专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于卷积神经网络的电力缺陷图像识别方法-CN201810342067.1有效
  • 袁霖 - 成都思晗科技股份有限公司
  • 2018-04-17 - 2021-09-17 - G06T7/00
  • 本发明公开了一种识别效率较高、稳定性较好的基于卷积神经网络的电力缺陷图像识别方法。该基于卷积神经网络的电力缺陷图像识别方法通过设计神经网络结构,网络优化方法建立一套特定领域的图像检测与特征描述算法,使用神经网络直接得到图片是否存在缺陷以及缺陷类别,同时输出缺陷所在区域,该网络具备同时处理识别多种缺陷的功能相比传统的hog/lbp特征提取方法,对多种缺陷类别具有适应性,且在这些缺陷类别上保持较高的精准度及查全率。基于神经网络的缺陷处理系统稳定性好,提高了输电线路巡检的自动化水平,降低了人工的劳动强度,便于快速准确的发现输电线路缺。适合电力输运系统缺陷检测技术领域推广应用。
  • 一种基于卷积神经网络电力缺陷图像识别方法
  • [发明专利]基于图像处理技术的钢结构焊接裂纹缺陷检测方法-CN202111615458.4有效
  • 邹建忠 - 武汉市鑫景诚路桥钢模有限公司
  • 2021-12-28 - 2022-03-22 - G06T7/00
  • 本发明公开了一种基于图像处理技术的钢结构焊接裂纹缺陷检测方法,涉及人工智能领域。主要包括:通过对采集到的焊缝表面图像进行处理得到第三图像,分别对第三图像中像素点的聚类后得到的各类别进行PCA,以获得各类别的近圆边缘概率并将近圆边缘概率小于预设第一阈值的类别保留,分别获得各保留后类别对应的方向向量,将相似度大于预设第二阈值的类别进行合并得到焊缝区域以获得裂纹区域,最终获得各裂纹区域的差异程度以确定裂纹区域中裂纹的实际深度。本发明实施例中焊缝裂纹缺陷检测过程无需人为干预,避免了繁琐的操作过程,提高了对于焊缝裂纹缺陷的检测效率。
  • 基于图像处理技术钢结构焊接裂纹缺陷检测方法
  • [发明专利]一种晶圆片外观缺陷的检测分析方法及系统-CN202310494976.8在审
  • 何建军;朱国强 - 江苏益芯半导体有限公司
  • 2023-05-05 - 2023-08-04 - G01N21/95
  • 本发明公开了一种晶圆片外观缺陷的检测分析方法及系统,包括以下步骤:步骤S1、将所述晶圆片实体进行强光源投射得到用于外观缺陷检测的晶圆片投影图,将晶圆片投影图进行单点量化得到多个晶圆片投影像素点,并将晶圆片投影像素点进行差异分簇得到多个晶圆片投影像素点簇;步骤S2、构建外观重叠缺陷样本,并基于外观重叠缺陷样本构建外观重叠缺陷分类器;步骤S3、利用外观重叠缺陷分类器中识别出晶圆片投影像素点簇对应的外观缺陷类别,并映射至晶圆片实体上得到晶圆片的存在外观缺陷的区域及类别本发明构建外观重叠缺陷分类器对晶圆片投影像素点进行缺陷类别的分类,无需人力视觉进行缺陷识别,有效的提高了缺陷识别的效率和精度。
  • 一种晶圆片外观缺陷检测分析方法系统
  • [发明专利]检测方法及系统、设备和存储介质-CN202110170994.1在审
  • 陈鲁;吕肃;张嵩 - 深圳中科飞测科技股份有限公司
  • 2021-02-08 - 2022-08-16 - G06T7/00
  • 一种检测方法及系统、设备和存储介质,包括:进行学习训练,获得用于识别缺陷类别的学习模型;提供多个待测图像数据;选取部分待测图像数据并使被选取的待测图像数据包含的缺陷具有不同的已知类别;从被选取的待测图像数据中提取每种目标类别缺陷的若干个目标样本作为第一支持样本;根据被选取的待测图像数据获取多个第一训练图像;利用第一支持样本和第一训练图像对网络进行学习训练,对学习模型进行模型迭代;根据剩余待测图像数据获取多个待测图像;从每种目标类别的第一支持样本中提取任意一个目标样本,与各个待测图像一同输入至网络中,对待测图像进行检测并识别缺陷类别
  • 检测方法系统设备存储介质
  • [发明专利]在表面改性方法中确定缺陷的方法和装置-CN202111003829.3在审
  • 迈克尔·赫伯特·奥尔舍尔;莫里茨·马蒂纽斯;大卫·马克·牛顿;乌密·伊吉特 - 福特全球技术公司
  • 2021-08-30 - 2022-03-01 - G06K9/62
  • 本发明提供一种用于确定在对部件的表面区域8执行表面改性方法时出现的缺陷7的计算机实施的方法。该方法包括以下步骤:提供图像序列5,图像序列5包括待评估的表面区域8的多个单独的图像6,每个单独的图像6显示表面区域8的图像细节9以及单独的图像6的图像细节9至少部分地重叠S2,将单独的图像6分配给至少两个图像类别10a、10b,其中至少一个图像类别10b具有有缺陷的属性,以下称为有缺陷的图像类别10b S4,检查图像序列5中可预定数量的直接连续的单独的图像6中的多个单独的图像6是否已经被分配到有缺陷的图像类别10bS5,以及,如果可预定数量的直接连续的单独的图像6中的多个单独的图像6已被分配给有缺陷的图像类别10b,则输出缺陷信号11S6。此外,本发明提供了用于确定在对部件的表面区域8执行表面改性方法时出现的缺陷7的装置和计算机程序。
  • 表面改性方法确定缺陷装置
  • [发明专利]一种镀金芯片缺陷检测系统和方法-CN202211534844.5有效
  • 王栋;潘磊;田野 - 杭州数途信息科技有限公司
  • 2022-11-30 - 2023-08-18 - G06T7/00
  • 本申请公开了一种镀金芯片缺陷检测系统和方法。所述系统包括:数据采集模块,用于采集镀金芯片图像;区域分割模块,用于采用机器视觉算法对所述镀金芯片图像进行区域分割,得到多个图像区域;以及缺陷检测模块,用于采用目标检测算法对所述多个图像区域中的每个图像区域进行缺陷检测,得到每个图像区域的缺陷检测结果;其中,所述缺陷检测结果包括缺陷类别缺陷位置和缺陷大小,所述目标检测算法为对不同缺陷类别引入惩罚权重的改进的目标检测算法。本申请解决相关技术中自动检测相关半导体元器件表面缺陷的问题的技术问题。
  • 一种镀金芯片缺陷检测系统方法
  • [发明专利]一种小样本缺陷分类方法和装置-CN201911218786.3在审
  • 刘杰;田继锋;谢馥励;邸顺然;张一凡 - 歌尔股份有限公司
  • 2019-12-03 - 2020-05-08 - G06T7/90
  • 本发明公开了一种小样本缺陷分类方法和装置。,按照分离后的部件将待测目标的原图像分割成至少两个包含有不同部件的子图像;对应每个子图像以及原图像,分别建立小样本分类模型,借助对应的分类模型,获得每个子图像的分类结果和原图像的分类结果,分类结果包括缺陷类别和对应的类别概率;根据所有子图像和原图像的分类结果,确定并输出待测目标的缺陷类别。本申请通过将待测目标进行部件分离,使用分离后的部件与待测目标本身作为多个分支分别进行缺陷分类,能够降低缺陷识别的复杂度,从而提高了缺陷识别的准确度,克服了小样本情况下传统缺陷分类方法结果不稳定的问题。
  • 一种样本缺陷分类方法装置

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