[发明专利]图像处理方法及装置、电子设备和存储介质有效

专利信息
申请号: 201910060238.6 申请日: 2019-01-22
公开(公告)号: CN109829863B 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 周尚辰;张佳维;任思捷 申请(专利权)人: 深圳市商汤科技有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T5/50;G06T7/50;G06N3/04
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 518054 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 图像 处理 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种图像处理方法,其特征在于,包括:

获取双目图像,其中,所述双目图像包括针对同一对象在同一场景下拍摄的第一图像和第二图像;

获得所述双目图像的第一特征图、所述双目图像的第一深度图,以及融合所述双目图像的图像特征和深度特征的第二特征图;

对所述双目图像、所述双目图像的第一特征图、第一深度图以及所述第二特征图进行特征融合处理,得到所述双目图像的融合特征图;

对所述双目图像的融合特征图执行优化处理,得到去模糊处理后的双目图像;

所述对所述双目图像的融合特征图执行优化处理,得到去模糊处理后的双目图像,包括:

分别对所述双目图像的融合特征图执行卷积处理,得到所述去模糊处理后的双目图像。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获得所述双目图像的第一特征图,包括:

对所述第一图像和第二图像分别执行第一卷积处理,得到所述第一图像和第二图像分别对应的第一中间特征图;

对所述第一图像和第二图像的所述第一中间特征图分别执行第二卷积处理,得到所述第一图像和第二图像分别对应的多尺度的第二中间特征图;

对所述第一图像和第二图像的各尺度的第二中间特征图分别执行残差处理,得到所述第一图像和第二图像分别对应的第一特征图。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述双目图像的第一图像和第二图像分别执行第一卷积处理,得到所述第一图像和第二图像分别对应的第一中间特征图,包括:

利用第一预设卷积核以及第一卷积步长分别对所述第一图像和第二图像分别执行卷积处理,得到所述第一图像和第二图像分别对应的第一中间特征图。

4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述对所述第一图像和第二图像的所述第一中间特征图分别执行第二卷积处理,得到所述第一图像和第二图像分别对应的多尺度的第二中间特征图,包括:

分别按照预设的多个不同的第一空洞率,对所述第一图像和第二图像的所述第一中间特征图执行卷积处理,得到与该多个第一空洞率分别对应的第二中间特征图。

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述第一图像和第二图像的各尺度的第二中间特征图分别执行残差处理,得到所述第一图像和第二图像分别对应的第一特征图,包括:

分别连接所述第一图像的多个尺度的第二中间特征图得到第一连接特征图,以及分别连接第二图像的多个尺度的第二中间特征图得到第二连接特征图;

分别对所述第一连接特征图和第二连接特征图执行卷积处理;

对所述第一图像的第一中间特征图和卷积处理后的第一连接特征图执行相加处理,得到第一图像的第一特征图,以及对所述第二图像的第一中间特征图和卷积处理后的第二连接特征图执行相加处理,得到所述第二图像的第一特征图。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获得所述双目图像的第一深度图,以及融合所述双目图像的图像特征和深度特征的第二特征图,包括;

将所述第一图像和第二图像进行组合,形成组合视图;

对所述组合视图执行至少一层第三卷积处理得到第一中间深度特征图;

对所述第一中间深度特征图执行第四卷积处理,得到多个尺度的第二中间深度特征图;

对所述第二中间深度特征与所述第一中间深度图执行残差处理,分别得到所述第一图像和第二图像的第一深度图,以及根据任意一层第三卷积处理获得所述第二特征图。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述对所述组合视图执行至少一层第三卷积处理得到第一中间深度特征图,包括:

利用第二预设卷积核以及第二卷积步长对所述组合视图执行至少一次卷积处理,得到所述第一中间深度特征图。

8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述对所述第一中间深度特征图执行第四卷积处理,得到多个尺度的第二中间深度特征图,包括:

分别按照预设的多个不同的第二空洞率,对所述第一中间深度特征图执行卷积处理,得到与该多个第二空洞率分别对应的第二中间深度特征图。

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