[发明专利]基于N型硅衬底背接触式HIT太阳电池结构和制备方法无效
申请号: | 201210497911.0 | 申请日: | 2012-11-29 |
公开(公告)号: | CN102931269A | 公开(公告)日: | 2013-02-13 |
发明(设计)人: | 贾河顺;姜言森;程亮;任现坤;张春艳;孙继峰;马继磊;徐振华 | 申请(专利权)人: | 山东力诺太阳能电力股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/0747 | 分类号: | H01L31/0747;H01L31/0224;H01L31/20 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人: | 宋玉霞 |
地址: | 250103 山东省济*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 衬底 接触 hit 太阳电池 结构 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及晶硅太阳能电池技术领域,具体涉及一种基于N型硅衬底背接触式HIT太阳电池结构和制备方法。
背景技术
太阳能产业的迅速发展需求一种工艺流程简单,光电转化效率高的产业化技术来降低发电成本,达到与市电同价或低于市电电价的目标。
当前常规晶硅电池随着产业化的发展,转换效率提升和成本降低等各方面都有了较大的进步,但其结构与技术特点限制了其效率的进一步提高。于是,业界出现了多种解决方案,包括选择性发射极太阳能电池、背接触式太阳能电池、HIT 电池等。同时新的技术,如激光技术、LIP 技术、光刻技术等的出现也为太阳能电池进一步的转换效率提升和成本降低提供了可能。
在目前的高效太阳电池领域中,三洋电机发展的HIT电池以其高效和稳定的性能一直是太阳电池领域研究和发展的热点,该电池的结构不但效率比较高,而且可以减少晶硅材料的厚度使更薄的晶硅太阳电池的发展成为可能。但是其在正面需要印刷金属电极,显著地降低了太阳光的利用效率。
发明内容
本发明的目的就是针对上述存在的缺陷而提供的一种基于N型硅衬底背接触式HIT太阳电池结构和制备方法,本发明结合常规晶硅太阳电池和薄膜太阳电池的制备方法,并且相对于传统HIT电池,不但制备过程简单,降低金属电极的使用量,而且避免常规太阳电池正面电极遮光的问题,提高了太阳电池的效率。
本发明的一种基于N型硅衬底背接触式HIT太阳电池结构技术方案为,其结构为:N型硅衬底受光面由内而外依次为受光面n型非晶或微晶硅层、减反射层;背光面由内而外依次为本征非晶或微晶硅层,p型非晶或微晶硅层和背光面n型非晶或微晶硅层之间有间隔且交替排列于本征非晶或微晶硅层上,p型非晶或微晶硅层和背光面n型非晶或微晶硅层上均覆盖有透明导电薄膜,金属电极位于透明导电薄膜上。
本征非晶或微晶硅层、背光面p型非晶或微晶硅层、背光面n型非晶或微晶硅层、透明导电薄膜、受光面n型非晶或微晶硅、减反射层厚度范围为1~5000nm。
p型非晶或微晶硅层、受光面n型非晶或微晶硅层、背光面n型非晶或微晶硅层、本征非晶或微晶硅层以及透明导电薄膜的厚度优选为12nm、12nm、12nm、10nm和15nm。
p型非晶或微晶硅层和背光面n型非晶或微晶硅层的间隔为0.01~10000um。
p型非晶或微晶硅层和背光面n型非晶或微晶硅层的间隔优选为20um。
一种上述基于N型硅衬底背接触式HIT太阳电池结构的制备方法,包括以下步骤:
(1)在制绒后的N型硅衬底受光面沉积受光面n型非晶或微晶硅层;
(2)在背光面沉积本征非晶或微晶硅层;
(3)在受光面沉积减反射层;
(4)在背光面间隔进行p型非晶或微晶硅掺杂;
(5)在背光面的p型非晶或微晶硅掺杂之外的其他区域进行n型非晶或微晶硅掺杂;
(6)在背光面进行透明导电薄膜制备;
(7)在背光面的p型非晶或微晶硅掺杂与背光面n型非晶或微晶硅掺杂区之间进行镭射切割,使得p型非晶或微晶硅层与背光面n型非晶或微晶硅层分离开;
(8)在背光面p型非晶或微晶硅层与背光面n型非晶或微晶硅层的透明导电膜上分别进行金属电极制备。
其中,金属电极制备采用印刷、溅射或喷墨中的一种方法。金属电极材料可以采用金属、金属合金、无机金属等。
进行p型非晶或微晶硅掺杂,以及在背光面的p型非晶或微晶硅掺杂之外的其他区域进行n型非晶或微晶硅掺杂采用带掩膜版的离子注入法。
在不影响太阳电池结构的情况下,制备步骤可以做一定的调整,可以先把受光面结构制备完毕后再制备背光面结构,或者受光面制备一步或多步后然后进行背光面一步或多步的制备。
本发明的有益效果为:本发明结合常规晶硅太阳电池和薄膜太阳电池的制备方法,并且相对于传统HIT电池,不但制备过程简单,降低金属电极的使用量,而且避免常规太阳电池正面电极遮光的问题,提高了太阳电池的效率。
应用本发明技术方案,已经做出效率为23.55%的太阳电池,其主要参数如表1所示,将近达到三洋电机双面HIT太阳电池24.7%的效率,在实验中经过进一步优化,可超过24.7%的效率。
附图说明:
图1所示为本发明的结构示意图;
图2所示为本发明的流程图。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的