专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]带有防丢失盖帽的数据线接口-CN200620161922.1无效
  • 龚寅 - 龚寅
  • 2006-12-28 - 2007-12-26 - G11C16/00
  • 一种由持数据线接口的基体与盖帽组成的带有防丢失盖帽的数据线接口,该基体呈扁平状,在其两侧面各设有一轴向凹槽,轴向凹槽的两端头分别设有同一孔径的内端圆孔和外端圆孔;盖帽由呈扁形状的盖体和两只杆臂构成,扁形状的盖体其内腔与数据线的接口外形呈吻合状包容,盖帽两侧的杆臂其端头设有一半球形的凸头,该凸头在轴向凹槽呈可滑动配合,半球形的凸头与内端圆孔和外端圆孔呈可回转配合。本实用新型不仅设有能保护数据线接口的盖帽,且其盖帽不会丢失。
  • 带有丢失盖帽数据线接口
  • [发明专利]支持分区的闪存存贮器件-CN200610052643.6无效
  • 骆建军;赵刚;楼向雄 - 骆建军;赵刚;楼向雄
  • 2006-07-25 - 2007-01-03 - G11C16/00
  • 本发明公开了一种支持分区的闪存存贮器件,包括界面单元、控制器和存储模块,界面单元一端用于与外界主机连接,另一端连接控制器,控制器与存储模块通过总线连接,控制器支持对存储模块进行分区操作,可将存储模块的总存储区分成若干个分存储区,各分存储区均可单独进行读、写、擦除、加密操作或设置属性。根据本发明,人们可以将闪存存贮器件的存储空间分成若干个不同大小的区域,也可以为每个区域设置不同的属性,不会互相影响。
  • 支持分区闪存存贮器件
  • [发明专利]对闪存数据的存取进行管理的方法-CN200410062645.4有效
  • 罗培彬 - 深圳市朗科科技有限公司
  • 2004-06-30 - 2006-01-04 - G11C16/00
  • 本发明公开了一种对闪存数据存取进行管理的自适应方法,所述闪存分为多个连续的分区,所述方法包括以下步骤:(1)查看是否有坏块记录表,如果没有则建立所述坏块记录表;(2)根据坏块记录表,确定每个分区中的有效逻辑块;和(3)按照确定的所述有效逻辑块,对所述闪存进行数据存取。使用本发明的方法,既继承了存储位置浮动法的优点又克服了其在一个分区的坏块超过24个块就不能用的缺点,使闪存的使用寿命得以增强。
  • 闪存数据存取进行管理方法
  • [发明专利]使用NMOS和PMOS行解码方案带页面方式擦除的闪存体系结构-CN03824334.2有效
  • L·贝达里达;S·巴托里;F·T·凯瑟;S·莫格诺尼 - 爱特梅尔股份有限公司
  • 2003-09-04 - 2005-10-26 - G11C16/00
  • 使用局部解码方案而不是以前所众周知的共用解码方案,闪存具有新的页面擦除体系结构。新体系结构对存储器单元节省较多的模制区域,并防止遭受不希望的擦除且不影响读出时间。在局部解码方案下,认存分割成段(222;804)。每段包括多个局部解码器(202)和局部电路。局部电路包括由共用解码器(802)控制的开关(302,304,306)且这些开关只在擦除操作中切换而不在读操作中切换。读出时间不受影响。每个局部解码器耦合到存储器阵列中一行(212)。每个局部解码器包括传送正电压的PMOS晶体管(204)和传送负电压的NMOS晶体管,使在没有附加和复杂电路的情况达到页面擦除,并保护未选中的行免遭不希望的擦除。共用解码器(802;900;1000)位于段(804)之外,并将共用信号(GLOB_SRC_SEL,WS,WSN,SG)通过局部电路提供给所有段,从而节省面积。
  • 使用nmospmos解码方案页面方式擦除闪存体系结构
  • [发明专利]NAND快闪存储器件及其读取方法-CN200410074892.6有效
  • 李熙烈 - 海力士半导体有限公司
  • 2004-08-30 - 2005-10-05 - G11C16/00
  • 本发明提供一种NAND快闪存储器件及其读取方法,其中在读操作期间,将一接地电压施加至未选定单元块的串及接地选择晶体管上以增加一串线(string line)的电阻来防止由于反馈偏压效应(back-bias effect)而导致的泄漏电流。减少的位线泄漏电流会增加在被编程与被擦除的单元之间的导通/关断电流比以减少其中的感测时间,由此形成一读程范围(read trip range)以防止由数据保持及读取干扰导致的阈值电压的变化。可通过电绝缘该些单元块之间的源极选择晶体管来将电压独立地施加至源极选择线上。可通过电连接相邻单元块之间的源极选择晶体管来减少源极放电晶体管的数量。
  • nand闪存器件及其读取方法
  • [发明专利]闪存的双位记忆胞结构-CN200410017413.7无效
  • 陈国祚;曹杨;黄圣扬 - 上海宏力半导体制造有限公司
  • 2004-04-01 - 2005-10-05 - G11C16/00
  • 本发明提供一种闪存的双位记忆胞结构,其包括有一内具有一第一位线与一第二位线的半导体基底,一介于第一位线与第二位线的间的双位栅极结构,一控制第一、二位线且与其以几近垂直方式交叉重叠排列的第一、二字符线的记忆胞结构,利用这样的结构设计来达成单一记忆单元内的双位存储器的电压由分别独立的字符线的所控制的目的,从而避免了通常读取单一位资料时会受到另一位存储器状态的影响的缺点。
  • 闪存记忆结构

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