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[发明专利]解理装置-CN202210094121.1在审
发明人：王政领;李浩 -专利权人：中科艾科米（北京）科技有限公司
申请日： 2022-01-26 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明提供了一种解理装置，解理装置用于对样品进行解理，样品包括样品基底和粘接在样品基底上的粘棒，包括：样品托组件，用于固定样品基底；撞击部，设置在样品托组件上，撞击部能够在样品托组件上移动；其中，移动撞击部能够撞击粘棒，以将粘棒从样品基底上敲掉。基于本发明的技术方案，通过旋转撞击部的方式撞击粘棒，以使粘棒从样品基底上敲击脱落。与相关技术中，通过整体移动样品托和其上方的样品使得粘棒碰到刀口后从样品基底上脱落的方式相比，避免了样品基底在移动过程中样品托或样品基底脱落的问题。从而提高了解理装置工作的稳定性和可靠性。
解理装置

[发明专利]一种金属材料动力学响应诊断装置及方法-CN202010156721.7有效
发明人：何卫华;席涛;辛建婷;于明海;储根柏;曾发;税敏;卢峰;赵永强 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2020-03-09 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明涉及一种金属材料动力学响应诊断装置及方法。该诊断装置中纳秒束激光源发出的纳秒激光束辐照至待检测金属样品的上表面；皮秒束激光源发出的皮秒激光束辐照至金属微丝背光靶后产生X射线源，X射线源用于对待检测金属样品的动力学响应过程进行X射线衍射成像；DXRD诊断包包括屏蔽模块和IP成像板，IP成像板用于记录X射线衍射成像后的成像数据，所述屏蔽模块用于屏蔽背光源中杂散光对所述待检测金属样品衍射成像的影响；所述IP成像板记录的成像数据用于对所述待检测金属样品的相关特性进行分析。本发明可以提高时空分辨率，实现对高Z金属的材料动力学响应的诊断。
一种金属材料动力学响应诊断装置方法

[发明专利]一种体块碳化硅单晶内部应力检测方法-CN202210179190.2在审
发明人：谢雪健;胡小波;陈秀芳;彭燕;徐现刚 -专利权人：山东大学
申请日： 2022-02-25 - 公布日： 2022-05-17 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明涉及一种体块碳化硅单晶内部应力检测方法，包括：将待检测的体块SiC单晶样品表面进行定向操作，获取SiC样品表面的晶面；对获取的所述SiC样品表面的晶面进行中子衍射测试，得到测试结果；将所述测试结果中的衍射峰与无应力晶体中对应晶面的衍射峰进行比较，得到SiC晶体不同方向上的应变值，并通过坐标转换得出样品坐标系中的应变张量，最后计算出所述体块SiC单晶中的应力大小与分布。本发明方法采用的中子在SiC单晶中的穿透能力强，穿透能力可达厘米量级，通过对SiC晶体进行中子衍射，能够获得SiC单晶内部不同方向的应力分布。
一种碳化硅内部应力检测方法

[发明专利]一种制备共晶高熵合金TEM样品的方法-CN202210134624.7在审
发明人：姜贝贝;董勇;吴焱学;于玲;王逸如;许燕滨 -专利权人：广东工业大学
申请日： 2022-02-14 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明公开了一种制备共晶高熵合金TEM样品的方法，包括：将共晶高熵合金样品进行切割和磨抛处理，得到厚度范围为40～60μm的共晶高熵合金试样薄片；对共晶高熵合金试样薄片进行电解双喷减薄制样；其中，电解双喷减薄制样过程所采用的电解液的成分由体积分数为5～10％的高氯酸和90～95％乙醇所组成。本发明能有效避免共晶组织中某一相的过度腐蚀脱落，同时可防止样品变形和表面发乌形成氧化层，通过本发明可获得表面洁净光亮和薄区范围大的TEM样品，可满足TEM中不同内容的检测要求，并且操作简单、效率高和成本低，适合大批量地制备高质量的共晶高熵合金TEM样品。
一种制备共晶高熵合金 tem 样品方法

[实用新型]一种温度可控的锂电池原位X射线衍射谱测试装置-CN202122842603.4有效
发明人：胡仁宗;章兴石;鲁忠臣;曾美琴 -专利权人：华南理工大学
申请日： 2021-11-19 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种温度可控的锂电池原位X射线衍射谱测试装置，包括测试冶具、温控系统和电化学工作站；温控系统连接测试冶具，用于调节测试冶具温度；测试冶具包括正极顶盖和负极底盖，正极顶盖和负极底盖合围形成有电池内腔，电池内腔中设有绝缘筒，绝缘筒外侧设有用于填充电解液的电池腔体，绝缘筒内由上至下依次堆叠有铍片、待测电极样品、隔膜、锂片和负极金属柱，铍片连接于正极顶盖下端，负极金属柱穿设于负极底盖中部，正极顶盖和负极底盖分别与电池腔体的盖合处设有密封装置，正极顶盖和负极底盖分别连接于电化学工作站。能够保证测试状态的封闭性，样品的测试精度好，测试过程安全性高。
一种温度可控锂电池原位射线衍射测试装置

[实用新型]一种用于V波段和W波段的材料电磁波反射率测试系统-CN202123021702.2有效
发明人：苏广源 -专利权人：大连东信微波技术有限公司
申请日： 2021-12-03 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本实用新型涉及反射率测试技术领域，提供一种用于V波段和W波段的材料电磁波反射率测试系统，包括：测试箱、矢量网络分析仪和工作站；所述测试箱分为顶层、中层和底层；所述测试箱的底层内部各面布满吸波材料，所述测试箱的底层内设置用于放置被测物的支架；所述测试箱的底层的顶面设置发射天线和接收天线；所述测试箱的中层内设置输出扩频模块和输入扩频模块；所述输出扩频模块与发射天线电连接，所述输入扩频模块与接收天线电连接；所述测试箱的顶层内设置输出驱动模块和输入驱动模块。本实用新型能够将各设备分层放置，提高了系统集成化，方便维修维护和移动运输，并提供物理保护和微波防护。
一种用于波段材料电磁波反射率测试系统

[发明专利]一种Ni/Ti非周期多层膜及其制备方法和应用、Ni/Ti非周期多层膜中子超反射镜-CN202111641737.8在审
发明人：朱京涛;孙航;林旺;陈溢祺;屠洛涔;郭汉明 -专利权人：苏州闻道电子科技有限公司
申请日： 2021-12-29 - 公布日： 2022-05-03 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明涉及中子超反射镜技术领域，尤其涉及一种Ni/Ti非周期多层膜及其制备方法和应用、Ni/Ti非周期多层膜中子超反射镜。本发明提供了一种Ni/Ti非周期多层膜的制备方法，包括以下步骤：在N2、O2和Ar的混合气氛中，在基底表面溅射Ni层，得到NiNxOy层；所述x的取值范围为0≤x1，所述y的取值范围为0≤y1；在Ar气氛中，在所述NiNxOy层的表面溅射Ti层，得到Ti层；重复上述溅射Ni层和溅射Ti层的过程，得到所述Ni/Ti非周期多层膜；所述重复的次数≥1。所述Ni/Ti非周期多层膜的制备方法可以降低界面粗糙度，提高成膜质量。
一种 ni ti 周期多层及其制备方法应用中子反射

[发明专利]X射线分析辅助设备和X射线分析设备-CN201880015532.9有效
发明人：谷口弥生;森川惠一 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2018-01-25 - 公布日： 2022-05-03 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：根据本发明的X射线分析辅助设备设置有：输入和操作设备24，用于任意地输入和设置样品S和二维检测器2之间的距离L以及由样品S散射或衍射的X射线的最大检测范围Xmax中的一个的值；以及中央处理单元20，用于基于由输入和操作设备24设置的一个设置项目的值来自动设置另一个设置项目。另外，基于距离L和最大检测范围Xmax，在显示设备21的显示屏22上显示X射线的最大测量帧Hmax。此外，在显示设备21的显示屏22上显示X射线检测区域A，X射线检测区域A指示其内二维检测器2的检测表面可以检测X射线的范围。
射线分析辅助设备

[发明专利]一种单晶X射线衍射实验样品样品盒及样品保存方法-CN202111442058.8在审
发明人：李婷 -专利权人：核工业北京地质研究院
申请日： 2021-11-30 - 公布日： 2022-04-22 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明属于X射线衍射实验样品保存技术领域，具体涉及一种单晶X射线衍射实验样品样品盒及样品保存方法。本发明包括底座、支撑管和盖子，底座纵截面为T字型，底座上方圆柱体的中心开有十字型孔；支撑管安装在十字型孔内，支撑管外直径微大于底座上的十字孔内最小直径；盖子盖在底座上。本发明解决了单晶衍射实验中样品保存和转移难度大、样品容易损毁和丢失的问题。
一种射线衍射实验样品保存方法

[发明专利]使用FIB制备截面样品的方法和截面样品的观察方法-CN202210020997.1在审
发明人：姜有东;刘婧;饶少凯;冯路 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2022-01-10 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本申请涉及一种使用FIB束制备截面样品的方法和截面样品的观察方法。该使用FIB束制备截面样品的方法包括：提供半导体结构，在半导体结构的表面选择目标区域；在目标区域上形成保护层；在目标区域周围选择第一区域，第一区域包括除所述目标区域之外的部分区域或全部区域；沿第一方向减薄第一区域对应的第一半导体结构，使第一半导体结构与目标区域对应的第二半导体结构沿第一方向具有一高度差；减薄目标区域对应的第二半导体结构，使第二半导体结构沿第二方向具有一目标厚度，其中，第二方向垂直于第一方向。该方法可以缩短使用FIB制备截面样品的时间，同时获得完整且方便观察的截面样品，提高对样品观察的准确性。
使用 fib 制备截面样品方法观察

[发明专利]一种高温合金EBSD测试试样的处理方法-CN202210048931.3在审
发明人：霍苗;张可人;雒设计 -专利权人：西安石油大学
申请日： 2022-01-17 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明公开了一种高温合金EBSD测试试样的处理方法，该方法包括：一、机械打磨：将高温合金试样依次进行粗打磨、细打磨和机械抛光；二、化学腐蚀后进行金相拍照并拼图，确定缺陷所在位置并做标记处理，计算获得测试表面内枝晶间距的平均值；三、依次重复细打磨和机械抛光去除酸腐蚀层，然后进行去应力腐蚀，得到高温合金EBSD测试试样。本发明将高温合金试样机械打磨后进行化学腐蚀，并获得试样测试表面内枝晶间距的平均值以确定EBSD测试步长，然后去除酸腐蚀层并进行去应力腐蚀，利用腐蚀液的强氧化性有效去除高温合金试样的表面应力，解决了高温合金EBSD测试制样困难、工序复杂且周期长的问题，具有简单、实用和高效的特点。
一种高温合金 ebsd 测试试样处理方法

[发明专利]一种X射线光束挡光器及其使用方法-CN201910537335.X有效
发明人：刘广峰;李娜;吴洪金;李怡雯 -专利权人：中国科学院上海高等研究院
申请日： 2019-06-20 - 公布日： 2022-04-01 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线光束挡光器及其使用方法，该挡光器包括本体、散射腔、光电转换装置收容腔、光电转换装置、支架及电流接收装置，其中，散射腔包括直通段与散射段，直通段与散射段的过渡处设有一散射面，用以阻挡来自直通段的入射光束，并产生次级荧光信号进入散射段；光电转换装置装设于光电转换装置收容腔内，用以接收来自散射面的次级荧光信号并转换为电流信号；支架连接于本体并遮盖光电转换装置收容腔；电流接收装置通过信号线与光电转换装置连接，用于将光电转换装置输出的模拟信号转换为数字信号。本发明可用于光束线站进行入射光束的光强监测，具有较小的尺寸及较高的光电二极管使用寿命，并可以自动寻找入射光束中心。
一种射线光束挡光器及其使用方法

[实用新型]一种三圆衍射仪用可调扫描圆测角仪-CN202122077247.1有效
发明人：张熙;于昕;于洪森;张恒;谢思维 -专利权人：武汉中派科技有限责任公司
申请日： 2021-08-31 - 公布日： 2022-04-01 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本实用新型涉及X射线技术领域，尤其涉及一种三圆衍射仪用可调扫描圆测角仪。所述三圆衍射仪用可调扫描圆测角仪包括：安装壳体、调节机构、升降机构、基座和圆测角仪，两个所述安装壳体通过螺栓进行固定连接，所述调节机构固定安装在两个安装壳体的内部底端，所述升降机构滑动连接在两个安装壳体的内部顶端，所述升降机构的下表面与调节机构的输出端固定连接。本实用新型提供的三圆衍射仪用可调扫描圆测角仪的结构简单、操作便捷，可以通过设备上的调节机构完成对基座的位置进行同步的水平式升降，从而完成对圆测角仪的工作面进行上下的升降，更好的完成设备的调试安装，更加利于使用者进行使用，此设备的实用性较高。
一种衍射可调扫描圆测角仪

[发明专利]一种辐照后锆合金的EBSD试样制备方法-CN202111554283.0在审
发明人：张伟;吴拥军;方忠强;王桢;伍晓勇;吴璐;滕常青;毛建军;温榜;李佳文;宁知恩;潘荣剑;雷阳;顾剑涛;许德强 -专利权人：中国核动力研究设计院
申请日： 2021-12-17 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明涉及辐照后电子背散射衍射试样制备技术领域，公开了一种辐照后锆合金的EBSD试样制备方法，步骤1、采用熔融的低熔点合金对辐照后的锆合金进行镶嵌固定以得到锆合金试样；步骤2、将镶嵌固定后的所述锆合金试样进行机械性的研磨和抛光；步骤3、向电解抛光装置中倒入按比例配置的电解抛光液，并将所述锆合金试样安装在电解抛光装置中；步骤4、调节电解抛光参数，对所述锆合金试样中的锆合金进行电解抛光；步骤5、利用带EBSD探测器的扫描电镜对电解抛光后的锆合金试样进行观察，通过判断是否获得清晰的电子衍射菊池线，来判断是否成功制备出辐照后发锆合金的EBSD试样。本发明成功解决了辐照后锆合金EBSD试样不导电或导电性差、电解抛光困难等技术难题。
一种辐照合金 ebsd 试样制备方法

[发明专利]一种温度可控的锂电池原位X射线衍射谱测试装置-CN202111374356.8在审
发明人：胡仁宗;章兴石;鲁忠臣;曾美琴 -专利权人：华南理工大学
申请日： 2021-11-19 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明涉及一种温度可控的锂电池原位X射线衍射谱测试装置，包括测试冶具、温控系统和电化学工作站；温控系统连接测试冶具，用于调节测试冶具温度；测试冶具包括正极顶盖和负极底盖，正极顶盖和负极底盖合围形成有电池内腔，电池内腔中设有绝缘筒，绝缘筒外侧设有用于填充电解液的电池腔体，绝缘筒内由上至下依次堆叠有铍片、待测电极样品、隔膜、锂片和负极金属柱，铍片连接于正极顶盖下端，负极金属柱穿设于负极底盖中部，正极顶盖和负极底盖分别与电池腔体的盖合处设有密封装置，正极顶盖和负极底盖分别连接于电化学工作站。能够保证测试状态的封闭性，样品的测试精度好，测试过程安全性高。
一种温度可控锂电池原位射线衍射测试装置