[发明专利]非易失存储装置及退化检测方法无效

专利信息
申请号: 98120106.7 申请日: 1998-09-29
公开(公告)号: CN1216388A 公开(公告)日: 1999-05-12
发明(设计)人: 武田正树 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: G11C11/04 分类号: G11C11/04;G11C29/00;G11C16/02
代理公司: 中科专利代理有限责任公司 代理人: 刘晓峰
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 非易失 存储 装置 退化 检测 方法
【权利要求书】:

1、一种非易失存储装置,包含:

电可写的第一非易失存储器件;

其特征在于还包含:

电可写且与第一非易失存储器件性能基本相同的第二非易失存储器件;

存储控制器,用于控制第二非易失存储器件的写/读操作,从而每次在第一非易失存储器件中进行写操作时将一预定值写入第二非易失存储器件;及

一比较器,用于将存储在第二非易失存储器件中的值与预定值进行比较。

2、根据权利要求1所述的非易失存储装置,其特征在于通过第一写操作将数据写到第一非易失存储器件,并通过第二写操作将一预定值写到第二非易失存储器件,其中第一和第二写操作包括在一预定时间周期中被顺序设置的一删除相和一写相。

3、根据权利要求2所述的非易失存储装置,其特征在于第二写操作的写相位的时间周期比第一写操作的短。

4、根据权利要求3所述的非易失存储装置,其特征在于第二写操作的删除相位的时间周期比第一写操作的长。

5、根据权利要求2所述的非易失存储装置,其特征在于第二写操作的写相位的时间周期与第一写操作的相同。

6、根据权利要求1所述的非易失存储装置,其特征在于存储控制器在第一非易失存储器件中执行写操作之前执行一预定次数的第二非易失存储器件的写操作。

7、一种非易失存储装置,包含:

第一存储单元阵列,其包括一预定数目的单元存储块,每个单元存储块包括多个每个都电可写的第一非易失存储单元;及

第一存储控制器,其用于控制第一存储单元阵列的指定单元存储块的写/读操作;

其特征在于包含:

第二存储单元阵列,其包括预定数目的第二非易失存储单元,每个第二非易失存储单元都是电可写的且与第一非易失存储单元性能基本相同,其中第二非易失存储单元分别对应于各个单元存储块。

第二存储控制器,用于控制与指定单元存储块对应的第二非易失存储单元的写/读操作,从而,每次在指定单元存储块中进行写操作时将一预定值写到第二非易失存储单元之中;及

一比较器,用于将存储在第二非易失存储单元中的值与预定值进行比较。

8、根据权利要求7所述的非易失存储装置,其特征在于:

通过第一存储控制器控制从而通过第一写操作将数据写入指定的单元存储块;及

通过第二存储器控制从而通过第二写操作将预定值写入第二非易失存储单元之中;

其中第一和第二写操作包括在预定时间周期中顺序设置的删除相及写相位。

9、根据权利要求8所述的非易失存储装置,其特征在于第二写操作的写相位的时间周期比第一写操作的短。

10、根据权利要求9所述的非易失存储装置,其特征在于第二写操作的删除相位的时间周期比第一写操作的长。

11、根据权利要求8所述的非易失存储装置,其特征在于第二写操作的写相位的时间周期与第一写操作的相同。

12、根据权利要求7所述的非易失存储装置,其特征在于还包含:

第三存储控制器,其在第一存储单元阵列中执行写操作前执行一预定次数的第二存储单元阵列的写操作。

13、根据权利要求12所述的非易失存储装置,其特征在于还包含:

一开关,其在第一存储单元阵列中执行一写操作前执行一预定次数的第二存储单元的写操作时用于在第三存储控制器的控制下将第二存储单元阵列与第一存储单元阵列电隔离。

14、一种用于检测电可写的第一非易失存储器件的退化状态的方法,其特征在于包含如下步骤:

执行第二非易失存储器件的写/读操作,其中第二非易失存储器件电可写且与第一非易失存储器件性能基本相同,从而每次在第一非易失存储器件中进行写操作时将一预定值写到第二非易失存储器件;

确定存入第二非易失存储器件中的值是否与预定值相符;及

当存入第二非易失存储器件中的值与预定值不相符时,检测第一非易失存储器件的退化状态。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本电气株式会社,未经日本电气株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/98120106.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

同类专利
  • 非易失存储装置及退化检测方法-98120106.7
  • 武田正树 - 日本电气株式会社
  • 1998-09-29 - 1999-05-12 -
  • 一非易失半导体存储装置包括一存储单元阵列及一检测存储单元阵列,每个检测存储单元与包括多个存储单元的单元存储块相连并与存储单元性能相同,在每次将数据写入相应的单元存储块时,将一预定值写入检测存储单元通过将存储在检测存储器件中的值与预定值进行比较,可检测存储单元的退化状态。
专利分类
×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top