专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]存储装置、其操作方法及控制电路-CN202110515845.4在审
  • 郑映燉 - 爱思开海力士有限公司
  • 2021-05-12 - 2022-04-15 - G11C29/12
  • 所述存储装置包括缓冲电路,该页缓冲电路包括多个缓冲级,该多个缓冲级各自包括多个缓冲。该存储装置还包括控制电路,该控制电路被配置为产生用于控制所述多个缓冲缓冲控制信号。该控制电路还被配置为通过与由所述缓冲控制信号构成的多个缓冲控制信号组中的每一个缓冲控制信号组对应的探测路径来探测所述多个缓冲控制信号组中的每一个缓冲控制信号组。
  • 存储装置操作方法控制电路
  • [发明专利]用于稳定内部电压的存储设备及稳定其内部电压的方法-CN202010200570.0在审
  • 朴庸河;金埰勋;南尚完 - 三星电子株式会社
  • 2020-03-20 - 2020-10-20 - G11C5/14
  • 提供了一种控制存储设备方法,该存储设备包括缓冲电路,所述缓冲电路包括多个缓冲,每个缓冲包括至少一个锁存。该方法包括:由内部电压电路生成内部电压当中的用于所述缓冲电路的操作的至少一个内部电压,其中所述内部电压电路向所述缓冲电路提供所述至少一个内部电压;向所述缓冲电路提供用于形成在所述内部电压电路和不用于在所述缓冲电路中进行缓冲的所述多个缓冲中的第一缓冲的第一电节点之间、在对所述多个缓冲中的第二缓冲的第一锁存的设定操作期间的电连接的控制信号。
  • 用于稳定内部电压存储器设备方法
  • [发明专利]存储装置-CN202211370395.5在审
  • 曺溶成;金珉辉;平野诚 - 三星电子株式会社
  • 2022-11-03 - 2023-05-12 - G11C7/18
  • 提供一种存储装置。所述存储装置包括存储单元阵列和缓冲电路,其中,缓冲电路包括:缓冲单元,包括上部缓冲单元和下部缓冲单元;以及高速缓存单元,布置在上部缓冲单元与下部缓冲单元之间。每个缓冲单元包括感测节点和通道晶体管。上部高速缓存单元共享第一组合感测节点,并且下部高速缓存单元共享第二组合感测节点。在数据传输时段中,分别包括在缓冲单元中的感测节点通过分别包括在缓冲单元中的通道晶体管的串联连接来彼此电连接。
  • 存储器装置
  • [发明专利]存储装置以及操作该存储装置的方法-CN202010348182.7在审
  • 刘炳晟 - 爱思开海力士有限公司
  • 2020-04-28 - 2021-02-09 - G06F3/06
  • 该存储装置可包括:存储装置,其包括存储单元阵列和缓冲;以及存储控制,其包括写缓冲。存储装置还可包括缓冲状态确定缓冲状态确定被配置为基于缓冲的状态来生成缓冲状态信号并将该页缓冲状态信号提供给存储控制。存储控制还可包括写操作控制,写操作控制被配置为响应于缓冲状态信号将从主机提供的数据提供给缓冲或写缓冲,并且基于写缓冲的状态来控制存储装置将存储在缓冲中的数据编程到存储单元阵列。
  • 存储装置以及操作方法
  • [发明专利]缓冲电路和包括缓冲电路的非易失性存储装置-CN202110684480.8在审
  • 曺溶成;田炳宽 - 三星电子株式会社
  • 2021-06-21 - 2022-02-22 - G11C16/26
  • 提供了缓冲电路和包括缓冲电路的非易失性存储装置。非易失性存储装置包括包含存储单元的存储单元阵列和缓冲电路。缓冲电路包括多个缓冲单元和多个高速缓存锁存。多个高速缓存锁存沿第一水平方向与多个缓冲单元间隔开,并对应于多个缓冲单元中的相应缓冲单元。每个缓冲单元包括连接到每个感测节点并响应于传输控制信号而被驱动的传输晶体管。缓冲电路被配置为基于执行用于将从第一部分页缓冲单元提供的数据从第一部分高速缓存锁存输出到数据输入/输出(I/O)线的第一数据输出操作,执行被配置为将来自第二部分页缓冲单元的感测数据转储到第二部分高速缓存锁存的数据传送操作
  • 缓冲器电路包括非易失性存储器装置
  • [发明专利]非易失性存储装置-CN202111330921.0在审
  • 李明雨;金采勳;金志桓;宋仲镐 - 三星电子株式会社
  • 2021-11-11 - 2022-07-29 - G11C16/10
  • 提供一种非易失性存储装置。所述非易失性存储装置包括:存储单元阵列,在第一半导体层中并且包括连接到第一字线和第一位线的第一存储单元和连接到第一字线和第二位线的第二存储单元;缓冲电路,在第二半导体层中并且包括连接到第一位线的第一缓冲和连接到第二位线的第二缓冲;以及缓冲控制,在第二半导体层中。缓冲控制控制第一缓冲和第二缓冲,使得第一缓冲的第一感测节点的发展时序与第二缓冲的第二感测节点的发展时序不同。第一缓冲比第二缓冲靠近贯穿电极区域。
  • 非易失性存储器装置
  • [发明专利]存储装置及其操作方法-CN201810047368.1有效
  • 权敬桓;蔡昇完 - 爱思开海力士有限公司
  • 2018-01-18 - 2022-05-03 - G11C29/12
  • 一种支持内建自测BIST操作的存储装置包括:多个存储单元;缓冲组,所述缓冲组包括分别通过位线联接至所述多个存储单元的缓冲电路;内建自测BIST控制,所述BIST控制被配置为生成要存储在所述缓冲电路中的图案数据和要与从所述缓冲电路获得的感测数据进行比较的参考数据,并且被配置为将所述参考数据与所述感测数据进行比较;以及输入/输出控制电路,所述输入/输出控制电路被配置为将所述图案数据输入到所述缓冲电路,并且将所述感测数据从所述缓冲电路传送到所述BIST控制
  • 存储装置及其操作方法
  • [发明专利]半导体存储设备和操作半导体存储设备的方法-CN202110609567.9在审
  • 金在雄 - 爱思开海力士有限公司
  • 2021-06-01 - 2022-04-22 - G11C16/10
  • 本公开的实施例涉及半导体存储设备和操作半导体存储设备的方法。半导体存储设备包括存储块和外围电路。存储块包括正常缓冲。正常中的每个正常包括存储N位数据的存储单元。缓冲中的每个缓冲包括存储一位数据的存储单元。外围电路接收第一数据,并且在第一缓冲中对第一数据执行单级单元(SLC)编程。另外,外围电路接收第二数据,并且在第二缓冲中对第二数据执行SLC编程。另外,外围电路基于分别在第一和第二缓冲中编程的第一和第二数据,对正常执行多级编程操作。
  • 半导体存储器设备操作方法
  • [发明专利]存储装置和操作存储装置的方法-CN201610974364.9有效
  • 朴商秀;沈炯教 - 三星电子株式会社
  • 2016-11-04 - 2021-05-04 - G11C8/06
  • 存储装置包括存储单元阵列和缓冲电路。存储单元阵列包括多个存储单元,而且所述多个存储单元被划分为第一存储组和第二存储组。第一缓冲组耦合至第一存储组并且包括多个第一缓冲。第二缓冲组耦合至第二存储组并且包括多个第二缓冲。第一缓冲组针对储存在第一缓冲组中的数据执行第一数据处理操作,并储存第一数据处理操作的结果。第二缓冲组针对储存在第二缓冲组中的数据执行第二数据处理操作,并储存第二数据处理操作的结果。第一数据处理操作和第二数据处理操作基本上同时执行。
  • 存储装置操作方法

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