[发明专利]产品质量检测方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种产品质量检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测产品的原始图像以及与所述待检测产品对应的二值化阈值；

根据所述二值化阈值对所述原始图像进行二值化处理；

对于二值化处理后的图像中的第一像素点，若与所述第一像素点相邻的多个第二像素点中与所述第一像素点的二值化值不同的第二像素点个数大于第一预设数值，则改变位于所述多个第二像素点中心的所述第一像素点的二值化值，以实现去噪处理；

确定去噪处理后的图像中是否存在由预设二值化值的像素点构成的划痕，其中，所述预设二值化值由去噪处理后的图像中二值化值对应的像素点个数决定，像素点个数最少的二值化值为所述预设二值化值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定去噪处理后的图像中是否存在由预设二值化值构成的划痕，包括：

确定所述去噪处理后的图像中是否含有由预设二值化值构成的连续区域；

若含有所述连续区域，并且所述连续区域中包含的像素点个数大于第二预设数值，则确定所述去噪处理后的图像中含有划痕。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述连续区域中包含的像素点个数大于所述第二预设数值的程度，确定所述划痕的严重等级。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述获取与所述待检测产品对应的二值化阈值，包括：

将所述原始图像转为灰度图像；

分别针对所述灰度图像中的任一灰度值，计算小于所述任一灰度值的第一类像素点的灰度均值和方差，以及计算大于或等于所述任一灰度值的第二类像素点的灰度均值和方差；

根据所述第一类像素点的数量、第二类像素点的数量以及所述灰度图像中像素的总数量，分别计算所述第一类像素点和所述第二类像素点的概率；

根据如下函数计算所述任一灰度值对应的阈值参量：

其中，λ为预设权重值，0λ1，ψ为所述任一灰度值的阈值参量，μ₁为所述第一类像素点的灰度均值，所述μ₂为所述第二类像素点的灰度均值，σ₁²为所述第一类像素点的方差，σ₂²为所述第二类像素点的方差，p₁为所述第一类像素点的概率，p₂为所述第二类像素点的概率；

从全部灰度值中确定阈值参量中最大值对应的灰度值为所述二值化阈值。

5.一种产品质量检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取待检测产品的原始图像以及与所述待检测产品对应的二值化阈值；

二值化模块，用于根据所述二值化阈值对所述原始图像进行二值化处理；

去噪模块，用于对于二值化处理后的图像中的第一像素点，若与所述第一像素点相邻的多个第二像素点中与所述第一像素点的二值化值不同的第二像素点个数大于第一预设数值，则改变位于所述多个第二像素点中心的所述第一像素点的二值化值，以实现去噪处理；

划痕确定模块，用于确定去噪处理后的图像中是否存在由预设二值化值的像素点构成的划痕，其中，所述预设二值化值由去噪处理后的图像中二值化值对应的像素点个数决定，像素点个数最少的二值化值为所述预设二值化值。

6.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器，以及与所述存储器连接的处理器；

所述存储器，用于存储一条或多条计算机指令，其中，所述一条或多条计算机指令供所述处理器调用执行；

所述处理器，用于执行所述一条或多条计算机指令以实现权利要求1至4中任一项所述的方法。