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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]膜厚测定装置、膜厚测定方法及具有膜厚测定装置的研磨装置-CN201410330819.4在审
发明人：野村季和;饭泉健;渡边和英;小林洋一 -专利权人：株式会社荏原制作所
申请日： 2014-07-11 - 公布日： 2015-01-14 - 主分类号： B24B37/00 文献下载
摘要：一种膜厚测定装置，具有：将基板(W)支承成水平的基板台(87)；洗涤水供给部(90)，其将洗涤水供给到基板台(87)上的基板(W)整个表面；膜厚测定头(84)，其将光照射在基板台(87)上的基板(W)表面上的测定区域，生成来自测定区域的反射光的光谱，从该光谱确定基板(W)的膜厚；以及流体供给部(130)，其在光的光路上形成气体流，将该气体流施加到测定区域。采用本发明的膜厚测定装置及膜厚测定方法，可提高膜厚的测定精度。
测定装置方法具有研磨

[发明专利]测定方法以及测定装置-CN201110351217.3在审
发明人：北原信康;高桥邦充;大浦幸伸 -专利权人：株式会社迪思科
申请日： 2011-11-08 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明提供测定方法以及测定装置，能够高精度地测定形成于工件表面的保护膜的厚度。本发明的测定方法包括以下步骤：在晶片(W)上形成含有光吸收剂的保护膜(61)；向保护膜(61)照射测定光，接收因测定光的吸收而由保护膜(61)发出的光；参照表示与事先制作的保护膜(61)的厚度变化对应的、因保护膜(61)的发光引起的光谱变化的测定数据，根据保护膜(61)的发光强度测定保护膜(61)的厚度。
测定方法以及装置

[发明专利]高度测定装置-CN202210712231.X在审
发明人：清家将文;小林匡 -专利权人：罗姆股份有限公司
申请日： 2022-06-22 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01C5/06 文献下载
摘要：本发明提供一种能够抑制运算负荷并且使测定精度良好的高度测定装置。本公开的高度测定装置(1)具有：气压传感器(5)；及运算部(4)，获取电源接通时由所述气压传感器测定的大气压测定值作为大气压初始值(P0)，逐次计算所述气压传感器所测定的大气压测定值的变化量(ΔP)，基于所述大气压初始值与所述大气压测定值的变化量而逐次计算高度变化量(Δh)，基于所述高度变化量的累积而计算高度(h)。
高度测定装置

[发明专利]生物测定装置-CN200810211868.0有效
发明人：铃木俊;井上和磨 -专利权人：株式会社百利达
申请日： 2008-09-11 - 公布日： 2009-04-01 - 主分类号： A61B5/05 文献下载
摘要：本发明提供一种不需要设置机械性开关就能实现小型化，进而也不需要设置高精度的振动传感器、且以简易的结构就能减小电力消耗的生物测定装置。该生物测定装置包括：被配置成可与被测定者相接触的两个以上电极部件；判别至少两个所述电极部件是否通过所述被测定者的身体而正在通电的判别单元；用于测定所述被测定者的生物信息的测定单元；以及，根据由所述判别单元的判别结果使所述测定单元工作或不工作的控制单元
生物测定装置

[发明专利]生物体信息测定装置-CN201880017114.3在审
发明人：河野俊雄;大泷幸夫;下北良 -专利权人：阿尔卑斯阿尔派株式会社;和煦之光株式会社
申请日： 2018-03-09 - 公布日： 2019-11-05 - 主分类号： A61B5/1455 文献下载
摘要：提供能够判定是否被装戴在适于生物体信息测定的部位，由此能够进行在最佳的位置处的测定，能够确保一定的测定精度的生物体信息测定装置。具备：发光元件，发光出规定波长的测定光；受光元件，接受测定光经由被检体后的返回光；装戴判定部，基于受光元件中的返回光的受光光量，判定对被检体的装戴状态；以及测定部位判定部，在装戴判定部判定为被正确地装戴于被检体时，基于返回光的受光光量，判定测定部位的好坏。
判定被检体返回光判定部生物体信息测定装置测定部位受光元件测定光生物体信息发光元件位置处波长地装发光

[发明专利]量子产率计算方法、荧光分光光度计以及存储介质-CN201810356158.0有效
发明人：渡边康之 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-04-19 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：提供一种量子产率计算方法、荧光分光光度计以及存储介质，能够高精度地计算量子产率。在利用荧光分光光度计来计算量子产率时，校正处理部进行基于光子数(A1)和光子数(B1)来校正光子数(A2)的处理，光子数(A1)是空白测定状态下的激励光的光子数，光子数(B1)是样品测定状态下的激励光的光子数，光子数(A2)是空白测定状态下的荧光的光子数。因此，能够校正光子数(A2)来高精度地计算校正后背景光子数(A2′)。另外，量子产率计算处理部除了基于空白测定状态下的激励光的光子数(A1)和样品测定状态下的荧光的光子数(B2)以外，还基于校正后背景光子数(A2′)计算量子产率。因此，能够高精度地计算量子产率。
量子计算方法荧光分光光度计以及存储介质

[发明专利]一种人脸角度测定的人脸比对方法-CN201910737627.8有效
发明人：魏晓林;陈宏亮;汤贤巍;黄燕霞 -专利权人：上海天诚比集科技有限公司
申请日： 2019-08-12 - 公布日： 2023-06-16 - 主分类号： G06V40/16 文献下载
摘要：本发明公开了一种人脸角度测定的人脸比对方法，通过人脸局部特征识别和定位，根据人脸特征点的相对位置，测定人脸角度，从而在底库人脸中找到角度相近的人脸进行人脸比对，从而降低人脸角度对人脸比对结果的影响，提高人脸比对的精确度本发明的一种人脸角度测定的人脸比对方法可以应用于智慧社区安防相关人脸识别，从具体智慧社区安防有关人脸识别在以图搜图和人脸抓拍等应用场景中遇到的人脸识别精度问题出发，结合人脸识别过程中的影响因素分析，提出一种人脸角度测定和底库人脸多角度人脸数据源存储，在牺牲少量计算复杂度情况下，进一步提升人脸比对的精度。本发明的一种人脸角度测定的人脸比对方法具有精度高，识别准确率好的优点。
一种角度测定方法

[发明专利]生物体声音测定装置-CN201980082181.8在审
发明人：森田胜美;椎名崇之;福永诚治 -专利权人：欧姆龙健康医疗事业株式会社
申请日： 2019-12-18 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： A61B7/04 文献下载
摘要：本发明提供一种能够抑制摩擦声的产生而提高测定精度的生物体声音测定装置。生物体声音测定装置(1)具备：声音测定单元(3)，该声音测定单元包括与被检体的体表面(S)接触的接触面(30)；以及抓持部(10)，该抓持部支承声音测定单元(3)且由测定者抓持。至少抓持部(10)的表面中的除了在抓持部(10)由测定者抓持的状态下由测定者的手(Ha)覆盖的区域以外的第一区域为不具有角部的区域。
生物体声音测定装置

[发明专利]距离测定装置-CN201210230032.1有效
发明人：大室仁 -专利权人：株式会社尼康美景
申请日： 2012-07-04 - 公布日： 2013-01-09 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明提供在反射光的受光水平成为饱和状态时也能够高精度地测定距离的距离测定装置。距离测定装置的发光部朝向被测定物出射测定光。受光部，对从被测定物反射的反射光进行受光。距离计算部，基于从出射测定光时起到反射光的受光水平表示峰值的时刻为止的经过时间，求取到被测定物的距离。距离修正部，在受光水平成为饱和状态、峰值的时刻不能够确定时，根据受光水平饱和的时间的长度修正到被测定物的距离的值。
距离测定装置

[发明专利]原料的粒度分布测定装置、粒度分布测定方法以及空隙率测定装置-CN201880023175.0有效
发明人：山平尚史;西野嵩启;平田丈英;津田和吕;坪井俊树 -专利权人：杰富意钢铁株式会社
申请日： 2018-03-30 - 公布日： 2022-07-26 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：提供能够高精度地测定包含粗粒和细粒的原料的粒度分布的原料的粒度分布测定装置、粒度分布测定方法、以及使用所测定的粒度分布来测定空隙率的空隙率测定装置。原料的粒度分布测定装置，具有：粗粒测定装置，取得表示粗粒的粒度分布的信息；细粒测定装置，取得表示细粒的粒度分布的信息；以及运算装置，使用表示粗粒的粒度分布的信息来算出粗粒的粒度分布，使用表示细粒的粒度分布的信息来算出细粒的粒度分布
原料粒度分布测定装置方法以及空隙

[实用新型]砂轮主轴可靠性测定装置-CN201720285512.6有效
发明人：黄春韶;胡斌;杨思远 -专利权人：杭州杭机股份有限公司
申请日： 2017-03-22 - 公布日： 2017-12-05 - 主分类号： B24B41/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及精密机械测定领域，目的是提供一种砂轮主轴可靠性测定装置。一种砂轮主轴可靠性测定装置，包括设有砂轮主轴的主轴箱；所述的砂轮主轴可靠性测定装置还包括套设在砂轮主轴外的连接套，与连接套枢接的模拟砂轮，与连接套前端连接的扭矩加载装置，至少一个位于模拟砂轮外侧的径向力加载装置，至少一个位于模拟砂轮外侧的径向跳动测定装置，位于连接套外侧的转速测定装置。该砂轮主轴可靠性测定装置测定精度较高，测定效率较高。
砂轮主轴可靠性测定装置

[发明专利]轮胎用电阻测定装置及其测定方法-CN200680016931.4无效
发明人：村上浩生;内田伦道;后藤孝广 -专利权人：株式会社普利司通
申请日： 2006-04-11 - 公布日： 2008-05-07 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明提供一种轮胎用电阻测定装置及其测定方法，用该测定装置及其测定方法进行测定轮胎电阻的作业时不需要很长时间，而且，能够维持测定精度、保证轮胎的导电性性能。本发明的轮胎用电阻测定装置(10)具有用于测定轮胎(5)电阻值的第1探针(2)及第2探针(3)，其特征在于，将上述第1探针(2)抵接于胎面部(6)的外周面的多个部位，将1个上述第2探针(3)抵接于轮胎(5)的中央周边部，测定上述胎面部(6)与胎圈部(9)之间的电阻值。
轮胎用电测定装置及其方法

[发明专利]测定方法及测定装置-CN201110346590.X有效
发明人：北原信康;高桥邦充;大浦幸伸 -专利权人：株式会社迪思科
申请日： 2011-11-04 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明提供能够高精度地测定形成于工件表面的保护膜的厚度的测定方法及测定装置。本发明的测定方法具有：在晶片(W)上形成含有光吸收剂的保护膜(61)的步骤；通过保护膜(61)向晶片W照射测定光，接收来自晶片(W)的反射光的步骤；参照表示晶片(W)的反射强度相对于事先制作的保护膜(61)的厚度变化的变化的测定数据，由晶片(W)的反射强度测定保护膜(61)的厚度的步骤。
测定方法装置

[发明专利]电力智能检测表-CN201210263446.4无效
发明人：周辉 -专利权人：成都生辉电子科技有限公司
申请日： 2012-07-27 - 公布日： 2012-10-31 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：该电力智能检测表包括电压测定结构、电流测定结构、微处理器、数码显示管，电压测定结构、电流测定结构、数码显示管分别与微处理器接通。本发明的电压测定结构精度等级可达0.1级，电流测定结构采用磁环作为降噪结构，可以减小待测电流线路中的电流信号和其他电信号对电流互感器互感后的电流信号干扰作用，使得具有该降噪结构的电流测定表的准确度等级能够达到
电力智能检测

[发明专利]砂轮主轴可靠性测定装置及测定方法-CN201710175788.3在审
发明人：黄春韶;胡斌;杨思远 -专利权人：杭州杭机股份有限公司
申请日： 2017-03-22 - 公布日： 2017-08-18 - 主分类号： B24B41/04 文献下载
摘要：本发明涉及精密机械测定领域，目的是提供一种砂轮主轴可靠性测定装置及测定方法。一种砂轮主轴可靠性测定装置，包括设有砂轮主轴的主轴箱；所述的砂轮主轴可靠性测定装置还包括套设在砂轮主轴外的连接套，与连接套枢接的模拟砂轮，与连接套前端连接的扭矩加载装置，至少一个位于模拟砂轮外侧的径向力加载装置，至少一个位于模拟砂轮外侧的径向跳动测定装置，位于连接套外侧的转速测定装置。该砂轮主轴可靠性测定装置测定精度较高，测定效率较高。砂轮主轴可靠性测定装置的测定方法能满足砂轮主轴可靠性测定需要。
砂轮主轴可靠性测定装置方法

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