[发明专利]监视厚度均匀性

权利要求书

1.一种用于监视厚度均匀性的系统(100，213，300，400，520，622)，包括：

发射器(102，202，302，402，502，602)，配置成在材料(106，206，306，406，506，606)正在移动时发射信号(104，204，304，404)通过材料(106，206，306，406，506，606)的一部分；

衰减器(110，210)，其被配置成吸收发射信号(104，204，304，404)的第一部分(104-1，104-2，204-1)；

反射器(108，208，308，408)，其被配置成反射发射信号(104，204，304，404)的第二部分(104-3，204-2)；

接收器(112，212，412，512，612)，其被配置成接收反射信号(104-3，204-2)；和

计算设备(724)，其被配置成基于信号(104，204，304，404)的发射和反射信号(104-3，204-2)的接收之间的时间延迟来确定该部分材料(106，206，306，406，506，606)的厚度。

2.根据权利要求1的系统(100，213，300，400，520，622)，其中材料(106，206，306，406，506，606)是传送带(106，206，306，406，506，606)。

3.根据权利要求1的系统(100，213，300，400，520，622)，其中发射器(102，202，302，402，502，602)和反射器(108，208，308，408)位于该部分材料(106，206，306，406，506，606)的相反侧。

4.根据权利要求1的系统(100，213，300，400，520，622)，其中发射器(102，202，302，402，502，602)和反射器(108，208，308，408)位于该部分材料(106，206，306，406，506，606)的相同侧。

5.根据权利要求1的系统(100，213，300，400，520，622)，其中发射信号(104，204，304，404)的第一部分(104-1，104-2，204-1)对应于被材料(106，206，306，406，506，606)的表面朝向衰减器(110，210)反射的发射信号(104，204，304，404)的一部分。

6.根据权利要求1的系统(100，213，300，400，520，622)，其中计算设备(724)被配置成基于如下来确定材料(106，206，306，406，506，606)的厚度：

信号(104，204，304，404)的发射和反射信号(104-3，204-2)的接收之间的时间延迟；和

第二信号(104，204，304，404)的发射和反射的第二信号(104-3，204-2)的接收之间的时间延迟，其中第二信号(104，204，304，404)不通过该部分材料(106，206，306，406，506，606)。

7.根据权利要求6的系统(100，213，300，400，520，622)，其中发射器(102，202，302，402，502，602)被配置成朝向超过材料(106，206，306，406，506，606)的外边缘的反射器(108，208，308，408)的一部分(314，414)发射第二信号(104，204，304，404)。

8.根据权利要求2的系统(100，213，300，400，520，622)，其中传送带(106，206，306，406，506，606)包括金属增强物(207)，并且其中在被反射器(108，208，308，408)反射之前，发射信号(104，204，304，404)被反射离开金属增强物(207)。

9.根据权利要求1的系统(100，213，300，400，520，622)，其中反射器(108，208，308，408)的表面具有被配置成使反射信号(104-3，204-2)聚焦的曲率的半径。

10.根据权利要求1的系统(100，213，300，400，520，622)，其中在材料(106，206，306，406，506，606)正在移动时，发射器(102，202，302，402，502，602)被配置成跨材料(106，206，306，406，506，606)的宽度来发射相应的信号(104，204，304，404)通过材料(106，206，306，406，506，606)的多个部分中的每个。