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[发明专利]一种伪二维模型的均质随机粒径分布方法-CN202310546065.5在审
发明人：李棉刚;梁惠施;周奎;贡晓旭;王姿尧;林俊;袁国强 -专利权人：清华四川能源互联网研究院
申请日： 2023-05-15 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种伪二维模型的均质随机粒径分布方法，包括以下步骤：采集电极活性材料颗粒粒径和概率密度，并生成电极活性材料颗粒粒径分布；根据电极活性材料颗粒粒径分布计算电极活性材料颗粒粒径累积分布函数，并根据电极活性材料颗粒粒径累积分布函数计算电极活性材料颗粒粒径累积分布反函数；根据电极活性材料颗粒粒径分布反函数，确定不同空间位置的颗粒粒径；对不同空间位置的颗粒粒径的颗粒活性比表面积进行校正。本发明提供的基于随机数的伪二维模型均质粒径分布方法能够在引入电极活性材料颗粒粒径分布的同时，不过度增加模型的计算量，从而兼顾锂离子电池电化学仿真模型的仿真精度和仿真速度，因此本发明具有高保真和高效率等优点
一种二维模型随机粒径分布方法

[发明专利]不同加载路径下钙质砂的颗粒级配曲线的快速预测方法-CN202211509578.0在审
发明人：罗明星;钟丽;路亚妮;伍彩 -专利权人：湖北工程学院
申请日： 2022-11-29 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明涉及不同加载路径下钙质砂的颗粒级配曲线的快速预测方法，包含步骤：获取在等向压缩试验条件下，相同初始级配和初始孔隙比的钙质砂在不同围压下的颗粒粒径分布曲线；计算等向压缩试验下的相对破碎率；确定不同加载路径下的压缩试验中的钙质砂试样的应力应变关系；计算的总输入能；获取颗粒粒径分布曲线；计算不同加载路径下的相对破碎率；确定特征粒径的尺寸；绘制数据散点关系图；获得拟合参数；得到快速预测方程。本发明解决了应力路径对级配演化规律的影响，使颗粒粒径分布模型不受实际颗粒粒径分布与假定的颗粒粒径分布曲线的函数关系式匹配程度影响；让应力路径对颗粒粒径分布的影响不受初始级配条件限制，拓宽了应用条件和应用场景
不同加载路径钙质颗粒配曲快速预测方法

[发明专利]基于无人机航测的天然河流床面泥沙颗粒粒径分布测量方法-CN201810158237.0在审
发明人：朱猛;范念念;刘兴年;张斌 -专利权人：四川大学
申请日： 2018-02-25 - 公布日： 2018-08-24 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于无人机航测的天然床面泥沙颗粒粒径分布测量方法，利用无人机近景测影技术得到研究区域的正射影像，在正射影像上测量泥沙颗粒粒径，得出研究区域泥沙颗粒粒径级配曲线，该粒径分布测量方法简单、高效，测量结果准确、稳定、可靠，可直接用于野外天然河流床面(特别是人类无法到达的河段区域)泥沙颗粒粒径分布测量，为泥沙颗粒粒径级配研究提供了可靠的基础数据，有助于整个水沙运动研究的进一步开展。
泥沙颗粒测量颗粒粒径分布床面泥沙粒径分布粒径级配天然河流研究区域正射影像基础数据运动研究近景床面粒径水沙河段野外研究

[发明专利]一种水泥基材料三维颗粒分组均匀化投放方法-CN201710776812.9有效
发明人：吴胜兴;孙克纬;赵海涛;张风臣 -专利权人：河海大学
申请日： 2017-08-31 - 公布日： 2020-03-17 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种水泥基材料三维颗粒分组均匀化投放方法，包括以下步骤：根据拟定的水灰比与真实的水泥颗粒粒径分布建立待投放的水泥颗粒库，主要参数为水泥颗粒的粒径范围为N组与对应的颗粒个数n；计算该水泥颗粒库的颗粒粒径分布特征值A，确定水泥颗粒粒径分布特征值范围为Z；然后根据水泥颗粒粒度分布范围Z将所有水泥颗粒随机分组后在投放区域内投放；水泥三维颗粒投放区域内颗粒分布情况分析。该方法能够实现水泥颗粒在投放区域中的连续均匀投放，克服了传统投放方法中水泥颗粒半径按从大到小投放所造成的较大半径颗粒在投放区域中某些区域过于密实的情况，使水泥颗粒在整个投放区域内分布均匀。
一种水泥基材三维颗粒分组均匀投放方法

[发明专利]一种颗粒粒径分布的测量方法-CN200510011874.8无效
发明人：左剑恶;李建平 -专利权人：清华大学
申请日： 2005-06-06 - 公布日： 2005-11-16 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：一种颗粒粒径分布的测量方法，属于颗粒样品检测技术领域。为了解决现有常用的颗粒粒径分布测量方法不能全面和灵活地反映颗粒样品的粒径分布情况的问题，本发明提供了一种颗粒粒径分布的测量方法，步骤如下：将颗粒样品均匀分散到置于白色背光板上的玻璃样品槽中，样品颗粒个数为50～500，并将尺寸标定物放入所述玻璃样品槽中；用数码照相机拍摄出所述颗粒样品的图像，并将图像导入计算机，之后利用存储在计算机中的图像分析程序处理所述图像，得到各颗粒的粒径和圆形度；根据粒径划分，输出颗粒样品的粒径个数分布、体积分布或重量分布结果。
一种颗粒粒径分布测量方法

[发明专利]测量颗粒粒径分布的方法及装置-CN201410126595.5无效
发明人：杨福桂;王秋实;李明;盛伟繁 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2014-03-31 - 公布日： 2014-08-13 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种测量颗粒粒径分布的方法及装置，其中，测量颗粒粒径分布的方法包括：通过阵列探测器测量颗粒群散射光强的角分布，其中，所述角分布中的离散角度对应所述阵列探测器的各个离散探测像素；选定粒径区间及采样粒径，根据所述粒径区间和所述采样粒径计算所述采样粒径的粒径参数，并基于Mie散射计算系数矩阵；将所述系数矩阵与所述角分布作为最大似然函数迭代反演方法的参数，计算所述颗粒群的最终粒径分布。本发明能够对低信噪比测量数据实现准确的粒径分布反演计算。
测量颗粒粒径分布方法装置

[发明专利]一种基于连续均匀概率确定颗粒粒径的目标级配模型创建方法-CN201910572878.5有效
发明人：孙伟宸;吴恺 -专利权人：孙伟宸
申请日： 2019-06-28 - 公布日： 2023-01-03 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于连续均匀概率确定颗粒粒径的目标级配模型创建方法，引入连续均匀概率，依据累计颗粒数量百分比随粒径区间的变化关系，在全部粒径区间范围内选取颗粒粒径进行颗粒投放；与现行静态投放方法相比，能够大幅提高模型最大填充率；与现行瞬态填充方法相比，能够避免各级配区间颗粒在目标投放空间上、位置分布规律与投放顺序的相关性，确保各级配区间颗粒在目标投放空间上的位置、均服从目标分布规律，同时能够在整个投放过程中，使颗粒粒径不间断地满足目标级配分布
一种基于连续均匀概率确定颗粒粒径目标模型创建方法

[发明专利]一种氧化锌粉末粒径测试方法及应用-CN202011466293.4有效
发明人：孙海青;陈斌;陈金河;施耐德;蔡建文 -专利权人：百尔罗赫塑料添加剂（江苏）有限公司
申请日： 2020-12-14 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种氧化锌粉末粒径测试方法及应用，本发明氧化锌粉末粒径测试方法，可以快速测试氧化锌粉末原料的一次粒径(单个晶粒粒径)和二次粒径(氧化锌粉末原料使用时颗粒粒径)及分布情况，并通过一次粒径和二次粒径的数值比较，筛选分布状态合适的氧化锌粉末原料，该测试方法操作方便、简单、快速，实用性、指导性强；可以用于硬脂酸锌生产加工时的氧化锌原料粉末筛选，筛选颗粒粒径尺寸合适的氧化锌原料粉末，避免硬脂酸锌合成反应过程中因氧化锌粉末颗粒粒径太大、分散性差导致的反应不均匀、不充分问题，有效解决硬脂酸锌产品中氧化锌颗粒残留量高的问题，从而确保硬脂酸锌的产品品质和纯度，对提高硬脂酸锌产品质量有实际的指导意义。
一种氧化锌粉末粒径测试方法应用

[发明专利]孔隙度与颗粒粒径分布关系表征方法-CN202011294431.5有效
发明人：王宇赫;毛强强;杨潇;孙鑫;余梦琪;刘帅辰 -专利权人：中国石油大学（华东）;青岛东坤蔚华数智能源科技有限公司
申请日： 2020-11-18 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明涉及孔隙度与颗粒粒径分布关系表征方法，该方法包括以下步骤：首先指定二维颗粒堆积模拟的区域范围，长为L、高为H；在指定区域范围内，根据均一分布方法随机生成空间横坐标x,即0≤x≤L，假设所有颗粒均从同一高度y下落，且高度足够高即y＞H；其次建立能准确描述颗粒粒径分布规律的颗粒粒径分布方法；生成一系列颗粒，得到一个紧密的二维颗粒堆积体；再次计算二维颗粒堆积体的孔隙度；最后定性及定量描述相对标准差与孔隙度之间的关系该方法采用了周期边界，不存在左右边界孔隙度较大的情况，消除了边界对二维颗粒堆积体孔隙度的影响，提高了计算堆积体孔隙度的精度。
孔隙颗粒粒径分布关系表征方法

[实用新型]进水高度可调的底部进水高效脱氮好氧颗粒污泥反应器-CN201720839964.4有效
发明人：周佳恒;周赟成;余昊辰;赵轶群;王红宇 -专利权人：浙江工业大学
申请日： 2017-07-12 - 公布日： 2018-07-20 - 主分类号： C02F3/12 文献下载
摘要：一种进水高度可调节的底部进水高效脱氮好氧颗粒污泥反应器，好氧颗粒污泥反应器的底部设有进水高度可调节的进水装置，利用污泥床中颗粒污泥粒径分布特性及基质浓度分布的特性，在不同运行阶段调节底部进水口高度，使污泥床中具有最佳稳定性及污染物去除效果的颗粒优先获得基质，促进其生长，实现对颗粒粒径分布的优化，从而强化好氧颗粒污泥的稳定性及总氮等污染物去除效果。本实用新型确立最佳颗粒粒径范围、富集最佳粒径颗粒、稳定性较好、污染物去除效果良好。
好氧颗粒污泥反应器污染物去除效果进水高度可调节底部进水高效脱氮污泥床基质好氧颗粒污泥颗粒粒径分布本实用新型分布特性高度可调进水装置颗粒粒径粒径颗粒浓度分布污泥粒径运行阶段进水口中颗粒富集总氮生长优化

[发明专利]一种光散射法颗粒粒径分布反演的索套回归方法-CN201610492947.8有效
发明人：阮秀凯;谈燕花;蔡启博;朱海永;崔桂华;张耀举;戴瑜兴;刘泽华;黄立棋;劳立营;黄浩霖 -专利权人：温州大学
申请日： 2016-06-24 - 公布日： 2018-08-07 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光散射法颗粒粒径分布反演的索套回归方法，通过利用己知的激光波长、相对折射率和散射光强数据等信息获得测量区域内颗粒的粒径分布。本发明主要针光散射法粉尘颗粒检测中，实际的测量系统中散射光强分布数据是可通过测量装置得到，但是颗粒的粒径是未知的，需要进行反演获得的场合。主要针对用于颗粒粒径测量中粒径的反演问题种的搜索计算容易陷入局部最优、光能分布系数矩阵系数矩阵病态问题。在先验信息不充分的条件下，本发明方法相对于传统反演算法，反演得出的结果更可靠。
一种散射颗粒粒径分布反演回归方法

[发明专利]颗粒粒径分布的测量方法、装置、存储介质及电子设备-CN202310614950.2在审
发明人：张世超;魏青;吴军 -专利权人：中铝郑州有色金属研究院有限公司
申请日： 2023-05-25 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G06T7/62 文献下载
摘要：本申请的实施例提供了一种颗粒粒径分布的测量方法、装置、存储介质及电子设备，所述方法包括：对获得的待测量颗粒图像进行颗粒轮廓提取以得到待分割图像，所述待测量颗粒图像中包含标尺信息；从所述待分割图像中识别满足预设要求的轮廓区域，作为大颗粒区域，并对所述大颗粒区域进行标记；对所述待分割图像中未被标记的轮廓区域进行轮廓分割以得到颗粒轮廓图像；基于所述标尺信息和所述颗粒轮廓图像测量颗粒的粒径分布。本申请的实施例提供的技术方案能提高测量颗粒粒径分布的准确度。
颗粒粒径分布测量方法装置存储介质电子设备

[发明专利]颗粒粒径测量方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202010460736.2有效
发明人：黄鹭;高思田;施玉书;孙淼;李伟;李琪;李适 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2020-05-27 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本申请涉及一种颗粒粒径测量方法、装置、计算机设备和存储介质。基于多个角度与多个角度颗粒粒径、多个样品浓度与多个第一颗粒粒径，分别对多个角度颗粒粒径、多浓度条件下颗粒粒径采用多项式拟合的数学方法进行拟合，获得颗粒粒径随角度、浓度变化的趋势，进行回归分析预测，可以根据实际样本数据建立自变量与因变量的关系，进而预测出0°散射角和0样品浓度条件下对应的颗粒粒径。通过所述颗粒粒径测量方法可以消除颗粒间长程作用力、大颗粒自身散射信号互相干涉带来的粒径测量误差，解决了单一角度测量无法分析和消除误差的问题，并且解决了不同仪器、不同浓度和类型样品测量结果偏差大的问题。
颗粒粒径测量方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]单个纳米颗粒粒径的测量方法-CN201510529572.3有效
发明人：白本锋;肖晓飞 -专利权人：清华大学
申请日： 2015-08-26 - 公布日： 2018-01-23 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种单个纳米颗粒粒径的测量方法，包括预估待测的纳米颗粒的种类及粒径的分布范围；制作标准纳米颗粒的样本；得到第一基板上一预定区域的每个标准纳米颗粒的粒径大小，将获得的测量数据作为基准；获取所述预定区域内标准纳米颗粒的散射光斑的暗场显微图像；获得对应于每个标准纳米颗粒的散射光斑强度；建立起标准纳米颗粒的散射光斑强度与标准纳米颗粒粒径之间的对应关系；制作待测纳米颗粒的样本；获取待测纳米颗粒的散射光斑的暗场显微图像；以及获得对应于每个待测纳米颗粒的散射光斑强度，并根据建立起的纳米颗粒的标准散射光斑强度与标准纳米颗粒粒径之间的对应关系，得到暗场显微图像中待测纳米颗粒的粒径。
单个纳米颗粒粒径测量方法

[发明专利]金属纳米颗粒粒径的测量方法-CN201510301828.5有效
发明人：白本锋;肖晓飞 -专利权人：清华大学
申请日： 2015-06-05 - 公布日： 2018-04-10 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明提供一种金属纳米颗粒粒径的测量方法，包括提供一金属纳米颗粒粒径的测量系统；校准金属纳米颗粒粒径测量系统，得到参考光与测量光的强度比，作为基准及，和为选取的特征波长；预估金属纳米颗粒种类及粒径的分布范围；根据选取的两个特征波长λ1及λ2，建立金属纳米颗粒在两个波长和处的吸光度比值与粒径与之间的关系；根据两个特征波长λ1及λ2，建立修正后的吸光度比值与平均粒径与之间的修正关系；将金属纳米颗粒承载于所述样品池，测量金属纳米颗粒的透过率、，获得吸光度和其比值；以及将上述得到的吸光度的比值，分别代入修正前的关系和修正后的吸的修正关系中，得到待测纳米颗粒样品的修正前的平均粒径及修正后的平均粒径。
金属纳米颗粒粒径测量方法

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