专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]LC器件以及LC器件的制造方法-CN201780033770.8有效
  • 深堀奏子;中矶俊幸;滨田显德 - 株式会社村田制作所
  • 2017-10-11 - 2020-11-13 - H01F27/00
  • 在使电感器和电容器一体地形成在一个坯体的结构中,实现优异的Q值的电感器。LC器件(10)具备坯体(20)、电感器(40)、电容器(50)、以及磁性体部(31)。坯体(20)为平板状,在至少一部分具备绝缘性的树脂层。电感器(40)具有环状的导体图案(401、402),并形成在坯体(20)的内部。电容器(50)是安装型的元件,在环状的导体图案(401、402)的开口内,并以至少安装面与树脂层接触的状态配置在坯体(20)内。磁性体部(31)形成坯体(20)的一部分,遍及环状的导体图案(401、402)的大致全长地配置在导体图案(401、402)与电容器(50)之间。
  • lc器件以及制造方法
  • [其他]电容元件-CN201990000137.3有效
  • 中矶俊幸 - 株式会社村田制作所
  • 2019-02-25 - 2020-08-04 - H01G4/005
  • 电容元件(101)具备:基板(1);下部电极(10),其形成于基板(1);多个第1上部电极(41A、41B),其与下部电极(10)对置配置;第2上部电极(42A、42B),其与下部电极(10)对置配置;电介质层,其配置在下部电极(10)与第1上部电极(41A、41B)之间、以及下部电极(10)与第2上部电极(42A、42B)之间;第1布线导体(61),其将第1上部电极(41A、41B)相互连接;以及第2布线导体(62),其将第2上部电极(42A、42B)相互连接。而且,在沿着下部电极(10)的面方向上且在X轴方向上,第1上部电极(41A、41B)与第2上部电极(42A、42B)邻接,并且在沿着下部电极(10)的面方向上且在Y轴方向上,第1上部电极(41A、41B)与第2上部电极(42A、42B)邻接。
  • 电容元件
  • [其他]电容器-CN201890000271.9有效
  • 三桥岭人;中矶俊幸;小宫山卓 - 株式会社村田制作所
  • 2018-05-14 - 2019-09-20 - H01G4/33
  • 电容器(101)具备:下部电极(40)、第一上部电极(41)、第二上部电极(42)、第一连接电极(51)、第二连接电极(52)、内侧辅助电极部(5)和侧方辅助电极部(4A、4B)。在俯视时,侧方辅助电极部(4A、4B)位于第一连接电极(51)和第二连接电极(52)的排列中的第一连接电极(51)和第二连接电极(52)的侧方,在俯视时,内侧辅助电极部(5)位于第一连接电极(51)与第二连接电极(52)之间。下部电极用层间连接导体(71A、71B、71C、71D、72A、72B、72C、72D)在多个位置将侧方辅助电极部(4A、4B)与下部电极(40)连接。下部电极用层间连接导体(73A、73B)在多个位置将内侧辅助电极部(5)与下部电极(40)连接。
  • 连接电极辅助电极下部电极侧方电容器层间连接导体上部电极俯视
  • [发明专利]半导体封装及其安装结构-CN201580002992.4有效
  • 手岛祐一郎;中矶俊幸;竹岛裕 - 株式会社村田制作所
  • 2015-09-17 - 2019-01-25 - H01L25/00
  • 本发明涉及半导体封装及其安装结构。具备中介层(1)、搭载于中介层(1)的第一面的半导体元件(2)、形成于中介层(1)的第二面的凸块(3)、以及搭载于中介层(1)的第二面的芯片部件(10)。中介层(1)是硅中介层,半导体元件(2)被倒装芯片安装于中介层(1)的第一面,芯片部件(10)是在硅基板上通过薄膜工艺形成元件,并在单一面形成焊盘的薄膜无源元件,芯片部件(10)的焊盘经由导电性接合材料而与形成于中介层(1)的第二面的焊环连接。根据该结构,小型化的同时确保半导体封装的中介层(1)与芯片部件(10)之间的接合可靠性。
  • 半导体封装及其安装结构

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