[实用新型]一种带栅极保护的IGBT器件有效
申请号: | 201320085846.0 | 申请日: | 2013-02-25 |
公开(公告)号: | CN203103298U | 公开(公告)日: | 2013-07-31 |
发明(设计)人: | 杨林;严向阳 | 申请(专利权)人: | 佛山市蓝箭电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L25/065 | 分类号: | H01L25/065;H01L29/739 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 艾持平 |
地址: | 528051 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 栅极 保护 igbt 器件 | ||
本实用新型涉及半导体制造的技术领域,特别是通过改进产品结构实现栅极ESD保护的IGBT器件。
IGBT是Insulated Gate Bipolar Transistor的缩写,意为绝缘栅双极型晶体管。IGBT是由BJT(双极型晶体管)与MOSFET(绝缘栅型场效应晶体管)组成的复合全控型电压驱动式电子器件。该器件具有开关频率高、输入阻抗较大、热稳定性好、驱动电路简单、低饱和电压及大电流等特性,被作为功率器件广泛应用于交流电机、变频器、开关电源、照明电路、牵引传动、数码相机、电磁加热设备、UPS、电焊机、风力发电等工业控制和电力电子系统领域中。
IGBT器件由三个电极组成,分别是栅极G、集电极C和发射极E。其中栅极G的氧化层很薄,能承受的电压值非常有限,且与PN结不同的是,氧化层一旦击穿则无法恢复。在实际的生产、应用中,常有被静电(ESD)、尖峰、浪涌等过电压击穿导致的IGBT器件失效现象的出现,器件使用者往往只能从外围电路通过增加元器件、调整线路等措施进行改善、解决,导致整体电路复杂化、使用成本高、装配效率低。
鉴于上述现有技术存在的问题,本实用新型旨在提出一种带栅极保护的IGBT器件,可简化外围电路、降低使用成本、提高装配效率的同时,避免因静电、脉冲尖峰、浪涌导致的失效现象发生,提高产品的可靠性。
为了解决上述技术问题,本实用新型采用了下述技术方案:
一种带栅极保护的IGBT器件,由三个电极组成,分别是栅极G、集电极C和发射极E,其特征是,在IGBT器件的栅极G与发射极E之间并联有双向稳压二极管D,该双向稳压二极管D与IGBT器件封装在一起。进一步地,所述双向稳压二极管D的阳极相向对接,将加在栅极G与发射极E间的正反向电压箝位。双向稳压二极管(D)的击穿电压(VZ)按IGBT器件的栅极(G)与发射极(E)之间的驱动电压(UGE)的1.1倍和IGBT器件的栅极(G)与发射极(E)之间可承受的极限电压(VGES)的0.9倍之间取值,即VZ=1.1UGE~0.9VGES。
一种带栅极保护的IGBT器件,由三个电极组成,分别是栅极G、集电极C和发射极E,其特征是,在IGBT器件的栅极G与发射极E之间并联有双向稳压二极管D,该双向稳压二极管D与IGBT器件封装在一起。进一步地,所述双向稳压二极管D的阳极相向对接,将加在栅极G与发射极E间的正反向电压箝位。双向稳压二极管(D)的击穿电压(VZ)按IGBT器件的栅极(G)与发射极(E)之间的驱动电压(UGE)的1.1倍和IGBT器件的栅极(G)与发射极(E)之间可承受的极限电压(VGES)的0.9倍之间取值,即VZ=1.1UGE~0.9VGES。
本实用新型具有以下有益效果:1、采用复合封装结构,将IGBT器件与双向稳压二极管以并联的方式封装在一起,形成一个集成度更高的IGBT分立器件,简化用户设计。2、将加在栅极G与发射极E之间的正反向电压箝位,能有效防止栅极氧化层被过电压击穿。解决静电(ESD)、脉冲尖峰、浪涌等导致失效的问题。3、进一步提高产品的可靠性,减少外围电路体积,降低使用和装配成本。
图1为常规IGBT器件的等效示意图;
图2为本实用新型的等效结构示意图。
标号说明:G.栅极C.集电极E.发射极D.双向稳压二极管
参见图1‑图2,本实施例的带栅极保护的IGBT器件,由栅极G、集电极C和发射极E三个电极组成,特别的结构是,在IGBT器件的栅极G与发射极E之间并联有双向稳压二极管D,该双向稳压二极管D与IGBT器件封装在一起。所述双向稳压二极管D的两阳极相向对接,从而将加在栅极G与发射极E之间的正反向电压箝位。
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