专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种米粒长度检测装置-CN202222862931.5有效
  • 彭玉慧;陈铖;时成铭;陈召桂 - 浙江五芳斋实业股份有限公司
  • 2022-10-28 - 2023-04-14 - G01B5/02
  • 本实用新型涉及一种米粒长度检测装置,包括面板,面板上设有米粒粒宽定挡条、米粒粒长定挡板、十块米粒粒宽动挡板和十块米粒粒长动挡板,米粒粒宽定挡条同米粒粒长定挡板垂直,米粒粒宽动挡板平行于米粒粒宽定挡条,米粒粒长动挡板平行于米粒粒长定挡板,米粒粒长动挡板同面板之间设有米粒粒长动挡板状态保持机构,米粒粒宽动挡板同面板之间设有平行度保持机构,米粒粒宽动挡板、米粒粒长动挡板、米粒粒宽定挡条和米粒粒长定挡板之间围成十个米粒储存格。本实用新型具有能够准确地检测出米粒粒长的优点,解决了现有的大米直接头尾对接在一起来检测粒长检测精度低的问题。
  • 一种米粒长度检测装置
  • [发明专利]一种米粒粒长检测方法-CN202211338832.5在审
  • 陈召桂;彭玉慧;韩宇坚;时成铭 - 浙江五芳斋实业股份有限公司
  • 2022-10-28 - 2023-01-06 - G01B5/02
  • 本发明涉及一种米粒粒长检测方法,通过米粒长度检测装置进行检测,米粒长度检测装置包括面板,面板上设有米粒粒宽定挡条、米粒粒长定挡板、十块米粒粒宽动挡板和十块米粒粒长动挡板,米粒粒宽定挡条同米粒粒长定挡板垂直,米粒粒宽动挡板平行于米粒粒宽定挡条,米粒粒长动挡板平行于米粒粒长定挡板,米粒粒长动挡板同面板之间设有米粒粒长动挡板状态保持机构,米粒粒宽动挡板同面板之间设有平行度保持机构,米粒粒宽动挡板、米粒粒长动挡板、米粒粒宽定挡条和米粒粒长定挡板之间围成十个米粒储存格。本发明具有能够准确地检测出米粒粒长的优点,解决了现有的大米直接头尾对接在一起来检测粒长检测精度低的问题。
  • 一种米粒检测方法
  • [发明专利]一种米粒粒宽检测方法-CN202211337977.3在审
  • 彭玉慧;曾敏;于福浩;陈召桂 - 浙江五芳斋实业股份有限公司
  • 2022-10-28 - 2023-04-04 - G01B5/02
  • 本发明涉及一种米粒粒宽检测方法,通过米粒粒宽度检测装置进行检测,米粒粒宽度检测装置包括面板,面板上设有米粒粒宽定挡板、米粒粒长定挡条和十块米粒粒宽动挡板,米粒粒宽动挡板平行于米粒粒宽定挡板,米粒粒宽动挡板沿米粒粒长定挡条的延伸方向分布,米粒粒宽动挡板同面板之间设有米粒粒宽动挡板状态保持机构,离米粒粒宽定挡板最近的米粒粒宽动挡板、米粒粒长定挡条和米粒粒宽定挡板之间围成第一米粒储存盲槽,相邻的两块米粒粒宽动挡板和米粒粒长定挡条围出第二米粒储存盲槽本发明具有能够准确地检测出米粒粒宽的优点,解决了现有的大米目测粒宽人工用手直接并肩摆齐头来检测粒宽所导致的检测精度低的问题。
  • 一种米粒检测方法
  • [实用新型]一种米粒粒宽检测机构-CN202222861922.4有效
  • 曾敏;彭玉慧;于福浩;陈召桂 - 浙江五芳斋实业股份有限公司
  • 2022-10-28 - 2023-03-24 - G01B5/02
  • 本实用新型涉及一种米粒粒宽检测机构,包括面板,面板上设有米粒粒宽定挡板、米粒粒长定挡条和十块米粒粒宽动挡板,米粒粒宽动挡板平行于米粒粒宽定挡板,米粒粒宽动挡板沿米粒粒长定挡条的延伸方向分布,米粒粒宽动挡板同面板之间设有米粒粒宽动挡板状态保持机构,离米粒粒宽定挡板最近的米粒粒宽动挡板、米粒粒长定挡条和米粒粒宽定挡板之间围成第一米粒储存盲槽,相邻的两块米粒粒宽动挡板和米粒粒长定挡条围出第二米粒储存盲槽。本实用新型具有能够准确地检测出米粒粒宽的优点,解决了现有的大米目测粒宽人工用手直接并肩摆齐头来检测粒宽所导致的检测精度低的问题。
  • 一种米粒检测机构
  • [发明专利]一种伪二维模型的均质随机粒径分布方法-CN202310546065.5在审
  • 李棉刚;梁惠施;周奎;贡晓旭;王姿尧;林俊;袁国强 - 清华四川能源互联网研究院
  • 2023-05-15 - 2023-08-15 - G06F30/20
  • 本发明提供了一种伪二维模型的均质随机粒径分布方法,包括以下步骤:采集电极活性材料颗粒粒径和概率密度,并生成电极活性材料颗粒粒径分布;根据电极活性材料颗粒粒径分布计算电极活性材料颗粒粒径累积分布函数,并根据电极活性材料颗粒粒径累积分布函数计算电极活性材料颗粒粒径累积分布反函数;根据电极活性材料颗粒粒径分布反函数,确定不同空间位置的颗粒粒径;对不同空间位置的颗粒粒径的颗粒活性比表面积进行校正。本发明提供的基于随机数的伪二维模型均质粒径分布方法能够在引入电极活性材料颗粒粒径分布的同时,不过度增加模型的计算量,从而兼顾锂离子电池电化学仿真模型的仿真精度和仿真速度,因此本发明具有高保真和高效率等优点
  • 一种二维模型随机粒径分布方法
  • [发明专利]一种抗腐蚀耐火锆刚玉砖-CN201510370626.6有效
  • 沈银根 - 湖州巨旺墙体材料有限公司
  • 2015-06-30 - 2017-07-28 - C04B35/66
  • 本发明公开了一种新型的抗腐蚀耐火锆刚玉砖的生产方法原料制备A颗粒粒度为2~4mm的熔铸锆刚玉颗粒;B颗粒粒度为1~2 mm的氧化铬颗粒;C颗粒粒度为2~3 mm的白刚玉细粉;D颗粒粒度为0.05~0.08mm的氧化铬细粉;E颗粒粒度为0.2~0.3mm的蓝晶石粉;F颗粒粒度为1~3mm的火山岩粉;G颗粒粒度为2~4mm的红柱石粉;配料砖体成型,然后进行干燥及烧成,得到抗腐蚀耐火锆刚玉砖。
  • 一种腐蚀耐火刚玉
  • [发明专利]一种基于二维拉曼光谱的颗粒粒度测量方法-CN201610257940.8有效
  • 林家海;陈达 - 天津智巧数据科技有限公司
  • 2016-04-21 - 2019-01-01 - G01N21/65
  • 本发明涉及一种基于二维拉曼光谱的颗粒粒度测量方法,包括:对于某种颗粒物质,选取已知颗粒粒度的各组颗粒物质,每组颗粒物质为相同颗粒粒度的颗粒物质,采集已知颗粒的各组颗粒物质的二维拉曼光谱;截取每组颗粒物质的特征拉曼谱峰;利用二维数据拟合方法获取特征拉曼谱峰的数学表达式;提取特征拉曼谱峰的半峰宽度W;拟合出颗粒物质的颗粒粒度P与半峰宽度W之间的关系式;对于待测量颗粒粒度的此种颗粒物质,采集其二维拉曼光谱,按照上述二维数据拟合分析的步骤,得到其半峰宽度W,然后,根据颗粒物质的颗粒粒度P与半峰宽度W之间的关系式,实现颗粒粒度P的测量。本发明可以简单、快速、无损地测量出物质的颗粒粒度。
  • 一种基于二维光谱颗粒粒度测量方法
  • [发明专利]一种矿浆用多探头粒径检测仪-CN202211266680.2在审
  • 曹洪坤;谢广元;鹿新建;曹英华;卢建;赵明;李海宝;李森森 - 江苏仕晟工业技术研究院有限公司
  • 2022-10-17 - 2022-12-20 - G01N15/02
  • 包括矿浆液粒径检测组件,矿浆液粒径检测组件通过第一出料管与烘干粉碎装置连通,烘干粉碎装置同于对矿浆烘干粉碎处理,烘干粉碎装置与下侧导料筛分组件连通,导料筛分组件用于对干矿粒筛分处理,导料筛分组件筛分后的干矿粒进入第一干矿粒粒径检测装置和第二干矿粒粒径检测装置中,第一干矿粒粒径检测装置和第二干矿粒粒径检测装置对杆矿粒粒径检测处理,第一干矿粒粒径检测装置包括检测箱,检测箱上固定旋转底座。该矿浆用多探头粒径检测仪对矿浆不同高度及多探头检测,对矿浆烘干及筛分处理,对筛分后的干矿粒进行摄像并进行数据对比,保证干矿粒粒径检测准确的优点。
  • 一种矿浆探头粒径检测
  • [发明专利]一种深度还原物料中铁颗粒粒度的控制方法-CN201310033825.9无效
  • 高鹏;韩跃新;孙永升;李艳军;任多振 - 东北大学
  • 2013-01-29 - 2013-05-15 - C22B1/02
  • 一种深度还原物料中铁颗粒粒度的控制方法,涉及铁矿石的深度还原技术领域。然后将还原物料与树脂均匀混合,经研磨抛光制作成光片,并对该光片进行拍摄,对拍摄的图像进行二值化处理,然后对该二值图像进行自动分析统计,获得每个视场中所有铁颗粒的等积圆半径;分别绘制出还原温度和还原时间对铁颗粒粒度的特性曲线,根据得到的铁颗粒粒度特征曲线,再进行数据回归模拟,获得深度还原条件与铁颗粒粒度之间的关系,最后根据铁颗粒粒度要求,利用上述关系反推计算深度还原条件,以此来控制铁颗粒粒度的尺寸大小。本发明根据特征曲线实现对铁矿石深度还原物料中铁颗粒粒度的控制,达到产品指标和节能降耗的双重目的。
  • 一种深度还原物料颗粒粒度控制方法

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