；和光强度调制电路3，根据所述脉冲信号(b)生成光强度调制信号(c)；在接收侧具有：AC耦合接收电路4，接收光强度调制信号(c)、并仅取出其交流成分；和识别电路5，从接收信号识别上升定时。并且，设有传输有关传输信号波形下降的信号的同样的结构，根据识别的上升定时及下降定时再现原传输信号波形的上升沿及下降沿。
脉冲传输系统及其方法

[发明专利]光驱动型驱动器、光输出型电压传感器、及使用这两者的IC试验装置-CN98803957.5无效
发明人： 冈安俊幸 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 1998-02-05 - 公布日： 2003-12-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种IC试验装置，包括主框架和试验头，其中所述主框架容纳有：图形发生器、波形发生器和逻辑比较器等电子电路装置；所述试验头连接在自该主框架拉出的电缆的前端，在试验头侧配置光驱动型驱动器和光输出型电压传感器，在主框架侧设置将试验图形信号变换为光信号的光信号变换器和将光信号变换为电信号的光传感器，在主框架侧由光信号变换器将波形发生器输出的试验图形信号变换为光信号，使用光波导线路将该光信号向试验头传送，驱动设在试验头的光驱动型驱动器，将光信号变换为电信号提供给被试验IC。被试验IC输出的应答信号被提供给光输出型电压传感器，利用该光输出型电压传感器将被试验IC输出的电压信号作为光信号传送到主框架，利用光信号在主框架和试验头之间进行信号的授受，可以进行高速操作。
驱动驱动器输出电压传感器使用两者 ic 试验装置

[发明专利]互补金属氧化物半导体集成电路-CN98800117.9有效
发明人： 冈安俊幸 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 1998-02-26 - 公布日： 2003-10-15 - 主分类号： H03K19/0185 文献下载
摘要：一种CMOS结构的超大规模集成电路，可不受配线电容、门输入电容的影响而高速工作。把电流输出型门用作发送侧门11，且只在信号的跃迁期间使电容器54充放电，其电流经电流密勒电路55、56放大后流过导通电路15。接收侧门31是低输入阻抗电流输入型门。该门31的结构为：将CMOS反相器35的输入输出端短路连接，其两个电源连接端分别通过p沟道MOSFET电流密勒电路37、39和n沟道MOSFET电流密勒电路38、41而连接在正和负的电源端子16及17上，两个电流密勒电路的输出侧连接在导电通路15上。
互补金属氧化物半导体集成电路

[发明专利]测量延迟时间的方法和用于这种方法的随机脉冲链发生电路-CN96121347.7无效
发明人： 冈安俊幸 -专利权人：株式会社艾德温特斯特
申请日： 1996-12-21 - 公布日： 2003-08-27 - 主分类号： H03K3/84 文献下载
摘要：延迟时间生成电路以预定时间延迟一输入脉冲信号并输出被延迟的脉冲信号。它的延迟时间被测定。提供一随机脉冲生成电路，可按随机间隔输出脉冲链，并延时生成电路的输出信号通过正反馈电路作用于其输入信号。随机脉冲生成电路的输出信号传到正反馈电路，促使正反馈电路振荡，并根据正反馈电路振荡的周期确定延时生成电路的延迟时间。延迟时间可被精确测定，而不受其它信号或噪音干涉的影响。
测量延迟时间方法用于这种方法随机脉冲发生电路

[发明专利]使用光驱动型驱动器和光输出型电压传感器的IC试验装置-CN03101070.9无效
发明人： 冈安俊幸 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 1998-02-05 - 公布日： 2003-08-06 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种IC试验装置，包括主框架和试验头，主框架包括图形发生器和逻辑比较器，试验头安装在远离该主框架但接近被试验IC的地方。所述主框架还包括光源和光电检测器；所述试验头还包括电介质基片，在该基片上形成的光分支部分、光汇合部分、互相并行地形成在光分支部分和光汇合部分之间的第一和第二光波导和第一、第二电极和共用电极。被试验IC输出的应答信号被提供给光输出型电压传感器，利用该光输出型电压传感器将被试验IC输出的电压信号作为光信号传送到主框架，利用光信号在主框架和试验头之间进行信号的授受，可以进行高速操作。
使用驱动驱动器输出电压传感器 ic 试验装置

[发明专利]信号传输电路、CMOS半导体器件以及线路板-CN98118638.6有效
发明人： 冈安俊幸 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 1998-08-20 - 公布日： 2003-04-16 - 主分类号： H03K19/00 文献下载
摘要：提供一种信号传输电路、CMOS半导体器件以及电路板，它们具有激励器电路；信号线以及被激励电路。其中，所述被激励电路具有数字电路，它根据输入所述被激励电路的电压输出一个二进制输出电压值。所述信号传输电路进一步具有一个辅助电路，该辅助电路具有一个逻辑电路，它包括连接到所述信号线的输入端和连接到所述输入端的输出端，所述辅助电路产生实质上与一个阈值电压匹配的电压，所述被激励电路的所述数字电路的输出在该阈值电压从所述二进制输出电压的一个值翻转为所述二进制输出电压的另一个值；所述被激励电路的所述数字电路的β系数等于所述辅助电路的β系数，该β系数是表示场效应晶体管漏电流的漏电流系数。
信号传输电路 cmos 半导体器件以及线路板