[发明专利]非接触电压测量方法、装置、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种非接触电压测量方法，其特征在于，应用于非接触电压测量装置中，所述非接触电压测量包括探头和电压传感组件，所述探头包括第一探头和第二探头，其中：所述第一探头，用于与待测电路耦合形成第一耦合电容；所述第二探头，用于与零线电路耦合形成第二耦合电容；所述电压传感组件分别与所述第一耦合电容和所述第二耦合电容连接，形成电气回路，所述方法包括：

基于参考信号参数向所述电气回路中输入参考电压信号，所述参考电压信号包括第一参考电压信号、第二参考电压信号和第三参考电压信号，其中，所述第一参考电压信号、所述第二参考电压信号和所述第三参考电压信号的幅值相等，所述第一参考电压信号与所述第二参考电压信号同频反相，且所述第一参考电压信号和所述第二参考电压信号与所述待测电路的电压的频率相同相位不同，所述第三参考电压信号与所述待测电路的电压的频率不相同；

检测将所述第一参考电压信号输入至所述电气回路时，所述电气回路中的电流，得到第一电流；检测将所述第二参考电压信号输入至所述电气回路时，所述电气回路中的电流，得到第二电流，检测将所述第三参考电压信号输入至所述电气回路时，所述电气回路中的电流，得到第三电流；

根据所述第一电流、所述第二电流和所述第三电流计算所述待测电路的电压。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一电流、所述第二电流和所述第三电流计算所述待测电路的电压，包括：

根据所述第三电流和所述第一参考电压信号的幅值计算所述电气回路中的等效电容；

根据所述等效电容、所述第一电流和所述第二电流计算所述待测电路的电压。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参考信号参数包括占空比参数，所述基于所述参考信号参数生成参考电压信号，包括：

根据所述占空比参数生成目标方波，并根据所述目标方波生成所述参考电压信号。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述占空比参数包括按序排列的第一占空比参数、第二占空比参数和第三占空比参数，所述根据所述占空比参数生成目标方波，并根据所述目标方波生成所述参考电压信号，包括：

根据所述第一占空比参数、所述第二占空比参数和所述第三占空比参数的顺序，依次根据所述第一占空比参数生成第一目标方波，根据所述第一目标方波生成所述第一参考电压信号；根据所述第二占空比参数生成第二目标方波，根据所述第二目标方波生成所述第二参考电压信号；根据所述第三占空比参数生成第三目标方波，根据所述第三目标方波生成所述第三参考电压信号。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电压传感组件包括参考信号源和分压电容，所述参考信号源与所述第一探头连接，所述分压电容和所述第二探头连接，所述方法还包括：

在所述参考信号源的输出电压为零的情况下，测量所述分压电容上的电压的频率和相位信息；

根据所述频率和相位信息确定对应所述第一参考电压信号的第一频率和第一相位、对应所述第二参考电压信号的第二频率和第二相位以及对应所述第三参考电压信号的第三频率和第三相位；

根据所述第一频率和所述第一相位，所述第二频率和所述第二相位以及所述第三频率和所述第三相位获取所述参考信号参数。