[发明专利]一种避免倒装芯片固晶漏电的方法在审

专利信息
申请号: 201710304815.2 申请日: 2017-05-03
公开(公告)号: CN107464873A 公开(公告)日: 2017-12-12
发明(设计)人: 李华楠;潘尧波;关承浩;王党杰 申请(专利权)人: 合肥彩虹蓝光科技有限公司
主分类号: H01L33/62 分类号: H01L33/62
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙)31219 代理人: 王华英
地址: 230011 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 避免 倒装 芯片 漏电 方法
【权利要求书】:

1.一种避免倒装芯片固晶漏电的方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)提供一LED支架碗杯,所述LED支架碗杯包括一正极焊盘和一负极焊盘,所述正极焊盘与所述负极焊盘之间设置有隔离带;在所述隔离带表面上点和/或涂紫外胶;

2)在所述正极焊盘和所述负极焊盘表面上分别点和/或涂导电银胶或锡膏;

3)将芯片与所述导电银胶、所述紫外胶的表面粘合,然后压实;或者,将芯片与所述锡膏、所述紫外胶的表面粘合,然后压实;

4)对步骤3)获得的结构进行紫外光照射,直至所述紫外胶固化;

5)对步骤4)获得的结构进行烘烤使所述导电银胶或所述锡膏固化。

2.根据权利要求1所述的避免倒装芯片固晶漏电的方法,其特征在于,在步骤1)中,采用点胶机进行点和/或涂所述紫外胶。

3.根据权利要求1或2所述的避免倒装芯片固晶漏电的方法,其特征在于,在步骤1)中,所述紫外胶的形状包括不连续的点状、椭圆形、方形和圆角矩形的任意一种。

4.根据权利要求1所述的避免倒装芯片固晶漏电的方法,其特征在于,在步骤2)中,采用点胶机进行点和/或涂所述导电银胶或所述锡膏。

5.根据权利要求1所述的避免倒装芯片固晶漏电的方法,其特征在于,在步骤2)中,所述导电银胶为各向同性导电银胶,其固化温度为130-150℃。

6.根据权利要求1或4所述的避免倒装芯片固晶漏电的方法,其特征在于,在步骤2)中,所述导电银胶的形状包括不连续的点状、椭圆形、方形和圆角矩形中的任意一种或者组合;或者,所述锡膏的形状包括不连续的点状、椭圆形、方形和圆角矩形中的任意一种或者组合。

7.根据权利要求1所述的避免倒装芯片固晶漏电的方法,其特征在于,以垂直于所述正极焊盘和所述负极焊盘中心连线的方向为长度方向,所述紫外胶的长度大于所述导电银胶或所述锡膏的长度。

8.根据权利要求1所述的避免倒装芯片固晶漏电的方法,其特征在于,在步骤3)中,所述紫外光的波长为365nm,光强度值为70-95mw/cm2,照射时间为9-30s。

9.根据权利要求1所述的避免倒装芯片固晶漏电的方法,其特征在于,在步骤5)中,当使所述导电银胶固化时,所述烘烤条件为:在25-35min内将温度升至140-160℃,保持25-35min,然后在25-35min内将温度升至200-220℃,保持25-35min。

10.如权利要求1至7任一所述的避免倒装芯片固晶漏电的方法,其特征在于,在步骤5)中,当使所述导电银胶固化时,所述烘烤条件为:在25-35min内将温度升至140-160℃,保持55-65min。

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