专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]射频电极及薄膜制备装置-CN200810127058.7在审
  • 范振华 - 东莞宏威数码机械有限公司
  • 2008-06-19 - 2008-11-19 - C23C16/505
  • 本发明涉及一种用于薄膜制备的射频电极,该射频电极具有平板结构(11),且在平板结构(11)的底面设有多个导电凸起(13)。本发明还涉及一种包括上述射频电极的薄膜制备装置,其中射频电极的多个导电凸起(13)伸入布气板(3)上分布的布气孔(4)的中央,在导电凸起(13)和布气孔(4)之间存在间隙。本发明在平板结构上设置了插入布气孔中的导电凸起,使得薄膜制备过程中通过布气孔中的气体能够在导电凸起周围产生强烈放电,从而减少了电离出的离子对薄膜的轰击损伤,提高了沉积膜层的质量。
  • 射频电极薄膜制备装置
  • [发明专利]卷绕式等离子CVD装置-CN200680001884.6有效
  • 广野贵启;多田勋;中塚笃;菊池正志;小形英之;川村裕明;斋藤一也;佐藤昌敏 - 株式会社爱发科
  • 2006-05-10 - 2008-01-02 - C23C16/505
  • 本发明提供一种卷绕式等离子CVD装置,能将反应气体均匀地供给到薄膜的成膜区域、实现膜质的均匀化,在薄膜的成膜过程中也能进行成膜部的自清洗。相对于薄膜的移动方向,在成膜部(25)的上游侧和下游侧配置一对可动辊(33、34),将薄膜(22)支承在该一对可动辊(33、34)之间,使薄膜(22)在成膜位置大致直线地移动。这样,可将喷淋板(37)与薄膜(22)之间的相向距离保持为一定、实现膜质的均匀化。薄膜(22)被在其背面侧同时移动的金属带(40)加热。可动辊(33、34)能从成膜位置上升到自清洗位置,使薄膜(22)远离喷淋板(37)。用闸门(65)将罩(51)的开口部封闭,防止自清洗气体漏出,可进行成膜过程中的自清洗。
  • 卷绕等离子cvd装置
  • [发明专利]薄膜成膜方法、薄膜成膜装置和薄膜成膜过程的监视方法-CN03822759.2有效
  • 挂村敏明;鹿岛浩人;十野学 - 凸版印刷株式会社
  • 2003-09-26 - 2005-10-19 - C23C16/505
  • 在将含有单体气体和氧化性反应气体的混合气体等离子化,在基材的表面上形成氧化物组成的薄膜的薄膜成膜方法中,具有一边使所述的单体气体与所述的反应气体的供给流量比发生变化,使所述的供给流量比至少包括特定范围,一边将混合气体等离子化的特征。采用这种薄膜成膜方法和成膜装置,能够没有波动和稳定地形成具有气体阻挡性等性能的薄膜。而且,本发明还提供了一种监视方法,其特征在于,在使薄膜成膜之际测定从等离子放出的氢α射线和氧射线的强度,将各强度与可以得到所需膜质的薄膜时各射线的标准强度作对比,判定是否使所需膜质的薄膜成膜。利用所述的监视方法和薄膜成膜装置,能够在过程中判断成膜的薄膜是否具有所需的膜质。
  • 薄膜方法装置过程监视
  • [发明专利]PECVD沉积低应力SiN薄膜工艺-CN200410061150.X无效
  • 于映;罗仲梓;吴清鑫 - 福州大学
  • 2004-11-16 - 2005-04-27 - C23C16/505
  • 一种PECVD沉积低应力SiN薄膜工艺,是一种产品致密性好、生长厚度较厚、绝缘性好的PECVD沉积低应力SiN薄膜工艺。本发明经过清洗并烘干基片、在PECVD真空室内升温至150~300℃并保持稳定时,给真空室充入N2稀释的8~12%的SiH4和NH3至1~5Pa,并加上射频功率使其放电,进行沉积分。将沉积完成SiN薄膜的基片放入烘箱内,冲入N2气进行保护,升温,到达280℃后保温,再降温到室温。本发明可以制作出致密性好,绝缘强度高的SiN薄膜,SiN薄膜能够成为结构梁,且薄膜具有应力小和强度高等特点,并可生长到1μm厚。本具有沉积温度低,沉积效率高的优点。
  • pecvd沉积应力sin薄膜工艺
  • [发明专利]等离子体增强式化学气相沉积处理方法-CN03151022.1有效
  • 汪钉崇 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2003-09-18 - 2005-03-23 - C23C16/505
  • 一种等离子体增强式化学气相沉积处理方法,用于在半导体晶片表面上沉积薄膜,包括:稳定化步骤,即向反应炉中通入前驱气体;沉积步骤,即向反应炉中输入射频能,继续通入前驱气体,同时通入反应气体;钝化步骤,即停止通入反应气体,但继续输入射频能;以及抽气步骤,即关闭射频能,停止通入前驱气体,用抽气泵抽出反应炉中的剩余气体;其中,在上述钝化步骤中:射频能与所述沉积步骤的射频能相同或更低;钝化步骤中继续通入前驱气体并持续3-15秒钟;由于本发明增加了钝化步骤,使得晶片薄膜表面上未反应完全的Si键继续反应直至结束,因此能够消除不完全表面反应和悬挂键,从而避免了上覆薄膜中凸块的形成,进而能够消除由此引起的缺陷,提高了产品的合格率。
  • 等离子体增强化学沉积处理方法

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