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[发明专利]一种渗流力的量测装置及其量测方法-CN201611046278.8有效
发明人：陈勇;邓合玉;刘梦琴;赵强 -专利权人：三峡大学
申请日： 2016-11-22 - 公布日： 2019-11-08 - 主分类号： G01N13/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种渗流力的量测装置及其量测方法，它包括土样室桶身，所述土样室桶身上端安装有水压力室桶身，所述土样室桶身内部上端放置与土样室桶身内壁直径相同的上透水石，所述土样室桶身下端与渗出水收集室桶身上端连接可用于对比分析研究实际量测值与理论计算值的差距及其原因。
桶身土样水收集室渗出水压力室导水管量测装置饱和器渗流力压力盒量测水压传感器底部连接顶部设置顶部中心对比分析理论计算上透水石桶身内壁桶身内部下透水石压力系统上端长螺栓实际量底座夹紧可用研究

[发明专利]蚀刻速率量测装置及侧向蚀刻速率的量测方法-CN201910634590.6有效
发明人：梅园 -专利权人： TCL华星光电技术有限公司
申请日： 2019-07-15 - 公布日： 2021-12-24 - 主分类号： G01N29/02 文献下载
摘要：一种蚀刻速率量测装置及侧向蚀刻速率量测方法被提供,所述蚀刻速率量测装置包括:石英晶体振荡片,用于输出一振荡频率；集流体层,均匀地形成于所述石英晶体振荡片上,作为一电极；薄膜金属层,形成于所述集流体层上；所述侧向蚀刻速率量测方法经由所述蚀刻速率量测装置并根据方程式(1)获得一待量测薄膜金属层的侧向蚀刻速率:蚀刻速率装置侧向方法

[发明专利]检测不平衡盘片的盘片读取装置与方法-CN200410082584.8无效
发明人：庄政洁;吴松锟 -专利权人：明基电通股份有限公司
申请日： 2004-09-21 - 公布日： 2006-03-29 - 主分类号： G11B7/00 文献下载
摘要：一种检测不平衡盘片的盘片读取装置与其方法是被揭露。盘片读取装置以一特定电压驱动盘片。盘片读取装置包含第一量测单元、第二量测单元、寄存单元、计算单元以及数据表。第一量测单元用于量测第一参数，且第二量测单元用于量测第二参数。当第一量测单元所量测的第一参数为第一预定值时，寄存单元将第二量测单元所量测的第二参数记录为第一对应值。当第一量测单元所量测的第一参数为第二预定值时，寄存单元将第二量测单元所量测的第二参数记录为第二对应值。其中计算单元计算第一对应值与第二对应值的差值，并依据差值由数据表得到盘片所对应的平衡状态。
检测不平衡盘片读取装置方法

[发明专利]配电网状态估计量测数据的处理方法-CN202110471786.5在审
发明人：何西;董恒;陈孟娜;刘柏伸;贺飞 -专利权人：湖南工学院
申请日： 2021-04-29 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： H02J3/00 文献下载
摘要：配电网状态估计量测数据的处理方法，涉及电力系统安全技术领域，包括微型同步相量测量装置D‑PMU的量测数据和高级量测体系AMI的量测数据的处理方法，通过对微型同步相量测量装置D‑PMU的量测数据和高级量测体系AMI的量测数据的处理，处理后的微型同步相量测量装置D‑PMU的量测数据和高级量测体系AMI的量测数据与配网SCADA系统的数据构成一个混合量测系统来实现配电网状态估计。通过处理D‑PMU的量测数据，解决雅可比矩阵病态构造的问题；对AMI量测的低压节点负荷进行超短期预测，得到了同一时间断面注入功率数据。本发明还提出了一种抗虚假数据攻击方法，基于上述的配电网状态估计量测数据的处理方法，通过伪D‑PMU量测数据来提高量测冗余度，达到抗虚假数据攻击的目的。
配电网状态计量数据处理方法

[发明专利]晶圆量测方法、装置及计算机可读存储介质-CN202010206801.9有效
发明人：曹盛宗 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-03-23 - 公布日： 2022-05-31 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及半导体领域，公开了一种晶圆量测方法、装置及计算机可读存储介质，包括：获取待量测晶圆的待量测图像和预设量测点，并获取所述待量测图像内的异常区域；若所述预设量测点位于所述异常区域内，根据所述异常区域，在所述异常区域外获取目标量测点；通过所述目标量测点对所述待量测晶圆进行量测。与现有技术相比，本发明实施方式所提供的晶圆量测方法、装置及计算机可读存储介质具有提升晶圆量测结果准确性的优点。
晶圆量测方法装置计算机可读存储介质

[发明专利]跨断层埋地管线原位试验量测系统-CN201310022683.6有效
发明人：薛娜;李鸿晶;罗韧;李忠良;陈孟尧;廖旭;邢浩洁;李秀菊 -专利权人：南京工业大学
申请日： 2013-01-22 - 公布日： 2013-05-15 - 主分类号： G01N3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种跨断层埋地管线原位试验量测系统，该量测系统包括：加载控制量测装置（1）用以控制加载位错量以及垂直运动装置（13）和水平运动装置（14）的水平加载状态；应变量测装置（2）用于测量试验管线（16）的法向、切向应变反应；位移量测装置（3）用于在地表上侧观测断层作用下埋地管线的竖向和水平方向的位移反应；内压量测装置（4）用于控制试验管线（16）内的介质工作压力；主机（5）用于对加载控制量测装置（1）、应变量测装置（2）、位移量测装置（3）和内压控制装置（4）的数据整理分析后得出验证结果。本发明提出的新型埋地管线原位试验断层反应和加载控制量测系统，试验接近实际，分析结果可靠有效。
断层管线原位试验系统

[发明专利]激光调阻系统-CN201910393097.X在审
发明人：王喆;陈德佳;吴继东;成学平 -专利权人：深圳市杰普特光电股份有限公司
申请日： 2019-05-13 - 公布日： 2019-07-30 - 主分类号： H01C17/242 文献下载
摘要：激光调阻系统包括电阻连接装置、通道转换装置、量测装置、主控装置和调阻装置。电阻连接装置在使用时与待调电阻电连接。通道转换装置与电阻连接装置电连接。量测装置包括比较电路和量测电路，量测电路与通道转换装置电连接，量测电路经通道转换装置为待调电阻提供量测电流，并经通道转换装置和电阻连接装置测量待调电阻的电压值，比较电路与量测电路电连接，比较电路用于判断待调电阻的电压是否达到预设值主控装置分别与量测电路和通道转换装置电连接。调阻装置分别与主控装置和量测电路电连接。激光调阻系统可以在待调电阻达到预设值后快速响应，且可以实现对不同的待调电阻的连续调阻。
通道转换装置电连接电阻量测电路电阻连接激光调阻主控装置量测装置量测预设快速响应装置测量连续调申请

[实用新型]激光调阻系统-CN201920676677.5有效
发明人：王喆;陈德佳;吴继东;成学平 -专利权人：深圳市杰普特光电股份有限公司
申请日： 2019-05-13 - 公布日： 2020-02-28 - 主分类号： H01C17/242 文献下载
摘要：激光调阻系统包括电阻连接装置、通道转换装置、量测装置、主控装置和调阻装置。电阻连接装置在使用时与待调电阻电连接。通道转换装置与电阻连接装置电连接。量测装置包括比较电路和量测电路，量测电路与通道转换装置电连接，量测电路经通道转换装置为待调电阻提供量测电流，并经通道转换装置和电阻连接装置测量待调电阻的电压值，比较电路与量测电路电连接，比较电路用于判断待调电阻的电压是否达到预设值主控装置分别与量测电路和通道转换装置电连接。调阻装置分别与主控装置和量测电路电连接。激光调阻系统可以在待调电阻达到预设值后快速响应，且可以实现对不同的待调电阻的连续调阻。
激光系统

[实用新型]配置有多波段低通滤波电路的量测装置-CN200920156001.X有效
发明人：吴昭明 -专利权人：承永资讯科技股份有限公司
申请日： 2009-05-15 - 公布日： 2010-02-17 - 主分类号： G01R15/12 文献下载
摘要：本实用新型为配置有多波段低通滤波电路的量测装置，包括：输入电路；多波段低通滤波电路，与输入电路连接；频率量测电路，与前述滤波电路连接并输出频率量测值至显示器上；均方根值转换器，与前述滤波电路连接；电压量测电路，与均方根值转换器连接并输出电压量测值至显示器；控制器，与滤波电路、频率量测电路及电压量测电路连接，用以控制量测装置的运作；及频率切换开关，配置于量测装置的外壳并与控制器连接。
配置波段滤波电路装置

[发明专利]可调式光学量测治具及其量测方法-CN200710124821.6有效
发明人：夏时俊 -专利权人：群康科技（深圳）有限公司;群创光电股份有限公司
申请日： 2007-12-05 - 公布日： 2009-06-10 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供一种可调式光学量测治具及采用该可调式光学量测装置量测液晶显示装置的量测方法。该可调式光学量测治具包括一承载基板、一夹持基板及一转轴，其中该承载基板包括一容置槽，该夹持基板包括一与该容置槽相对应的收容腔，该承载基板与该夹持基板间隔层叠设置，该转轴夹在该承载基板与该夹持基板之间。该量测治具通过旋转调节实现待量测液晶显示装置的光学膜片更换，简化量测工序，有效提高其量测效率及量测精度。
调式光学量测治具及其方法

[发明专利]目标测量轨迹的获取方法及装置、存储介质、电子装置-CN202010130451.2有效
发明人：李冬冬;林辉;殷俊;苏运发 -专利权人：浙江大华技术股份有限公司
申请日： 2020-02-28 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： G06F16/29 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种目标测量轨迹的获取方法及装置、存储介质、电子装置，所述方法包括：获取量测对象对应的原始量测数据；通过匹配栅格地图，删除所述原始量测数据中包含的虚假量测数据，得到所述量测对象的第一量测数据以及所述量测对象在所述栅格地图中的属性参数；根据所述量测对象在所述栅格地图中的属性参数获取所述量测对象的目标量测轨迹以及所述目标量测轨迹的初始化参数，解决了现有技术中对于目标起始轨迹的确认精度不高的问题。
目标测量轨迹获取方法装置存储介质电子

[发明专利]一种无扰动三向收缩试验装置-CN201310522541.6无效
发明人：孙德安;张添锋;张俊然;关伟娜 -专利权人：上海大学
申请日： 2013-10-29 - 公布日： 2014-01-29 - 主分类号： G01N33/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种无扰动三向收缩试验装置，包括一个竖向量测装置放置在一个质量量测装置上；所述竖向量测装置为常规收缩仪，所述质量量测装置为平板电子称；所述竖向量测装置的底座上固定安装一个水平量测装置；试验时，由竖直量测装置的一个竖直量表量测试样的竖向收缩变形，由水平量测装置的周向均布的四个水平量表量测试验的水平向收缩变形，而由质量量测装置量测试样的质量。本发明可以方便量测收缩试验中试样体积和含水量变化情况，具有较好的测试精度，装置构造简单，操作方便，易于掌握，自动化程度高。
一种扰动收缩试验装置

[发明专利]面板装置及其检测方法-CN201510004609.0有效
发明人：江博仁 -专利权人：友达光电股份有限公司
申请日： 2015-01-06 - 公布日： 2017-08-15 - 主分类号： H01L23/544 文献下载
摘要：本发明公开一种面板装置及其检测方法，面板装置包括第一基板、第二基板、第一量测结构以及第二量测结构。第二基板与第一基板以面对面方式组立。第一量测结构配置于第一基板与第二基板其中一者上，并具有N个量测开口，其中N为正整数。第二量测结构配置于第一基板与第二基板其中一者上，并具有N个量测图案。各量测图案的面积对应地遮蔽住其中一个量测开口。在一选定量测方向上各量测图案的宽度不小于对应的其中一个量测开口的宽度，其中第一量测结构与第二量测结构由不同膜层构成。本发明的第一量测结构与第二量测结构可以用来准确的判断面板装置是否存在制程对位偏移。
面板装置及其检测方法

[发明专利]表面量测系统-CN201711136676.3有效
发明人：邱奕昌;蔡政廷;潘世耀;杨兰昇;郭修玮;锺绍恩 -专利权人：致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2017-11-16 - 公布日： 2021-04-09 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种表面量测系统，用以量测具低反射的表面的待测物。表面量测系统包含结露装置与量测装置。结露装置用以形成一液体层于待测物的表面上。结露装置包含腔体、控温气体源与增湿气体源。腔体用以容纳待测物。控温气体源连接至腔体，用以提供控温气体至腔体中以控制待测物的温度。增湿气体源连接至腔体，用以提供水气至腔体中以形成液体层于待测物的表面上。量测装置包含平台、光源与影像撷取装置。平台用以放置具有液体层的待测物。光源用以提供光束以照射平台上的待测物。影像撷取装置用以侦测自平台上的待测物散射的光束。通过在表面上形成液体层，可增加光束照射于表面上的散射量。因此影像具有高信噪比，表面能够被精准量测与提升量测速度。
表面系统

[发明专利]一种防止反射片被遮挡的结构、装置及方法-CN201710155039.4在审
发明人：薛翊国;王丹;李术才;李志强;陶宇帆;邱道宏;周炳桦;张开;夏腾;张学亮 -专利权人：山东大学
申请日： 2017-03-14 - 公布日： 2017-07-25 - 主分类号： G01C15/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种防止反射片被遮挡的结构、装置及方法，该装置包括量测件，量测件与锚固螺杆或锚固螺栓可拆卸连接且量测件突出于锚入体设置；贴片板，贴片板固定于量测件并在贴片板上黏贴反射片；保护罩，保护罩与量测件可拆卸连接用于覆盖量测件及反射片，通过将量测件突出于锚入体设置，量测件相对于锚固螺杆或锚固螺栓可拆卸设置，便于量测件及反射板的多次重复利用，同时，便于对该装置的携带。通过保护罩与量测件的可拆卸连接，便于在喷浆时对量测件及反射片的保护，避免对量测件造成的遮挡，从而影响测量精度；通过在贴片板上设置固定挡板，有效避免了反射片脱落，保证测量结果。
一种防止反射遮挡结构装置方法