[发明专利]一种整流二极管的制作方法有效
申请号: | 201210531985.1 | 申请日: | 2012-12-11 |
公开(公告)号: | CN102983078A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | 于能斌;王景波;刘欣宇 | 申请(专利权)人: | 鞍山市华辰电力器件有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329 |
代理公司: | 鞍山嘉讯科技专利事务所 21224 | 代理人: | 张群 |
地址: | 114011 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 整流二极管 制作方法 | ||
技术领域
本发明属于二极管生产工艺领域,具体涉及一种整流二极管的制作方法。
背景技术
目前,国内在整流二极管工艺生产过程中,采用“N”型单晶硅为原料制备PN结,常用方法有两种,即纸源+独立铂扩散方法和用三氯氧磷、三氧化二硼扩散方法。用纸源+独立铂扩散方法制造的器件存在通态压降大的不足,扩散时产生气体会对环境产生污染;而用三氯氧磷和三氧化二硼扩散,作为杂质源制造出的器件浓度分布均匀,反型严重,导致发生阴极和阳极同极现象。如果需要缩短反向恢复时间需要电子辐照或扩铂,这两种方法都是均匀地降低少子寿命,而不能实现少子寿命的优化分布。
发明内容
本发明的目的在于提供一种整流二极管的制作方法,克服现有技术的不足,充分改善二极管性能,提高亚密度整流二极管的阻断伏安特性、正向导通电流容量、反向恢复特性、温度特性及反向过电流能力。
为实现上述目的,本发明是通过以下技术方案实现的:
一种整流二极管的制作方法,包括硅片超砂、硅片清洗、清洗石英架和石英砣、扩散、检测、扩散源制作步骤,采用磷、硼、铂液态源一次全扩散工艺,通过磷硅玻璃吸收实现少子寿命的优化分布,其具体操作步骤如下:
1)硅片超砂
将硅片摆在高温四氟架上,放入清洗液中,清洗液的配比是,电子清洗液:去离子水=2.7ml:1000ml,超声清洗30~40分钟,再用60℃~70℃去离子水冲洗,用高纯去离子水超120~150分钟,每30~35分钟更换一次高纯去离子水,然后,用冷热去离子水交替冲洗四遍;
2)硅片清洗
将超砂完的硅片放入1#液中,1#液的配比按体积比是,氨水:过氧化氢:高纯去离子水=1:2:5,在加热器上煮10~15分钟,然后,用高纯去离子水冲洗10~15 遍,再换上新1#液重复煮一遍,最后用冷热高纯去离子水交替冲洗20~25遍;2#液的配比按体积比是,盐酸:过氧化氢:高纯去离子水=1:2:7.在加热器上煮10~15分钟,然后,用高纯去离子水冲洗10~12遍,再换上新2#液重复煮一遍,用冷热高纯去离子水交替各冲洗20遍,最后将清洗干净的硅片放入140~145℃烘箱中烘4~4.5小时;
3)清洗石英架、石英砣
将石英架、石英砣放入体积比为H2O:HF=5:1的氢氟酸溶液中浸泡30~35分钟,然后,取出用冷热高纯去离子水冲洗各20~25遍,放入 140~145℃烘箱中烘2~2.5小时;
4)磷、硼、铂液态源一次全扩散
采用开管扩散,扩散炉温度为1250±1℃,扩散时间为12~15小时,放入磷源、硼源和铂, P型区要求R□P=1.1~1.3 R□/ ?,XjP=90±3μm,扩散时间到后关闭扩散炉电源,自然降温至室温,取出石英架;
5)检测
在伏安特性电压测试台测试全扩散后的硅单晶片,其阻断电压2100V时硼面浓度为R□P=1.1~1.3 R□/ ?,XjP=90±3μm,磷面浓度为R□N=0.6~0.7 R□/ ?,XjN= 28+2μm。
所述磷源、硼源的制作步骤如下:
①磷源制作
取三氯氧磷、无水乙醇配制磷源溶液,三氯氧磷:无水乙醇=10mL:550mL,然后用超声波把磷源溶液均匀超声6.5~7h备用;
②硼源制作
取三氧化二硼、硝酸铝、铂微粉和无水乙醇配制硼源溶液,三氧化二硼:硝酸铝:铂微粉:无水乙醇=28g:21g:0.35g:500mL,然后用超声波把硼源溶液均匀超声14~20h备用。
所述铂微粉粒度为0.1~0.5μm。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
1)提高了硅片表面浓度的均匀性,制造出的二极管芯片通态压降小,通流能力增强,有效地解决了常规工艺制造二极管一次扩散时间过长的不理想状况,对于不同等级的参数性能的芯片,均会满足不同的使用需求,达到智适应性、亚电流密度的效果,比纸源+独立铂扩散工艺缩短20-22h,工艺参数一致性好。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造