[发明专利]硅基锗激光器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310342715.0 申请日: 2013-08-08
公开(公告)号: CN103427332A 公开(公告)日: 2013-12-04
发明(设计)人: 刘智;成步文;李传波;李亚明;薛春来;左玉华;王启明 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01S5/22 分类号: H01S5/22
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 曹玲柱
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 硅基锗 激光器 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及半导体激光器技术领域,尤其涉及一种硅基锗激光器及其制备方法。

背景技术

硅基光电子学将光子技术与成熟的硅微电子技术集成,在光通信、光互连、光传感等领域有广泛的应用前景,受到各国政府和科研工作者的高度重视,在近年取得了突飞猛进的发展,如高速硅电光调制器、光开关、复用/解复用器、高效光耦合器、高速硅基锗光电探测器等都已经成功研制出来,唯一没有很好解决的是硅基激光器。所以,硅基激光器被认为是硅基光电子学最闪亮的明珠,成为很多硅基光电子学研究者追求的最重要目标。

硅是间接带隙半导体材料,其发光效率很低,虽然已经实现了光泵浦的硅拉曼(Raman)激光器,但是到目前为止还没有实现真正意义的电泵浦硅激光器。虽然人们采用键合技术,将化合物半导体激光器键合到硅材料上,实现了硅基混合激光器,但是其工艺复杂,并且与CMOS工艺不兼容,人们还是希望能用硅材料或者与CMOS工艺兼容的N族材料实现硅基激光器。锗材料就是一种与CMOS工艺兼容的四族材料,而且已成功外延生长在硅衬底上。虽然锗与硅一样是间接带隙半导体,但是其直接带隙只比间接带隙大140meV,并且通过应变工程可以进一步减小带隙差,从而提高电子占据直接带隙能谷的几率,通过掺杂工程也可以提高电子占据直接带隙的几率,从而获得高效率的直接带隙复合发光,通过合理的器件结构设计,可以实现锗高效发光器件甚至锗激光器。

通过多年的努力,中科院半导体所与美国MIT(麻省理工学院)、斯坦福大学等分别实现了硅衬底上的锗发光二极管,随后MIT又实现了硅基锗光泵浦激光器。2012年,MIT实现了脉冲工作的硅基锗激光器。但是,他们的激光器是纵向p-i-n结构,锗材料生长在高掺杂的硅衬底上,并对锗材料进行了高浓度的n型掺杂,影响了锗外延层的质量;掺杂层以及电极对光的吸收没有很好避免;需要采用复杂而对锗材料不太成熟的化学机械抛光工艺,器件一致性不好;器件激射阈值太大,寿命非常短,不能实现连续工作。

发明内容

(一)要解决的技术问题

鉴于上述技术问题,本发明提供了一种硅基锗激光器及其制备方法,以提高硅基锗激光器的整体性能。

(二)技术方案

根据本发明的一个方面,提供了一种硅基锗激光器。该硅基锗激光器包括:硅材料,具有相应的晶向;锗层,外延生长于硅材料上,包括:锗脊形波导,通过刻蚀锗层形成,构成全部或部分的激光谐振腔;p型掺杂区和n型掺杂区,位于锗脊形波导的两侧;p型掺杂区、锗脊形波导和n型掺杂区形成横向p-i-n二极管结构;绝缘介质层,形成于锗脊形波导、p型掺杂区和n型掺杂区的上方;以及p电极和n电极,形成于绝缘介质层的上方,分别与p型掺杂区和n型掺杂区电性连接。

根据本发明的另一个方面,还提供了一种硅基锗激光器的制备方法。该制备方法包括:步骤A,在硅材料的表面外延生长锗层;步骤B,通过刻蚀锗层形成锗脊形波导,对该锗脊形波导两侧的锗层进行掺杂以形成p型掺杂区和n型掺杂区,p型掺杂区、锗脊形波导和n型掺杂区形成横向p-i-n二极管结构;步骤C,在锗脊形波导、p型掺杂区和n型掺杂区的上方沉积绝缘介质层;步骤D,形成分别与p型掺杂区和n型掺杂区电性连接的p电极和n电极;以及步骤E,在锗脊形波导的两端面之间形成光学谐振腔。

(三)有益效果

从上述技术方案可以看出,本发明硅基锗激光器及其制备方法具有以下有益效果:

(1)采用水平横向p-i-n锗脊形波导结构,硅衬底不需要掺杂,在硅衬底上外延生长的锗层有很好的晶体质量,从而有利于硅基锗激光器整体性能的提升;

(2)p型和n型掺杂区通过离子注入或扩散方法获得,可以合理设计离子注入或扩散区域,降低其对光的吸收引起的损耗,同时保障良好的电流注入效率;

(3)两电极制作在离光场较远的锗脊形波导两侧,可以避免电极对光的吸收,并且电流不需流经位错密度高的硅与锗的界面,大大减少非辐射复合;

(4)制作工艺简单,与CMOS工艺兼容,不需要化学机械抛光工艺,器件一致性好,寿命长,可以实现连续工作。

附图说明

图1为根据本发明实施例硅基脊形波导结构锗激光器的结构示意图;

图2A为制备图1所示硅基脊形波导结构锗激光器的流程图;

图2B为制备图1所示硅基脊形波导结构锗激光器过程中,执行各工艺步骤后器件的结构示意图。

【本发明主要元件符号说明】

10-硅衬底;

20-锗层;

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