[发明专利]低电流测量电路及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201710142751.0 申请日: 2017-03-10
公开(公告)号: CN108572273B 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 杨家奇 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 电流 测量 电路 及其 测量方法
【说明书】:

发明提供一种低电流测量电路及其测量方法,其通过将被测电路的输出端与电阻模块以及第一电压源串联相接,使得测得该电阻模块的两端电压及其总阻值便可得到流经该电阻模块的电流,即被测电路的被测电流,其中电阻模块的总阻值及第一电压源的电压容易得知,被测电路的输出端的电压通过比较电路得到,具体方法为,将被测电路的输出端与比较电路连接,不断调节第一电压源的电压大小,当被测电路输出比较信号时,表明该比较电路中第二电压源的电压即为被测电路的输出端的电压。该低电流测量电路分散了电压的测量点,使被测电路中的低电流测量成为可能,且测量方法简单,显著降低了低电流测量电路的操作难度。

技术领域

本发明涉及电路设计领域,尤其涉及一种低电流测量电路及其测量方法。

背景技术

随着穿戴式电子的技术演进,低功耗电子产品应用越来越广泛,也显得越来越重要。而低功耗产品由于其低功耗电路的设计,使其产生的电流微乎其微,要测量十分困难,这对于前期测试及后期修理来说都有所不利,对测量设备的要求也非常苛刻。

现有的低电流测量设备一般直接使用传统的仪器测量方式,使用这种方法进行测量则被分流去测试线路的电流会影响产品本身电路中的电流,导致预测量区域的电流产生严重变化,最后发生测量不正确或无法测量的问题。

在另一种测量方式中,通过组合许多同类型的被测电路,并测量其总和电流,再除以被测电路数量以求得被测电流的平均值,但这种测量方法只能测得被测电路的电流平均值,无法侦测其电流的变化。

现有技术中还有利用微探针来进行低电流的方法,但这种方法仍无法进行实时监测,无法获取大量的电流样本以侦测电流的变化。

发明内容

本发明提供一种低电流测量电路及其测量方法,采用了分散测量点的方式测量与被测电路串联的电阻模块的两端电压,以使被测电路中的低电流测量成为可能。

为了达到上述目的,本发明提供一种低电流测量电路,其包括电阻模块、第一电压源和比较电路,所述电阻模块的两端分别接入一被测电路的输出端和所述第一电压源,所述比较电路将所述被测电路的输出端的电压与一第二电压源的电压相比较,并在所述被测电路的输出端的电压和第二电压源的电压相等时输出一比较信号。

可选的,所述电阻模块包括第一电阻,所述第一电阻的两端分别接入所述被测电路的输出端和所述第一电压源。

可选的,所述电阻模块包括由若干电阻串联相接组成的电阻组,所述电阻组的两端分别接入所述被测电路的输出端和所述第一电压源。

可选的,所述电阻组由若干等阻值的电阻串联相接组成。

可选的,所述第一电压源为可变电压源。

可选的,所述比较电路包括比较器,所述比较器的两个输入端分别接入所述被测电路的输出端和所述第二电压源,并在所述被测电路的输出端的电压和第二电压源的电压相等时输出所述比较信号。

可选的,所述被测电路的输出端接入所述比较器的负极,所述第二电压源接入所述比较器的正极,所述比较信号为高电平。

可选的,所述被测电路的输出端接入所述比较器的正极,所述第二电压源接入所述比较器的负极,所述比较信号为高电平。

可选的,所述比较电路还包括第二电阻,所述第二电阻的两端分别接入所述被测电路的输出端和所述第二电压源。

可选的,所述低电流测量电路还包括第三电压源,所述被测电路的输出端接入所述第三电压源。

可选的,所述第三电压源为可变电压源。

本发明还提供一种上述低电流测量电路的测量方法,其包括:

获取所述电阻模块的总阻值;

为所述第一电压源预设一个初始电压值;

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