[发明专利]SMT网板厚度和平面度测量方法在审

专利信息
申请号: 201210015954.0 申请日: 2012-01-19
公开(公告)号: CN103217117A 公开(公告)日: 2013-07-24
发明(设计)人: 魏志凌;宁军;沈晓 申请(专利权)人: 昆山思拓机器有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06;G01B11/30
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215347 江苏省苏州市昆山*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: smt 厚度 平面 测量方法
【说明书】:

 

技术领域

本发明涉及一种SMT网板厚度和平面度的测量方法,特别是激光微加工产业中使用激光位移传感器的测量厚度和平面度的方法。

背景技术

在激光微加工产业中,对于SMT(表面组装技术)网板都需要测量网板厚度以检验该网板是否满足要求,一般都是在网板幅面中以平均间隔取一定数量的点,测量这些点的厚度以表示该网板厚度的平均值,如图1。但是这种测量方法只能表示出网板整体的平均厚度,而不能表示网板某一部分或者某点的厚度之间的差异,无法满足工业需求。本专利发明一种厚度和平面度的测量方法,通过激光位移传感器获得网板上下表面与传感器的距离,可以展示网板整幅的厚度和平面度信息。

本发明提供一种激光微加工产业中,使用激光位移传感器的测量厚度和平面度的方法。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是现有技术中测量网板厚度单一且不能表示特定区域厚度的问题。提供一种新的SMT网板厚度和平面度的测量方法,该方法具有SMT网板的厚度测量准确性高,误差低的优点。

为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案如下:一种SMT网板厚度和平面度测量方法,包括如下几个步骤:

a)使用标准块定标,确定两个传感器之间的距离;

b) 将网板放平,通过轴系移动,将两个同轴的激光位移传感器移动到网板左下角的开始位置;

c)使用激光位移传感器,沿一定路径进行移动以完成网板整个幅面的扫描,并采集上下表面与各传感器之间的距离信息;

d)扫描完成后,根据点的坐标和得到的厚度信息,将得到的上下表面与传感器之间的距离与其坐标,拟合成厚度分布图和上下表面的拟合曲面图。

上述技术方案中,设置扫描时的厚度数据采集的长度间隔,在扫描的路径中以一定长度采集一点的厚度数据并保存。厚度分布图颜色由深红到深蓝表示厚度由厚到薄。上下表面的拟合曲面图是由各表面与其方向的传感器之间的距离拟合而成,使用三角网格的方式展示。

该方法使用两个同轴的激光位移传感器扫描网板的整个幅面并采集上下表面与各传感器之间的距离信息,扫描完成后会将得到的上下表面与传感器之间的距离与其坐标拟合成厚度分布图和上下表面的拟合曲面图。开始时,使用标准块定标,确定两个传感器之间的距离,将网板放好,通过轴系移动将激光位移传感器移动到网板左下角的开始位置,然后开始获取厚度数据并设定的路径进行移动以完成网板整个幅面的扫描。可设置扫描时的厚度数据采集的长度间隔,在扫描的路径中以每一定长采集一点的厚度数据并保存。扫描完成后,根据点的坐标和得到的厚度信息,将其拟合成厚度分布图,颜色由深红到深蓝表示厚度由厚到薄。上下表面的拟合曲面图是由各表面与其方向的传感器之间的距离拟合而成,使用三角网格的方式展示。

采用本发明的方法,解决了以往测量网板厚度单一且不能表示特定区域厚度的问题,提高了SMT网板的厚度测量准确性,降低误差,取得了较好的技术效果。

附图说明

 

图1为取9个点的厚度平均值以表示网板厚度;

图2为网板扫描采集厚度数据路径图;

图3为由扫描的点得到的厚度拟合图;

图4为根据扫描得到的厚度数据拟合的表面。

下面通过具体实施例对本发明作进一步的阐述,但不仅限于本实施例。

具体实施例

 

【实施例1】

一种SMT网板厚度和平面度测量方法,包括如下几个步骤:使用标准块定标,确定两个传感器之间的距离;将网板放平,通过轴系移动,将两个同轴的激光位移传感器移动到网板左下角的开始位置;使用激光位移传感器,沿一定路径进行移动以完成网板整个幅面的扫描,并采集上下表面与各传感器之间的距离信息;扫描完成后,根据点的坐标和得到的厚度信息,将得到的上下表面与传感器之间的距离与其坐标,拟合成厚度分布图和上下表面的拟合曲面图。

 

【实施例2】

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