[实用新型]封装基板分层检测装置

说明书

本实用新型公开了一种封装基板分层检测装置，包括：底座，在底座的右侧设置有旋转支架，在旋转支架中转动设置有封装基板夹具，所述封装基板夹具包括：与旋转支架转动连接的第一夹板及与第一夹板滑动连接的第二夹板，在第一夹板上设置有与旋转支架转动连接的转轴，在旋转支架上设置有驱动机构，在第一夹板的左右侧壁的顶端分别向上设置有一个导柱管，在第二夹板的左右两两侧壁的底端分别向下设置有一个导孔，两个导孔分别与两个导柱管滑动配合，在相互滑动配合的导柱管与导孔中设置有一根拉簧；在底座上滑动设置有滑块，在滑块上设置有伸向封装基板夹具方向的显微镜。本实用新型的优点在于：能够提高检测效率及检测效果。

技术领域

本实用新型涉及封装基板分层检测装置。

背景技术

在制造封装基板的过程中需要通过显微镜观察封装基板表面是否有分层，现有的检测装置存在以下缺点1、现有的检测装置中的夹具规格是固定的，一种规格的夹具只能对一种规格的封装基板进行检测，检测不同规格的封装基板时需要更换不同规格的夹具，这样就会影响检测效率；2、现有的显微镜对封装基板不同部位进行检测时，需要通过移动封装基板来调整封装基板的观测位置，由于现有的检测装置中的夹具对封装基板的夹持力不够，在移动过程中容易造成封装基板在夹具中出现偏移的现象，需要重新固定封装基板，影响检测效率；3、现有的检测装置只能正对检测封装基板进行检测，无法倾斜封装基板进行更细致的检测。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种能够提高检测效率及检测效果的封装基板分层检测装置。

为实现上述目的，本实用新型所采用的技术方案是：封装基板分层检测装置，包括：底座，在底座的右侧设置有旋转支架，在旋转支架中转动设置有封装基板夹具，所述封装基板夹具包括：与旋转支架转动连接的第一夹板及与第一夹板滑动连接的第二夹板，在第一夹板的左右两侧外壁上分别设置有一根转轴，转轴转动设置在旋转支架中，在旋转支架上设置有能够驱动封装基板夹具转动的驱动机构，在第一夹板的左右侧壁的顶端分别向上设置有一个导柱管，在两个导柱管中分别设置有第一固定环，在第二夹板的左右两侧壁的底端分别向下设置有一个导孔，在两个导孔中分别设置有第二固定环，两个导孔分别与两个导柱管滑动配合，在相互滑动配合的导柱管与导孔中的第一固定环与第二固定环之间固定设置有一根拉簧；在底座上滑动设置有滑块，在滑块上设置有伸向封装基板夹具方向的显微镜。

进一步的，前述的封装基板分层检测装置，其中，在第一夹板的左右内侧壁及底部内侧壁上分别设置有一个卡槽，在各卡槽中分部设置有一根橡胶胶条，在第二夹板的顶部内侧壁上也设置有一个卡槽，在卡槽中也设置有一根橡胶胶条，第一夹板的左右内侧壁之间的宽度窄于第二夹板的左右内侧壁之间的宽度。

进一步的，前述的封装基板分层检测装置，其中，所述驱动机构包括：减速机，减速机设置在旋转支架的右侧壁上，在减速机的输出轴上设置有主动齿轮，位于第一夹板右侧的转轴向右伸出于旋转支架，在向右伸出于旋转支架的转轴上设置有从动齿轮，从动齿轮与主动齿轮相啮合。

进一步的，前述的封装基板分层检测装置，其中，滑块与底座之间的连接结构为：在底座上设置有一条左右向的第一T型槽、三条与第一T型槽相垂直、且与第一T型槽相交的第二T型槽，第一T型槽与第二T型槽的宽度、及深度均相同，在滑块的底部设置有T型滑块，T型滑块滑动设置在第一T型槽或第二T型槽中。

进一步的，前述的封装基板分层检测装置，其中，在底座的左右两端分别设置有一个第一限位板，两块第一限位板分别挡设在第一T型槽的左右两端；在底座的前后两端分别设置有一个第二限位板，两块第二限位板分别挡设在三个第二 T型槽的前后两端。