[发明专利]用于晶片级器件辐射效应试验的X射线辐照测试设备在审
| 申请号： | 201610516216.2 | 申请日： | 2016-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN106199372A | 公开（公告）日： | 2016-12-07 |
| 发明（设计）人： | 李豫东;于新;于刚;文林;何承发;郭旗 | 申请（专利权）人： | 中国科学院新疆理化技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/265 | 分类号： | G01R31/265;G01R31/303 |
| 代理公司： | 乌鲁木齐中科新兴专利事务所 65106 | 代理人： | 张莉 |
| 地址： | 830011 新疆维吾尔*** | 国省代码： | 新疆;65 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 晶片 器件 辐射 效应 试验 射线 辐照 测试 设备 | ||
【权利要求书】：
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