[发明专利]一种有机电致发光显示器的修复方法及存储介质

说明书

本发明为涉及一种有机电致发光显示器的修复方法，包括以下步骤：S01，将上述显示器通电，并降低驱动电路的电压，直至低于所述有机电致发光元件的发光阈值电压；S02，根据所述有机电致发光元件的点亮或熄灭状态，判断所述有机电致发光元件是否为常亮OLED像素；若否，结束；否则，进入下一步；S03，通过显微镜模块定位所述常亮OLED像素的位置；S04，在所述常亮OLED像素上铺盖遮蔽掩膜版；S05，通过辐照模块对所述常亮OLED像素进行辐照。有益效果是：本发明采用非激光烧蚀技术，不会对显示器造成不可逆的影响，遮蔽掩膜板遮挡周围可能受到强光照射影响的像素，以确保周边的像素不因强光照射而产生老化衰减，修复过程更加精准。

技术领域

本发明涉及显示器技术领域，尤其是涉及一种有机电致发光显示器的修复方法。

背景技术

有机电致发光二极管(Organic Light Emitting Diode，简称OLED)具有自发光、对比度高、色域广、制备工艺简单、以及易形成柔性结构等优点，因此，利用有机发光二极管的显示技术已成为一种重要的显示技术。OLED显示器件的像素有一个阈值电压。在这个阈值之上时，OLED像素会被激发开始发光。当激发电流降至阈值以下时，正常工作的OLED将停止发光。而在OLED器件的制备过程中，失效或污染物可能导致一个或多个OLED像素不能正常工作，无论驱动条件如何，少数子像素都保持打开状态，特别是一些OLED像素在激发信号回落至低于阈值水平后还继续发光。这些有缺陷的子像素也称为常亮OLED像素。

在很多应用中，常亮OLED像素是无法接受的。在含有数以百万的像素和子像素的显示器上，很难获得一个零常亮像素或子像素的显示器。一个或者多个常亮OLED像素可能会影响整个OLED显示器件。传统方式是使用激光烧蚀技术，可以修复具有少量常亮缺陷的显示器，但是会对显示结构之上的部分膜层结构造成不可逆的破坏性结果。

发明内容

本发明提供一种可修复的有机电致发光显示器及其修复方法、存储介质，以解决现有技术中的针对常亮OLED像素修复困难的问题。

本发明所解决的技术问题采用以下技术方案来实现：

一种有机电致发光显示器的修复方法，包括以下步骤：

S01，将上述显示器通电，并降低驱动电路的电压，直至低于所述有机电致发光元件的发光阈值电压；

S02，根据所述有机电致发光元件的点亮或熄灭状态，判断所述有机电致发光元件是否为常亮OLED像素；若否，结束；否则，进入下一步；

S03，通过显微镜模块定位所述常亮OLED像素的位置；

S04，在所述常亮OLED像素上铺盖遮蔽掩膜版；

S05，通过辐照模块对所述常亮OLED像素进行辐照，之后返回步骤S02，继续判断所述有机电致发光元件是否为常亮OLED像素，直至所述显示器的没有任何缺陷的有机电致发光元件。

进一步的，在所述辐照模块发射的辐照光波的作用下，所述常亮OLED像素迅速衰减老化并成为不通透状态，当其被点亮时，形成暗色光源。

进一步的，所述遮蔽掩膜版上具有孔，所述孔的直径不大于所述常亮OLED像素的面积，所述孔的周边为不通透结构，以防止辐照光波影响相邻的有机电致发光元件。

进一步的，所述孔的直径为10μm-100μm。

进一步的，所述孔的形状为圆形或矩形。

进一步的，所述辐照光波的波长为405nm的绿光，488nm的蓝光，或551/555nm的红光。

进一步的，所述辐照光波的波长为365nm的紫外光。

进一步的，所述显微镜模块包括高精度、高分辨率的图像采集系统(CCD)，所述图像采集系统的分辨率为2000W像素以上。