专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]车载芯片的ECC校验管理方法、装置及存储介质-CN202310725192.1在审
  • 刘跃全;刘可;陈婷 - 上海水木蓝鲸半导体技术有限公司
  • 2023-06-16 - 2023-10-27 - G06F11/10
  • 本申请实施例公开了一种车载芯片的ECC校验管理方法、装置及存储介质,方法包括:获取第一待校验数据,其包括:数据内容;将数据内容与数据内容对应的第一物理地址信息进行拼接,得到第二待校验数据;对第二待校验数据进行校验,得到校验后数据,将校验后数据存入内存模块,不保存地址信息;在解码时,获取校验后数据,将该校验后数据与第二物理地址信息进行组合,得到待解码数据;对待解码数据进行解码,得到第二待校验数据;对第二待校验数据进行去地址操作,得到第一待校验数据,在其出现ECC错误时,上报总线地址。采用本申请实施例在节省存储空间的基础上,使得车载芯片能够满足更高功能安全等级的ECC校验功能。
  • 车载芯片ecc校验管理方法装置存储介质
  • [发明专利]模拟EEPROM的数据处理方法及装置-CN202310723048.4在审
  • 刘跃全;刘可;陈婷 - 上海水木蓝鲸半导体技术有限公司
  • 2023-06-16 - 2023-10-27 - G06F3/06
  • 本申请公开了一种模拟EEPROM的数据处理方法及装置。方法包括:将SRAM中的第一待处理数据写入第一存储区;第一存储区为当前有效数据所在的存储区,第一存储区是否为当前有效数据所在的存储区根据所述第一存储区的状态信息集合确定;在第一存储区达到存储阈值的情况下,将第一存储区中的有效数据复制至第二存储区;擦除第一存储区中的全部数据。实施本申请,可以在没有EEPROM的情况下存储需要保存的非易失性数据,从而可以在不影响程序执行的情况下实现快速读写访问的功能。
  • 模拟eeprom数据处理方法装置
  • [发明专利]烧录文件安全传输方法、计算设备及计算机可读存储介质-CN202310475610.6在审
  • 陈阳 - 上海水木蓝鲸半导体技术有限公司
  • 2023-04-28 - 2023-09-29 - H04L9/40
  • 本发明提供一种烧录文件安全传输方法、计算设备及计算机可读存储介质,该方法包括:获取本地用户发送的加扰镜像烧录信息,加扰镜像烧录信息包括至少一加扰镜像烧录文件;根据目标加扰镜像烧录文件的目标特征信息加密生成动态码,将动态码发送给本地用户;获取本地用户基于动态码加密生成的解密码,解密码根据加密种子生成,加密种子基于本地用户解析动态码后得到的目标特征信息确定;根据解密码获取发送权限,将目标加扰镜像烧录文件发送至烧录模块。通过该方法,本地用户与异地用户通讯过程中的信息始终处于加密状态,以及异地用户具有权限限制,有效防止外部恶意截取烧录信息,增强本地用户与异地用户之间通讯传输的安全性。
  • 文件安全传输方法计算设备计算机可读存储介质
  • [发明专利]烧录快速检测方法及计算设备-CN202310749421.3在审
  • 陈阳;林建军;王涛;吕振华 - 上海水木蓝鲸半导体技术有限公司
  • 2023-06-21 - 2023-09-22 - G06F8/61
  • 本发明公开了一种烧录快速检测方法及计算设备,其中,方法包括:获取上位机发送的镜像烧录文件;采用指纹算法对目标烧录文件计算得到第二数据指纹信息;校验第二数据指纹信息和第一数据指纹信息是否一致;若第一数据指纹信息和第二数据指纹信息一致,向存储芯片发送镜像烧录文件;获取存储芯片针对第三数据指纹信息和第一数据指纹信息进行校验后发送的校验结果;根据校验结果向存储芯片发送控制指令以控制存储芯片执行相应操作。通过在具有运算能力的存储芯片的运算区域直接对存储区域中已烧录文件进行检测,从而减少通讯路径,提高检测效率,简化通讯流程,并且提高通讯安全性。
  • 快速检测方法计算设备
  • [实用新型]老化母板及老化测试组件-CN202320153921.6有效
  • 李萱;王源;陈曦 - 上海水木蓝鲸半导体技术有限公司
  • 2023-01-30 - 2023-08-29 - G01R31/28
  • 本申请提供了老化母板及老化测试组件。所述老化母板包括多个拼接模组,所述多个拼接模组电连接,每个所述拼接模组包括:母板本体;电源接口,所述电源接口设于所述母板本体的边缘,所述电源接口用于电连接外部电源,或者,所述电源接口用于电连接相邻设置的拼接模组的电源接口;接地接口,所述接地接口设于所述母板本体的边缘,且与所述电源接口间隔设置,所述接地接口用于接地,或者,所述接地接口用于电连接相邻设置的拼接模组的接地接口;及多个接口单元,所述接口单元包括第一测试接口,所述第一测试接口用于电连接至少一种型号的老化子板。本申请提供的老化母板适配性高且设计成本低。
  • 老化母板测试组件
  • [实用新型]老化测试座、老化测试组件及老化测试装置-CN202320172473.4有效
  • 王源;李萱;杨斌 - 上海水木蓝鲸半导体技术有限公司
  • 2023-01-30 - 2023-08-29 - G01R1/04
  • 本申请提供了老化测试座、老化测试组件及老化测试装置。所述老化测试座包括承载底座,具有相连通的第一凹槽及第二凹槽,所述第二凹槽设于所述第一凹槽相对的两侧,所述第一凹槽用于收容待测芯片,所述第二凹槽与所述第一凹槽用于收容承载所述待测芯片的老化子板的部分,其中,所述第二凹槽贯穿所述承载底座的侧壁;及多个引脚,贯穿所述承载底座,且所述多个引脚显露于所述承载底座的两端,所述多个引脚的一端显露于所述承载底座的部分位于所述第一凹槽内,且用于电连接所述待测芯片,另一端显露于所述承载底座的部分背离所述第一凹槽,且用于电连接老化母板。本申请提供的老化测试座能够避免待测芯片的多次拆装,减少了老化测试成本。
  • 老化测试组件装置
  • [发明专利]闪存保护方法、装置、电子设备及存储介质-CN202211275186.2在审
  • 王洁;范硕;陈曦 - 上海水木蓝鲸半导体技术有限公司
  • 2022-10-18 - 2023-04-04 - G06F12/14
  • 本申请提供了一种闪存保护方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:处理器获取第一指令;所述处理器从所述寄存器中获取与所述第一闪存区域对应的第一指示信息,所述第一指示信息用于指示所述第一闪存区域的擦写权限,其中,所述第一指示信息是预先配置到所述寄存器中的;当所述第一指示信息指示所述第一闪存区域的擦写权限为可擦写时,则所述处理器执行所述指令,以擦除所述第一闪存区域中的信息或者向所述第一闪存区域写入信息;当所述第一指示信息指示所述第一闪存区域进行擦写的擦写权限为不可擦写时,则所述处理器反馈异常操作。
  • 闪存保护方法装置电子设备存储介质
  • [发明专利]芯片测试方法及相关装置-CN202211274503.9在审
  • 王洁;范硕;陈曦 - 上海水木蓝鲸半导体技术有限公司
  • 2022-10-18 - 2022-12-30 - G01R31/28
  • 本申请实施例公开了一种芯片测试方法及相关装置,方法包括:在芯片第一次被上电时,获取芯片的待校验信息,待校验信息包括P个备份trim信息;获取芯片的标准信息,标准信息包括P个标准trim信息;将P个备份trim信息与P个标准trim信息进行比对,得到比对成功的Q个备份trim信息;对Q个备份trim信息对应的校验信息进行校验,得到被校验成功的K个备份trim信息;根据被校验成功的K个备份trim信息进行加载操作,得到加载结果标志;启动处理器,读取加载结果标志;在加载结果标志满足预设条件时,确认芯片正常。采用本申请实施例能够提升芯片测试效率。
  • 芯片测试方法相关装置

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