[发明专利]一种基于PDMS振膜的MEMS静电执行器及制作方法在审

专利信息
申请号: 201710403984.1 申请日: 2017-06-01
公开(公告)号: CN107215845A 公开(公告)日: 2017-09-29
发明(设计)人: 魏峰;赵鸿滨;苑鹏;杨志民;杜军;徐瑶华 申请(专利权)人: 北京有色金属研究总院
主分类号: B81B7/02 分类号: B81B7/02;B81C1/00;F04B43/04
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司11246 代理人: 朱琨
地址: 100088 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 pdms mems 静电 执行 制作方法
【说明书】:

技术领域

发明属于微机电系统(MEMS)技术领域,具体涉及一种基于PDMS振膜的MEMS静电执行器及制作方法。

背景技术

随着静电驱动方法在MEMS器件中被广泛采用,静电式执行器成为一种重要的驱动器件。其工作原理系利用异性电荷间产生的库仑力作用而产生的机械运动。静电执行器可以采用全Si的工艺,并且能够与IC工艺相兼容,在批量化生产上有很大的优势,且其驱动力较大、功耗低,有很大的应用前景。

基于静电驱动的MEMS微型泵是微流体系统中的关键部件,微泵作为微流体系统的执行部件,在生物、化学、医疗、检疫以及国防等方面构建微分析系统(μTAs)有着广泛的用途。

采用静电驱动可以获得较高的驱动频率,其具有能耗低(一般为毫瓦级)、振动膜片形变易于控制、响应时间短等特点。但是,静电驱动也有驱动电压高(一般大于50V),这与IC电路所用的低电压不兼容;此外,微泵中还需要防止电路短路的绝缘膜,通常需要采用造价昂贵的SOI片作为原材料,大大增加了制造成本。

本发明提出了采用基于PDMS材料作为振膜的MEMS静电执行器,其工艺简单、材料成本远低于Si,且其生物兼容性好。因其弹性模量相对Si薄膜小,可在较低的驱动电压下工作,在生物检测等领域具有较强应用前景。

发明内容

本发明针对传统静电执行器中制造材料昂贵、工艺较为复杂的的问题,提供了一种基于PDMS振膜的MEMS静电执行器及制作方法,该MEMS静电执行器由复合振动薄膜层、下电极层和硅结构层组成,其特征在于,复合振动薄膜层由两层PDMS薄膜层中间夹一层导电薄膜层组成。

所述的PDMS薄膜具有较好弹性,其厚度为100-300微米。

所述复合振动薄膜层中的导电薄膜层为金属或导电氧化物、导电聚合物中的一种。

所述下电极层为非本征半导体的Si薄膜,其厚度为1-100微米。

所述下电极层的上、下界面层分别为绝缘性的薄膜层,以保护下电极层在静电驱动工作时不形成漏电。

所述绝缘性的薄膜层为氧化硅、氧化铝绝缘薄膜材料中的一种。

一种基于PDMS振膜的MEMS静电执行器的制备方法,包括如下步骤:

(1)PDMS薄膜的制备,PDMS按照交联剂与固化剂5:1~15:1的比例混合、固化;

(2)PDMS振膜图形化,采用UV软刻蚀或激光切割等方式对PDMS进行加工;

(3)PDMS膜沉积金属电极层;

(4)沉积绝缘薄膜以使金属电极层有效隔离;

(5)与下电极层通过有机物粘接。

附图说明

图1为基于PDMS振膜的MEMS静电执行器的结构示意图;

01为第一PDMS薄膜层,02为上电极层,03为第二PDMS薄膜层,04为第一绝缘氧化硅,05为硅电极层,06为第二绝缘氧化硅层,07为Si结构层。

具体实施方式

本发明提供了一种基于PDMS振膜的MEMS静电执行器及制作方法,下面结合附图对本发明进一步说明。

一种基于PDMS振膜的MEMS静电执行器,如图1所示,01为第一PDMS薄膜层,02为上电极层,03为第二PDMS薄膜层,04为第一绝缘氧化硅,05为硅电极层,06为第二绝缘氧化硅层,07为Si结构层,上电极的下表面和凹面电极的上表面之间形成闭合运动空间。

所述上电极层02可为金属或导电氧化物、导电聚合物层。其上、下层分别为具有弹性和绝缘性能的PDMS薄膜01、03,以保护上电极02。

所述下电极05为硅薄膜层,其厚度为10-200微米。其下层为具有绝缘性能的氧化硅薄膜04、07,以保护下电极05形成绝缘层。

所述硅层07为起到支撑作用的Si层。

实施例

一种基于PDMS振膜的MEMS静电执行器的制作方法,包括下述步骤:

首先在双面抛光Si上旋涂PDMS,其配比为10:1。然后经真空干燥箱内固化。

在固化好的PDMS薄膜(01)上采用电子束蒸发沉积Au电极层(02)。然后再旋涂PDMS,其配比为10:1。经真空干燥箱内固化,形成PDMS薄膜(03),薄膜厚度为100微米。采用激光切割或模板对PDMS进行刻蚀,以形成电极区域。

采用背面光刻、并对Si进行刻蚀实现泵腔的制备,完成泵腔与PDMS振膜的组装。

选取表面氧化层厚度为300纳米的双面抛光Si硅片用以制作下电极。首先在下电极区域刻蚀振膜腔体,腔体深度为50-100微米。

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