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- [发明专利]工件测定装置及工件测定方法-CN201410051130.8有效
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吉沢诚二;小岛智幸;阿部博晃
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东京威尔斯股份有限公司
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2014-02-14
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2014-08-20
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B07C5/34
- 工件测定装置(1)具备:输送工作台(3),其具有输送工件(W1)的工件收置孔(4);分离供给部(6);测定工件的第一测定部(7a)、第二测定部(7b)、第三测定部(7c);排出工件(W1)的排出部(8)控制部(12)采用通常测定模式,在通过测定部(7a、7b、7c)对从分离供给部(6)供给到输送工作台(3)的工件收置孔(4)的工件(W1)进行了测定后,从排出部(8、9)排出。控制部(12)采用样本测定模式,在通过测定部(7a、7b、7c)对从样本工作台(10x)供给到输送工作台(3)的工件收置孔(4)的工件(W1s)进行了测定后,返回到样本工作台(10x)。
- 工件测定装置方法
- [发明专利]一种数字信号的重采样方法-CN200610011592.2无效
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林中松;王浩
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北京中星微电子有限公司
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2006-03-30
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2006-08-23
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G06T3/40
- 本发明公开一种数字信号的重采样方法,用于将输入的长度为W1的象素序列O降采样,输出长度为W2的象素序列R,W1>W2,其特征在于,重采样时,逐步输入序列O中的W1个象素时,有X1次对S1个象素取平均作为输出序列R的一个象素,有X2次对S2个象素取平均作为输出序列R的一个象素,得到象素序列R,其中X1=W1%W1%W2,X2=(W2-X1),S1=Ceil(W1/W2),S2=Floor(W1/W2),Ceil()表示向上取整运算,Floor()表示向下取整运算,“%”表示求余运算,W1=S1*X1+S2*X2。
- 一种数字信号采样方法
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