[发明专利]一种半导体硅片用电阻检测分类装置在审

专利信息
申请号: 202110024881.0 申请日: 2021-01-08
公开(公告)号: CN112871758A 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 祝凯 申请(专利权)人: 开化晶芯电子有限公司
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344;B07C5/38;B08B5/04
代理公司: 温州青科专利代理事务所(特殊普通合伙) 33390 代理人: 虞乘乘
地址: 324300 浙江省衢州市开*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 硅片 用电 检测 分类 装置
【说明书】:

发明公开了一种半导体硅片用电阻检测分类装置,属于半导体硅片技术领域,包括底箱、除尘机构、夹紧机构,所述底箱的正面两端设有防护门,所述防护门的表面右侧安装门扣,所述底箱的顶部安装壳体,所述除尘机构包括检测机构、灰尘收纳箱、排尘口、抽气泵、吸尘头、吸尘管,所述检测机构包括气缸、安装板、安装壳、传感器、检测探头,本发明通过设置除尘机构,可以使在进行对半导体硅片进行检测时,会使检测的准确性提高,从而降低过多的损失,也起到提高一定的检测效率。

技术领域

本发明属于半导体硅片技术领域,具体涉及一种半导体硅片用电阻检测分类装置。

背景技术

半导体硅片是一类具有半导体性能,用来制作半导体器件的硅材料,主要包括硅粉、硅棒、硅片、籽晶、单晶硅、多晶硅、半导体晶体管、单晶硅棒、单晶硅片、单晶硅切磨片、单晶硅抛光片、单晶硅外延片、单晶硅太阳能电池板、单晶硅芯片、砷化镓、单晶锗、太阳能电池圆片、方片、二级管、三级管、硅堆、复合半导体器件、微波射频器件、可控硅器件、高频管、低频管、功率管、MOS管、集成电路等等。

目前,在进行对半导体硅片进行电阻检测途中,由于硅片上的表面所残留的积尘,会使使检测的数值不准确,易造成不必要的损失,且由于检测完后,需要把合格与不合格的半导体硅片进行分类,这个过程通常是由人工来完成的,从而导致检测效率低。

发明内容

本发明的目的在于提供一种半导体硅片用电阻检测分类装置,通过设置除尘机构,可以使在进行对半导体硅片进行检测时,会使检测的准确性提高,从而降低过多的损失,也起到提高一定的检测效率,通过设置夹紧机构,可以使当检测出不合格的产品时,通过其进行对其产品夹住,从而移动到不合格存放箱中,从而减轻人工分类的工作量,也提高了分类的效率;通过设置防护棉,可使在进行对半导体硅片进行夹紧分类时,对其起到一定的保护性,防止在夹紧时,使其造成损坏,避免造成经济损失,通过设置传感器,可使在通过检测探头进行检测的数值通过传输到终端,从而保障了数值的准确性。

以解决上述背景技术中提出现有技术中的问题。

为实现上述目的,本发明采用了如下技术方案:

一种半导体硅片用电阻检测分类装置,包括底箱、除尘机构、夹紧机构,所述底箱的正面两端设有防护门,所述防护门的表面右侧安装门扣,所述底箱的顶部安装壳体,所述除尘机构包括检测机构、灰尘收纳箱、排尘口、抽气泵、吸尘头、吸尘管,所述检测机构包括气缸、安装板、安装壳、传感器、检测探头,所述夹紧机构包括电机、第一螺纹杆、第一轴承、第一滑块、第一电动伸缩杆、安装块、第二电动伸缩杆、放置壳、马达、第二滑块、第二螺纹杆、第二轴承、固定夹爪、移动夹爪、防护棉。

优选的,所述底箱的顶部中心安装检测台,所述检测台的顶部两端固定安装固定块,所述底箱的内部两端分别设有合格存放箱与不合格存放箱,所述合格存放箱的右侧安装第一出料口,所述不合格存放箱的左侧安装第二出料口。

优选的,所述壳体内的底部部两端固定电机,所述电机的输出端活动连接第一螺纹杆,所述第一螺纹杆的另一端活动连接第一轴承,所述第一螺纹杆的表面螺纹连接第一滑块。

优选的,所述第一滑块的右侧固定第一电动伸缩杆,所述第一电动伸缩杆的另一端固定安装块,所述安装块的顶部固定第二电动伸缩杆,所述第二电动伸缩杆连通安装块的另一端固定放置壳。

优选的,所述放置壳的右侧安装马达,所述马达的输出端活动连接第二螺纹杆,所述第二螺纹杆的另一端活动连接第二轴承,所述第二螺纹杆的表面螺纹连接第二滑块,所述第二滑块的底部通过连杆固定移动夹爪,所述放置壳的底部右端安装固定夹爪,所述移动夹爪与固定夹爪的内侧安装防护棉。

优选的,所述壳体的内部上方固定气缸,所述气缸的输出端固定安装板。

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