[发明专利]一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法

说明书

本发明涉及芯片测试机技术领域，具体地说是一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法。其特征在于包括如下步骤：S1，备份；S2，根据波形配置文件的参数调用数学函数产生相应的点，将点数据保存为波形文件格式；S3，设置示波器配置文件，通道触发条件；S4，编译器将波形文件编译为中间文档，装载器将中间文档载入AWG中；S5，触发芯片测试机运行；S6，示波器抓取数据，S7，保存数据；S8，恢复芯片测试机的设置和数据；S9，测试。同现有技术相比，在不改变芯片测试机原有测试程序的情况下，动态修改AWG波形数据，并用示波器抓取其波形频率以及通道之间的延时数据，解决了在测试过程中芯片测试机需要重新修改程序的问题，提高了调试效率。

技术领域

本发明涉及芯片测试机技术领域，具体地说是一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法。

背景技术

在一般情况下，在对芯片测试机进行调试时，需要将测试程序写好并编译之后装载到机台硬件，如果想要更改波形数据，必须更改测试程序，然后重新编译，并且重新装载所有的内容，然后再去调试。这种操作流程多了很多没必要的步骤而浪费时间，例如，如果项目文件包含了比较大的Pattern 文件，虽然没有改动项目文件，但是项目文件也需要重新编译和装载的，那么编译、装载整个项目就会花费大量时间。

因此，设计一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法，解决了在测试过程中芯片测试机需要重新修改程序，重新装载程序， 运行许多不相干的测试程序才能动态调试的问题，提高了调试效率。

发明内容

本发明为克服现有技术的不足，提高一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法，在不改变芯片测试机原有测试程序的情况下，动态修改AWG波形数据，并用示波器抓取其波形频率以及通道之间的延时数据，解决了在测试过程中芯片测试机需要重新修改程序，重新装载程序， 运行许多不相干的测试程序才能动态调试的问题，提高了调试效率。

为实现上述目的，设计一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法，其特征在于包括如下步骤：

S1，备份当前芯片测试机的设置和数据；

S2，读取波形配置文件，根据波形配置文件的参数调用相应的数学函数产生相应的点，将产生的点数据保存为波形文件格式；

S3，使用GPIB缆线将示波器和芯片测试机的计算机连接，设置示波器配置文件，并根据示波器配置文件设置示波器通道触发条件；

S4，计算机中的编译器将波形文件编译为装载器可以识别的中间文档，装载器将中间文档载入到芯片测试机的AWG的存储器中；

S5，触发芯片测试机运行，并根据示波器配置文件开启相应通道；

S6，示波器根据设置的触发条件抓取数据，

S7，保存步骤S6中抓取的数据；

S8，根据步骤S1中备份的设置和数据，恢复芯片测试机的设置和数据；

S9，对步骤S7中保存的数据进行测试，判断实际的波形频率、通道之间的延时数据是否满足测试要求；

所述的步骤S9具体包括如下步骤：

S91，在测试配置文件中设置期望的波形频率、期望的延时数据及测试要求；

S92，开始测试，将抓取的波形频率与设置的期望频率比较，判断是否满足测试要求，并记录数据；

S93，将抓取的延时数据与设置的期望延时数据比较，判断是否满足测试要求，并记录数据；

S94，输出步骤S92、S93中的数据及判断结果。