专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]液位指示系统及接触冲洗电路-CN201120272415.6有效
  • 查桢;白日光;屈晨竹 - 联合汽车电子有限公司
  • 2011-07-29 - 2012-04-18 - G01F23/24
  • 本实用新型公开了一种液位指示系统,包括两线制液位传感器、液位仪表、接触冲洗电路;所述接触冲洗电路的冲洗信号端接所述液位仪表的液位信号端,所述接触冲洗电路的冲洗信号端当所述液位仪表产生的周期性脉冲下降沿到来后迟延一设定的脉冲延时时间输出一冲洗脉冲本实用新型还公开了一种接触冲洗电路。本实用新型将较高的直流电压引入两线制液位传感器,从而击穿接触,对两线制液位传感器进行大电流冲洗,提高两线制液位传感器的信号质量,使液位高度-电阻值对应关系准确,进而使液位仪表能准确指示液位。
  • 指示系统接触电阻冲洗电路
  • [发明专利]一种测量无焊压入式连接的接触的方法-CN201611036099.6有效
  • 徐叶;张唯;买华;翟勇;周少琼;陈优珍;张广鹏 - 北京铁路信号有限公司
  • 2016-11-22 - 2020-04-24 - G01R27/02
  • 本发明提供了一种测量无焊压入式连接的接触的方法,用于测量在印制板上有电连接的两个镀覆孔处的接触,包括以下步骤:取两个插针,分别测量两个所述插针的第一电阻,将两个所述第一电阻相加得第二电阻;在两个所述镀覆孔均没有压入压针的情况下,测量两个所述镀覆孔的焊盘之间的第三电阻;将两个所述插针与两个所述镀覆孔一一对应,并将所述插针的一端压入所述镀覆孔,然后测量两个所述插针远离所述镀覆孔的一端之间的第四电阻;将所述第四电阻减去所述第二电阻与所述第三电阻的和,所得差值的一半即为所要测量的接触。本发明提供的方法有利于降低测量误差且测量效率更高,使测量更加真实可靠。
  • 一种测量无焊压入式连接接触电阻方法
  • [发明专利]半导体-金属接触率检测方法、阵列基板-CN201410705018.1在审
  • 李纪;陈传宝 - 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
  • 2014-11-27 - 2015-03-11 - G01R27/08
  • 本发明提供一种半导体-金属接触率检测方法、阵列基板,属于阵列基板检测技术领域,其可解决现有的阵列基板有源区接触检测方法准确性差的问题。本发明的半导体-金属接触率检测方法中,待检测的半导体层上有至少3个形状和尺寸相同,且相互平行、间隔、相对设置的金属条;所述半导体-金属接触率检测方法包括:确定多个检测组,每个检测组中有两个金属条,不同检测组的两个金属条的两相对表面间的距离不同;依次分别在各检测组的两个金属条间通电流,并检测两个金属条间的电压;根据各检测组的两个金属条间的电流和电压计算出半导体-金属接触率。本发明可用于检测阵列基板的薄膜晶体管的有源区与源漏极间的接触
  • 半导体金属接触电阻率检测方法阵列
  • [实用新型]一种电器元件触点电阻检测装置-CN202221090654.4有效
  • 贺明珠;吴玉成;崔扬帆;王华剑;班唯;徐晓伟 - 襄阳国铁机电股份有限公司
  • 2022-05-06 - 2022-11-18 - G01R27/02
  • 本实用新型公开了一种电器元件触点电阻检测装置,包括微型继电器组、连接线、逻辑控制器以及多功能接触测量仪,所述连接线用于将待测电器元件的触点组触点连接至所述微型继电器组的相应触点,所述微型继电器用于控制待测电器元件触点组间的切换,所述逻辑控制器与所述微型继电器连接,用于控制所述微型继电器的开启和关闭,所述多功能接触测量仪的数据端口与所述微型继电器连接,用于采集待测电器元件的触点电阻数据,所述多功能接触测量仪的通讯口与上位机通讯连接,用于将采集的所述触点电阻数据传输至所述上位机。本实用新型的电器元件触点电阻检测装置,提高测量结果的准确性,降低检测工作量,提高检测效率。
  • 一种电器元件触点电阻检测装置
  • [发明专利]探针卡的检测方法-CN201310199768.1有效
  • 唐莉 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2013-05-24 - 2017-02-08 - G01R35/00
  • 一种探针卡的检测方法,包括提供晶圆,在所述晶圆上分布多个导电区,至少两个导电区电连接且任意一个导电区只与一个导电区电连接;将所述探针卡上的探针与晶圆上的导电区对位;测得与电连接的两个导电区对位的两个探针之间的接触;若所述接触位于预期电阻范围内,则判定对应所述接触的两个探针合格;若所述接触超出预期电阻范围,则判定对应所述接触的两个探针不合格。
  • 探针检测方法
  • [发明专利]一种用于化学转化膜接触测试的设备与方法-CN201110247972.7有效
  • 刘建;何恒;刘晓燕;迟玉成 - 四川成发航空科技股份有限公司
  • 2011-08-24 - 2012-01-04 - G01R27/02
  • 一种用于化学转化膜接触测试的设备,包括电子拉力机、上测头和下测头,上测头由上电极和上夹具组成,下测头由下电极和下夹具组成。一种化学转化膜接触的测试方法,使用上述设备,并配置数字微欧计,操作如下:预热数字微欧计,启动电子拉力机,并设定工作模式和控制参数,安装上测头和下测头;将化学转化膜接触试片放置在下电极的上端面,操作电子拉力机使其移动头带着上测头向下运动至上电极下端面与化学转化膜接触试片接触;将数字微欧计与上电极、下电极和上夹具连接;操作电子拉力机对化学转化膜接触试片的各测试点加载施压,当所施加的压力稳定在测试所要求的压力时,读取数字微欧计上的电阻显示值并予以记录。
  • 一种用于化学转化接触电阻测试设备方法

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