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[发明专利]一种去噪模型生成方法、系统、设备及介质-CN202111392331.0在审
发明人：燕燕;时雪龙;周涛;许博闻 -专利权人：上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司
申请日： 2021-11-19 - 公布日： 2022-02-15 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种去噪模型生成方法、系统、设备及介质，该方法包括：获取晶圆光刻后的SEM图像集合；将所述SEM图像集合中相同坐标的SEM图像像素值叠加取平均值，得到目标图像集合；利用卷积神经网络模型对所述SEM图像集合中的SEM图像进行特征提取，得到SEM图像特征信息；获取所述目标图像集合的目标图像特征信息；利用所述SEM图像特征信息和所述目标图像特征信息对卷积神经网络模型进行训练，得到去噪模型。本发明通过获取目标图像集合中的目标图像特征信息，利用SEM图像特征信息和目标图像特征信息对卷积神经网络模型进行训练，得到去噪模型，采用该去噪模型实现对SEM图像进行去噪，提高了去噪的可靠性和效率。
一种模型生成方法系统设备介质

[发明专利]催化剂制造用干燥颗粒、催化剂以及化合物的制造方法-CN202080021783.5在审
发明人：平冈良太;福永诚一郎 -专利权人：日本化药株式会社
申请日： 2020-03-26 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： B01J23/887 文献下载
摘要：一种催化剂，其中，在使用扫描型电子显微镜(SEM)、将加速电压设定为15kV、并且以在SEM图像中的1个粒子的纵向最大长度占SEM图像的纵向长度的90％以上且在SEM图像中的1个粒子的横向最大长度占SEM图像的横向长度的90％以上的倍率得到的催化剂的SEM图像中，将该SEM图像二值化为黑白图像时的白色部位的铋(Bi)浓度大于黑色部位的Bi浓度加上黑色部位的Bi浓度的标准偏差σ1的2.5倍的值而得到的值。
催化剂制造干燥颗粒以及化合物方法

[发明专利]SEM图像轮廓提取方法、SEM图像轮廓优化方法及计算机介质-CN202211373771.6在审
发明人：向禹铭 -专利权人：东方晶源微电子科技（上海）有限公司
申请日： 2022-11-03 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G06T7/13 文献下载
摘要：本发明涉及SEM图像提取领域，特别涉及一种SEM图像轮廓提取方法、SEM图像轮廓优化方法及计算机介质，本发明的SEM图像轮廓提取方法，包括以下步骤：获取初始SEM灰度图像；统计SEM图像各像素点的灰度值，计算出各像素点灰度值的均值与标准差；将均值在基于标准差的预设可信范围内覆盖区域定义为置信区间；提取均值在置信区间内的SEM图像的轮廓作为第一次SEM图像提取轮廓。
sem 图像轮廓提取方法优化计算机介质

[发明专利]一种SEM图像轮廓绘制方法、装置和程序产品-CN202211292136.5在审
发明人：张展 -专利权人：东方晶源微电子科技(北京)有限公司
申请日： 2022-10-20 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G06T11/20 文献下载
摘要：本发明涉及计算光刻技术领域，特别涉及一种SEM图像轮廓绘制方法，获取SEM图像，并对SEM图像进行像素化处理，得到原始矩阵；对原始矩阵进行计算，得到峰值点；依据峰值点绘制SEM图像轮廓。本发明还提供一种装置和程序产品，解决了传统基于GDS提取SEM图像轮廓的方法适用性较差的技术问题。
一种 sem 图像轮廓绘制方法装置程序产品

[发明专利]SEM图像增强方法和系统-CN201980046684.X在审
发明人：方伟;浦凌凌;T·J·胡伊斯曼;E·P·斯马克曼 -专利权人： ASML荷兰有限公司
申请日： 2019-07-01 - 公布日： 2021-02-26 - 主分类号： H01J37/22 文献下载
摘要：一种用于增强图像的方法包括通过使用多光束设备的同轴光束获取第一扫描电子显微镜(SEM)图像。该方法还包括通过使用多光束设备的离轴光束获取第二SEM图像。该方法还包括通过使用第一SEM图像作为参考来增强第二SEM图像而提供经增强图像。经增强图像可以通过使用从第一图像所提取的一个或多个特征来增强第二SEM图像而被提供或使用第一SEM图像作为参考来对第二SEM图像进行数值增强而被提供。
sem 图像增强方法系统

[发明专利]一种电网实物资产综合评价方法及系统-CN202310732978.6在审
发明人：张戈力;董力通;卢艳超;成为;张恒;郑燕 -专利权人：国家电网有限公司;国网经济技术研究院有限公司
申请日： 2023-06-20 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G06Q10/0639 文献下载
摘要：本发明涉及一种电网实物资产综合评价方法及系统，其包括：建立结构方程模型，求解SEM权重；根据SEM权重，基于最小二乘法路径分析，确定新的外部估计值Ga；通过SEM软件求解SEM模型，将新的外部估计值Ga输入SEM模型估计资产综合状态指标值；将资产综合状态指标值代入SEM权重至权重分析模型，采用DEA模型分析DMU相对效率
一种电网实物资产综合评价方法系统

[发明专利]扫描电子显微镜-CN200880107098.3无效
发明人：金兴福;郭京一;全柄喆;李仁揆;金钟显 -专利权人：赛可株式会社
申请日： 2008-08-18 - 公布日： 2010-08-11 - 主分类号： H01J37/26 文献下载
摘要：提供一种具有简单结构并提高了真空度的扫描电子显微镜(SEM)。根据本发明的扫描电子显微镜(SEM)包括具有样品架的SEM主体；电子光学单元，所述电子光学单元垂直于所述样品架安装在所述SEM主体上以和该样品架相对；真空泵，所述真空泵平行于所述电子光学单元安装在所述SEM主体内；以及控制单元，所述控制单元安装在所述SEM主体内以控制所述电子光学单元。
扫描电子显微镜

[发明专利]一种自动提取SEM关键词的方法、系统及介质-CN202210581252.2在审
发明人：方平 -专利权人：深圳市世强元件网络有限公司
申请日： 2022-05-26 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G06F16/9535 文献下载
摘要：本发明涉及搜索引擎营销SEM技术领域，涉及一种自动提取SEM关键词的方法、系统及介质。接收用户终端输入的新增内容及新增内容对应的关键词，根据新增内容设置关键词的内容类型和内容品牌，将关键词及关键词对应的内容类型和内容品牌存储至关键词词库；S2、根据关键词的内容类型和内容品牌设置对应的过滤规则，使用过滤规则对关键词词库进行过滤得到SEM关键词；S3、定时提取SEM关键词进行SEM投放。本实施例通过对关键词过滤得到SEM关键词进行投放，实现了SEM关键词的精准提取投放，提高了效率，解决了人工手动提取SEM关键词重复的问题。
一种自动提取 sem 关键词方法系统介质

[发明专利]一种多特征融合的三元正极材料粗糙度提取方法及装置-CN202210250194.5在审
发明人：陈宁;刘洪臻;阳春华;桂卫华;陈致蓬;李天亦;刘红杰;徐磊 -专利权人：中南大学
申请日： 2022-03-14 - 公布日： 2022-06-17 - 主分类号： G06V10/25 文献下载
摘要：本发明公开了一种多特征融合的三元正极材料SEM图像粗糙度提取方法及装置，通过获取三元正极材料在不同烧结温度下的SEM图像，对获取的SEM图像进行预处理；使用双毯法提取预处理后的SEM图像的分形特征，并用分形维数表示；采用灰度共生矩阵对预处理后的SEM图像的纹理特征进行分析与提取；将提取的分形维数与纹理特征进行融合，得到多特征融合的三元正极材料SEM图像的粗糙度。本发明提出了使用分形维数和信息熵结合的方式来表征三元正极材料的粗糙度，实现了对SEM图像纹理特征的提取，多种方式提取的特征量形成互补，使得SEM图像粗糙度提取更加全面、有效。
一种特征融合三元正极材料粗糙提取方法装置

[发明专利]SEM图像前景提取方法、装置、计算机设备及存储介质-CN202211291459.2在审
发明人：何振飞 -专利权人：东方晶源微电子科技(北京)有限公司
申请日： 2022-10-20 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： G06T7/194 文献下载
摘要：本发明涉及计算光刻图像分析技术领域，具体涉及一种SEM图像前景提取方法、装置、计算机设备及存储介质。方法包括步骤：获取待处理的SEM图像并将SEM图像二值化；检测经二值化后的SEM图像中的所有连通域并进行第一次标记；基于第一次标记拆分所述SEM图像；对拆分后的每一SEM图像进行轮廓提取以得到轮廓提取图并进行第二次标记；基于第二次标记将轮廓提取图进行图像拼接以得到SEM图像前景图像。本发明的提取装置、计算机设备及存储介质具有与SEM图像前景提取方法相同的有益效果，在此不再赘述。
sem 图像前景提取方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]基于纳米颗粒SEM图像亮度提取的图像亮度校正方法-CN201811257701.8有效
发明人：赵红东;李宇海;孙梅;H.S.艾哈迈德;王储;赵泽通;张洁;闫苗 -专利权人：河北工业大学;中国电子科技集团公司第五十三研究所
申请日： 2018-10-26 - 公布日： 2021-01-26 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明基于纳米颗粒SEM图像亮度提取的图像亮度校正方法，涉及一般的图像数据处理，该方法是基于纳米颗粒SEM图像进行整体的亮度提取进而对该图像全部区域的不均匀亮度进行校正，特别是在纳米颗粒SEM图像中某一个边界部分区域出现高亮度，而在其另外一个边界部分区域出现较暗亮度的情况下，显示出纳米颗粒SEM图像各个像素点的平均亮度，并实现纳米颗粒SEM图像的全部区域亮度均匀化，克服了由于纳米颗粒SEM图像中高亮度和较暗亮度经常分别出现在图像不同外围边界，现有技术则无法实现纳米颗粒SEM图像周围边界部分进行插值，造成所得到的纳米颗粒SEM图像的亮度不均匀的缺陷。
基于纳米颗粒 sem 图像亮度提取校正方法

[发明专利]使用基于扩散的模型的数值补偿SEM-诱发充电-CN202080073007.X在审
发明人： T·J·胡伊斯曼;S·B·汉森 -专利权人： ASML荷兰有限公司
申请日： 2020-08-15 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： H01J37/22 文献下载
摘要：用于增强图像的方法可以包括获取扫描电子显微镜(SEM)图像。该方法还可以包括模拟与SEM图像的位置相关联的扩散电荷。该方法还可以包括基于SEM图像和扩散电荷来提供增强的SEM图像。
使用基于扩散模型数值补偿 sem 诱发充电

[发明专利]一种矿物图像对齐方法、装置及存储介质-CN202011019964.2在审
发明人：赵启蒙;王寅;刘义;明治良;王格平;左玉 -专利权人：科吉思石油技术咨询（北京）有限公司
申请日： 2020-09-24 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： G06T7/33 文献下载
摘要：包括获取矿物的彩色分析图像和SEM灰度图像；获取标定指令，根据标定指令在彩色分析图像和SEM灰度图像中标定矿物特征图像；对标定矿物特征图像后的彩色分析图像和SEM灰度图像进行二值化处理；计算二值化处理后彩色分析图像和SEM灰度图像的特征函数，并特征函数分别绘制图像特征曲线；将彩色分析图像的图像特征曲线与SEM灰度图像的图像特征曲线进行比对，确定特征值；根据特征值将彩色分析图像与SEM灰度图像进行匹配对齐。本发明可以可以快速、高效、精准地完成矿物彩色分析图像与SEM灰度图像的自动对齐。
一种矿物图像对齐方法装置存储介质

[发明专利]校准OM和SEM坐标关系的方法和装置、设备和存储介质-CN202110607323.7有效
发明人：甘远;薛磊;韩春营;俞宗强;蒋俊海 -专利权人：中科晶源微电子技术（北京）有限公司
申请日： 2021-06-01 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种校准OM和SEM坐标关系的方法，该校准OM和SEM坐标关系的方法包括读取由同一标准片中选取的同一标记点在工作台上的位置和标记图案，在OM模式下获取OM图像，根据OM标记图案和OM图像得到第一标记点偏移量，在SEM模式下获取SEM图像，SEM图像为控制工作台移动至第二位置处后拍照得到的图像，根据SEM标记图案和SEM图像得到第二标记点偏移量，通过第一标记点偏移量和第二标记点偏移量得到OM和SEM坐标关系
校准 om sem 坐标关系方法装置设备存储介质

[发明专利]源自二维图像的材料性质-CN202180036866.6在审
发明人：格伦·L·热特米;尼日尔·查克拉博蒂;米拉德·赛迪安 -专利权人： BP北美公司
申请日： 2021-05-10 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种分析岩石样品的方法，所述方法包括：执行岩石样品的多个物理面的扫描电子显微镜(SEM)成像以生成所述物理面的二维(2D)SEM图像；将互相关函数应用于第一2D SEM图像和第二2D SEM图像，以基于所述第一和第二2D SEM图像生成三维(3D)数字模型体积；并且基于所述第一和第二2D SEM图像的每一个中的像素的图像强度值，确定所述3D数字模型体积的孔径的概率分布。
源自二维图像材料性质