[发明专利]修复控制器件及包括其的半导体器件有效
申请号: | 201710307834.0 | 申请日: | 2017-05-04 |
公开(公告)号: | CN108074620B | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 李雪熙;李康说 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人: | 任静;许伟群 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 修复 控制 器件 包括 半导体器件 | ||
1.一种用于被划分为多个存储体的存储单元的修复控制器件,包括:
故障地址储存电路,其被配置为根据故障行地址对多个故障地址进行分类和储存,每个故障地址包含故障存储体地址和故障行地址,以及通过将故障行地址与表示由所述故障行地址指示的一个或更多个故障存储体的全部故障存储体信息进行匹配来储存所述故障行地址;
地址比较电路,其被配置为将输入地址与储存在故障地址储存电路中的包括故障行地址与全部故障存储体信息的对进行比较,以及基于比较结果来产生命中信号;以及
地址发生电路,其被配置为基于命中信号来产生访问目标地址。
2.如权利要求1所述的修复控制器件,其中,故障地址储存电路包括:
故障地址转换器,其被配置为将故障存储体地址转换为由故障地址指示的故障存储体指示信号,以及基于故障存储体指示信号来设置全部故障存储体信息;以及
熔丝组锁存器阵列,其被配置为储存全部故障存储体信息与故障行地址的对。
3.如权利要求2所述的修复控制器件,其中,熔丝组锁存器阵列包括用于储存全部故障存储体信息的全部故障存储体信息区域以及用于储存故障行地址的故障行地址区域。
4.如权利要求3所述的修复控制器件,其中,全部故障存储体信息区域具有分别与所述多个存储体相对应的比特位。
5.如权利要求4所述的修复控制器件,其中,故障地址转换器使能全部故障存储体信息区域的比特位,所述比特位对应于故障存储体指示信号。
6.如权利要求5所述的修复控制器件,其中,故障地址转换器基于通过解码故障存储体地址而获得的结果来使能全部故障存储体信息区域中的与故障存储体指示信号相对应的比特位。
7.如权利要求1所述的修复控制器件,其中,输入地址包括输入存储体地址和输入行地址,以及
地址比较电路包括输入地址转换器,所述输入地址转换器被配置为将输入存储体地址转换成由输入地址指示的输入存储体指示信号。
8.如权利要求7所述的修复控制器件,其中,输入地址转换器基于通过解码输入存储体地址而获得的结果来产生输入存储体指示信号。
9.如权利要求8所述的修复控制器件,其中,当输入存储体指示信号与全部故障存储体信息相对应并且输入行地址与储存在故障地址储存电路中的故障行地址相对应时,地址比较电路使能命中信号。
10.如权利要求1所述的修复控制器件,其中,地址发生电路包括:
地址转换器,其被配置为基于命中信号来产生修复地址和修复使能信号;以及
地址选择器,其被配置为基于修复使能信号来选择输入地址或修复地址作为访问目标地址。
11.如权利要求10所述的修复控制器件,其中,当命中信号被使能时,地址转换器使能修复使能信号。
12.如权利要求11所述的修复控制器件,其中,当修复使能信号被使能时,地址选择器选择修复地址作为访问目标地址。
13.如权利要求11所述的修复控制器件,其中,当修复使能信号被禁止时,地址选择器选择输入地址作为访问目标地址。
14.一种半导体器件,包括:
非易失性存储器,其被配置为储存多个故障地址,每个故障地址包含故障存储体地址和故障行地址;以及
修复控制器件,其被配置为根据故障行地址对从非易失性存储器输出的故障地址进行分类和储存,其中,修复控制器件将故障行地址与表示由所述故障行地址指示的一个或更多个故障存储体的全部故障存储体信息进行匹配,以及储存所述故障行地址。
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