专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]图案缺陷检测方法-CN202180031114.0在审
  • 丸山浩太郎 - 塔斯米特株式会社
  • 2021-04-21 - 2022-12-23 - H01L21/66
  • 本方法通过扫描电子显微镜(50)生成包含形成在多个层上的多个图案的层叠结构(400)的反射电子图像,将包含CAD图案的虚拟层叠结构(300)的多个区域根据虚拟层叠结构(300)的深度方向上的CAD图案排列而分类为多个组,该CAD图案根据上述多个图案的设计数据而生成,进行反射电子图像上的多个图案中的至少一个与对应的CAD图案的匹配,计算与属于各组的区域对应的反射电子图像上的区域的亮度指标值,当亮度指标值在标准范围外时,确定在反射电子图像上的区域内有图案缺陷
  • 图案缺陷检测方法
  • [发明专利]图案缺陷检测方法-CN00108792.4无效
  • 胁谷康一;汤川典昭 - 松下电器产业株式会社
  • 2000-06-02 - 2000-12-13 - G06K9/20
  • 本发明揭示一种图案缺陷检测方法,是在这种预先登记正品图案,并对输入的对象图案和正品图案进行比较的图案缺陷检测方法中,比较正品图案和对象图案,检测在正品图案和对象图案中有差异的图案作为缺陷图案,并利用缺陷图案的轮廓线特征,分类检测缺陷图案。本发明提供能对各种图案缺陷进行分类并能确切地进行检测图案缺陷检测方法。
  • 图案缺陷检测方法
  • [发明专利]光罩及其检测方法、缺陷图案及其形成方法、装置和设备-CN202211215565.2在审
  • 薛慧慧;田锋;朱浩;吴大俊 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2022-09-30 - 2023-01-03 - G06T7/00
  • 本申请实施例提供一种光罩及其检测方法、缺陷图案及其形成方法、装置和设备,该方法包括:在待检测光罩的第一检测区上,确定第一检测区的图案中存在的第一缺陷的关键尺寸;基于第一检测区的图案和第一缺陷的类型,获取样品光罩中相同图案、相同缺陷类型中目标缺陷允许的关键尺寸范围,其中,样品光罩中具有目标缺陷图案转移到晶圆上形成的目标图案的关键尺寸在参考图案的关键尺寸范围内,参考图案为与第一检测区的图案相同但不包含缺陷的参考检测区的图案转移到晶圆上形成的图案;在第一缺陷的关键尺寸不在目标缺陷允许的关键尺寸范围内的情况下,确定待检测光罩为不良品。
  • 及其检测方法缺陷图案形成装置设备
  • [发明专利]一种缺陷检测方法-CN202310046257.X有效
  • 彭雄;黄灿阳;田野 - 粤芯半导体技术股份有限公司
  • 2023-01-31 - 2023-05-16 - H01L21/66
  • 本发明提供了一种缺陷检测方法,包括步骤:提供形成有绝缘介质层和图案化金属层的待检测晶圆;对图案化金属层的表面进行第一次缺陷扫描,以获得第一扫描图像,根据第一扫描图像确定图案化金属层的表面的缺陷位置信息;对图案化金属层暴露的部分绝缘介质层进行第二次缺陷扫描,以获得第二扫描图像,根据第二扫描图像确定图案化金属层的底部的缺陷位置信息。本发明的缺陷检测方法,在对图案化金属层的表面进行常规的第一次缺陷扫描之前或之后,对图案化金属层的底部进行第二次缺陷扫描,第二次缺陷扫描可对图案化金属层的底部内切缺陷进行自动线上检测,解决了现有的检测方法中,难以检测到底部内切缺陷的问题,提高了检测效率,确保了晶圆良率。
  • 一种缺陷检测方法
  • [发明专利]验证光学邻近效应校正的方法-CN202011096140.5在审
  • 金基盛 - 三星电子株式会社
  • 2020-10-14 - 2021-08-06 - G03F1/36
  • 一种验证光学邻近效应校正的方法,包括:生成包括目标图案的设计图案布局、通过执行光学邻近效应校正从设计图案布局生成校正图案布局、使用校正图案布局生成包括图像图案的轮廓图像、从轮廓图像的图像图案检测缺陷图案、以及使用缺陷图案的数据校正来校正图案布局。检测缺陷图案包括获取目标图案的重心的位置数据、获取图像图案的重心的位置数据、以及通过将缺陷图案检测基准与目标图案的重心和图像图案的重心之间的距离进行比较来确定图像图案是否为缺陷图案
  • 验证光学邻近效应校正方法
  • [发明专利]图案缺陷检查方法及图案缺陷检查装置-CN200810002122.9无效
  • 山口升;石川雄大 - HOYA株式会社
  • 2008-01-15 - 2009-01-07 - G03F1/00
  • 本发明提供一种图案缺陷检查方法,对具备单位图案周期性排列而成的重复图案的被检查体的、产生于所述重复图案中的缺陷进行检查,其中,具有:对所述重复图案以规定的入射角照射光而产生衍射光的工序;对来自所述重复图案的衍射光进行受光而成像的工序;通过对使所述衍射光成像后的图像进行观察,而检测产生于所述重复图案上的缺陷的工序。在对所述衍射光进行受光而成像的工序中,对来自所述重复图案的衍射光中绝对值为45级~1600级的超高级衍射光进行受光。
  • 图案缺陷检查方法装置
  • [发明专利]一种表面缺陷检测方法及装置-CN201911075797.0有效
  • 杨朝兴 - 合肥御微半导体技术有限公司
  • 2019-11-06 - 2022-04-19 - G01N21/88
  • 本发明提供一种表面缺陷检测方法及装置,涉及表面检测技术,表面缺陷检测方法包括:采用显示屏作为发光光源,并使得所述显示屏依次显示多幅亮暗相间图案照射待测物体;收集所述待测物体在所述多幅亮暗相间图案照射下产生的发射光及散射光以获取多幅图像;根据所述多幅图像获取待测物体的表面缺陷;其中,所述亮暗相间图案中的亮图案作为表面缺陷检测的光源,且任意两幅亮暗相间图案中亮图案在显示屏中的位置不同。本发明提供一种表面缺陷检测方法及装置,以获取缺陷对比度增强的图像,提高表面缺陷的检出率。
  • 一种表面缺陷检测方法装置
  • [实用新型]一种品检设备-CN202022024998.2有效
  • 林小博;刘璐 - 广州市普理司科技有限公司
  • 2020-09-16 - 2021-06-22 - G01N33/00
  • 本实用新型涉及喷印技术领域,公开了一种品检设备,包括上料装置、驱动装置、下料装置、检测装置、贴标装置和控制器,所述驱动装置驱动基材自所述上料装置向所述下料装置运动并形成包材路径,所述检测装置和所述贴标装置沿所述基材的运动方向依次设置于所述包材路径上,所述驱动装置、所述检测装置和所述贴标装置均和所述控制器电连接,所述检测装置用于检测缺陷图案,所述贴标装置用于在所述缺陷图案上贴设识别标签。本实用新型通过在检测缺陷图案时,控制器控制贴标装置将识别标签贴在缺陷图案上,工作人员可通过寻找识别标签便可找到缺陷图案,从而辅助工作人员寻找缺陷图案缺陷图案易于被找到。
  • 一种设备
  • [发明专利]一种非图案化表面缺陷的离线检测方法-CN201110202592.1有效
  • 胡华勇;林益世 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2011-07-19 - 2013-01-23 - G01N21/95
  • 本发明提供了一种离线检测图案化表面缺陷的方法,该方法在用于离线检测的具有非图案化晶片表面或具有非图案化薄膜或介质层的晶片表面制作具有高折射率和低吸收系数k的薄膜层作为介质制成半导体样品,用光学检测检测所述半导体样品中所述非图案化晶片表面或非图案化薄膜或介质层的表面缺陷,利用高折射率介质中入射光波长减小的特性,增大表面缺陷的散射光强度,该离线检测图案化表面缺陷的方法在无需改变检测仪器的光源发出的入射光波长以及其他物理条件的前提下,提高了离线检测图案化表面缺陷的灵敏度,同时节约检测成本。
  • 一种图案表面缺陷离线检测方法

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