专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光源模组-CN202310861709.X在审
  • 高飞;张正杰;纪云;沈雁伟;魏永强 - 苏州立琻半导体有限公司
  • 2023-04-14 - 2023-09-29 - H01S5/00
  • 本发明涉及一种光源模组。包括:VCSEL,包括:发光单元和透光单元;透光单元包括凹部,透光单元通过凹部而获得相比于发光单元更大的透光率;透光单元允许发光单元发出的波长范围的光线从VCSEL的第一表面射入并从VCSEL的第二表面射出;第一表面为VCSEL的出光面所在的表面,第二表面为VCSEL的背离出光面的表面;光学构件,设置于VCSEL的第一表面外,用于反射出光面发出的光线;光探测单元,设置于VCSEL的第二表面外,用于接收光学构件反射的、通过透光单元的光线;并将接收的光线转换为电信号;控制电路,用于获取光探测单元的电信号,并根据电信号控制VCSEL的工作。本发明的光源模组,能减小光源模组的封装尺寸。
  • 光源模组
  • [发明专利]一种同轴激光器TO-CAN-CN202010069182.3有效
  • 刘丽红;宁雅农;刘统玉;金光贤;孟辉;蔡德宇 - 齐鲁工业大学
  • 2020-01-21 - 2023-09-22 - H01S5/00
  • 本申请公开一种同轴激光器TO‑CAN,包括:衬底,所述衬底的一侧表面设有管脚;管帽,所述管帽位于所述衬底的另一侧,与所述衬底的另一侧表面固定连接,所述管帽与所述衬底形成容置空间;透镜,所述透镜嵌设在所述管帽远离所述衬底的端面上,所述透镜的一侧表面上设有抗反射结构,所述抗反射结构的几何中心位于所述透镜的中轴线上;半导体激光器芯片组件,所述半导体激光器芯片组件位于所述容置空间内,所述半导体激光器芯片组件与所述衬底的另一侧表面固定连接。以解决,由于现有半导体激光器在使用过程中存在反向光自混合干涉效应而影响光电检测系统的稳定性和测量精度等问题。
  • 一种同轴激光器tocan
  • [发明专利]发光装置以及光学装置-CN202010080306.8有效
  • 高鹤一真 - 日亚化学工业株式会社
  • 2020-02-05 - 2023-09-01 - H01S5/00
  • 实现偏振光比良好的发光装置。发光装置具有:半导体激光元件;以及透光性部件,其至少从半导体激光元件出射的激光从下表面向上表面透过的区域由蓝宝石构成;透光性部件的供激光入射的入射面为与蓝宝石的c轴平行的平面,并且透光性部件以在俯视时向入射面入射的激光的偏振光方向或者激光的FFP的椭圆形状的长径方向所对应的方向与蓝宝石的c轴平行或者垂直的朝向设置。或者,入射面为蓝宝石的c面,被由准直透镜准直后的激光入射。
  • 发光装置以及光学
  • [发明专利]一种塑封激光器的快速测试、切割装置-CN202310657651.7在审
  • 吕敏;张凯;梁盼;秦莉 - 潍坊华光光电子有限公司;山东芯光光电科技有限公司
  • 2023-06-06 - 2023-08-29 - H01S5/00
  • 本发明公开一种塑封激光器的快速测试、切割装置,包括推料机构、升降式上料机构、激光器固定夹具、伸缩式触针、升降式功率测试系统、切割机构。其中:所述推料机构位于升降式上料机构左侧,所述升降式上料机构上具有竖向排列的若干载物台。所述激光器固定夹具设置在升降式上料机构的右侧,且该激光器固定夹具与所述升降式上料机构上的载物台位于同一平面内。若干个所述伸缩式触针间隔分布在激光器固定夹具外侧,且激光器固定夹具侧壁上与伸缩式触针对应通孔,所述伸缩式触针与塑封激光器上电极引线对应。所述切割机构设置在激光器固定夹具的侧面。上述的装置可对整条塑封激光器同时进行测试并进行整体切割,显著提高了生产效率,降低了生产成本。
  • 一种塑封激光器快速测试切割装置
  • [发明专利]一种环状激光器的测试方法-CN202310547128.9有效
  • 于学成;刘杰;於静静;罗薇;朱永刚;雷谢福;张艳春 - 度亘核芯光电技术(苏州)有限公司
  • 2023-05-16 - 2023-08-22 - H01S5/00
  • 本发明提供了一种环状激光器的测试方法,所述环状激光器包括多个边环,每个边环上设置有半导体激光器,可通过调节反射收集装置,切换对环状激光器整体进行测试,或对环状激光器的指定边环上的激光器进行测试。使用本发明提供的测试方法,可在不更换测试装置、不拆卸环状激光器的前提下,既能够对环状激光器的整体出光参数进行测量,又能够依次对每一个边环上的激光器的出光性能进行测量,找到异常的边环上的激光器,及时进行更换。而且不需要将环状激光器的多个边环拆开,一个个查找确认异常激光器,简单便捷,可根据需要对模块整体或指定边环激光器进行测量。
  • 一种环状激光器测试方法
  • [发明专利]超辐射发光二极管-CN202310691823.2在审
  • 李林森;张建宝 - 苏州同感光电科技有限公司
  • 2023-06-12 - 2023-08-11 - H01S5/00
  • 本发明提供一种超辐射发光二极管,包括管壳,管壳的内部设置有凹槽,凹槽内依次层叠设置有半导体制冷器、热沉以及陶瓷载体,陶瓷载体上设置有超辐射发光二极管芯片,热沉的第一端设置有光纤,超辐射发光二极管芯片与光纤的端部耦合,其中,超辐射发光二极管芯片与光纤之间还设置有光隔离器,超辐射发光二极管芯片的发射光经光隔离器透射后的发光光谱为准高斯型或者高斯型;本发明通过在超辐射发光二极管芯片与光纤之间设置经过特别镀膜选择的光隔离器,使得超辐射发光二极管芯片的发射光经光隔离器透射后的发光光谱为准高斯型或者高斯型,从而减小了制备的光学陀螺后期的电路处理和校准难度,进而提高了光学陀螺的精度。
  • 辐射发光二极管

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