专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果35756个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种米粒粒长检测方法-CN202211338832.5在审
  • 陈召桂;彭玉慧;韩宇坚;时成铭 - 浙江五芳斋实业股份有限公司
  • 2022-10-28 - 2023-01-06 - G01B5/02
  • 本发明涉及一种米粒粒长检测方法,通过米粒长度检测装置进行检测,米粒长度检测装置包括面板,面板上设有米粒粒宽定挡条、米粒粒长定挡板、十块米粒粒宽动挡板和十块米粒粒长动挡板,米粒粒宽定挡条同米粒粒长定挡板垂直,米粒粒宽动挡板平行于米粒粒宽定挡条,米粒粒长动挡板平行于米粒粒长定挡板,米粒粒长动挡板同面板之间设有米粒粒长动挡板状态保持机构,米粒粒宽动挡板同面板之间设有平行度保持机构,米粒粒宽动挡板、米粒粒长动挡板、米粒粒宽定挡条和米粒粒长定挡板之间围成十个米粒储存格。本发明具有能够准确地检测出米粒粒长的优点,解决了现有的大米直接头尾对接在一起来检测粒长检测精度低的问题。
  • 一种米粒检测方法
  • [实用新型]一种米粒长度检测装置-CN202222862931.5有效
  • 彭玉慧;陈铖;时成铭;陈召桂 - 浙江五芳斋实业股份有限公司
  • 2022-10-28 - 2023-04-14 - G01B5/02
  • 本实用新型涉及一种米粒长度检测装置,包括面板,面板上设有米粒粒宽定挡条、米粒粒长定挡板、十块米粒粒宽动挡板和十块米粒粒长动挡板,米粒粒宽定挡条同米粒粒长定挡板垂直,米粒粒宽动挡板平行于米粒粒宽定挡条,米粒粒长动挡板平行于米粒粒长定挡板,米粒粒长动挡板同面板之间设有米粒粒长动挡板状态保持机构,米粒粒宽动挡板同面板之间设有平行度保持机构,米粒粒宽动挡板、米粒粒长动挡板、米粒粒宽定挡条和米粒粒长定挡板之间围成十个米粒储存格。本实用新型具有能够准确地检测出米粒粒长的优点,解决了现有的大米直接头尾对接在一起来检测粒长检测精度低的问题。
  • 一种米粒长度检测装置
  • [发明专利]一种米粒粒宽检测方法-CN202211337977.3在审
  • 彭玉慧;曾敏;于福浩;陈召桂 - 浙江五芳斋实业股份有限公司
  • 2022-10-28 - 2023-04-04 - G01B5/02
  • 本发明涉及一种米粒粒宽检测方法,通过米粒粒宽度检测装置进行检测,米粒粒宽度检测装置包括面板,面板上设有米粒粒宽定挡板、米粒粒长定挡条和十块米粒粒宽动挡板,米粒粒宽动挡板平行于米粒粒宽定挡板,米粒粒宽动挡板沿米粒粒长定挡条的延伸方向分布,米粒粒宽动挡板同面板之间设有米粒粒宽动挡板状态保持机构,离米粒粒宽定挡板最近的米粒粒宽动挡板、米粒粒长定挡条和米粒粒宽定挡板之间围成第一米粒储存盲槽,相邻的两块米粒粒宽动挡板和米粒粒长定挡条围出第二米粒储存盲槽本发明具有能够准确地检测出米粒粒宽的优点,解决了现有的大米目测粒宽人工用手直接并肩摆齐头来检测粒宽所导致的检测精度低的问题。
  • 一种米粒检测方法
  • [发明专利]米粒残缺程度现场分析系统及方法-CN202011413645.X在审
  • 不公告发明人 - 泰州可以信息科技有限公司
  • 2020-12-07 - 2021-04-20 - G01N21/95
  • 本发明涉及一种米粒残缺程度现场分析系统,包括:残缺判断设备,用于将残缺程度超限的米粒颗粒作为残缺米粒,将残缺程度未超限的米粒颗粒作为非残缺米粒;外形分析机构,用于基于米粒基准图案对每一个米粒子图像执行外形比对,以判断每一个米粒子图像对应的米粒颗粒的残缺程度;信息汇总设备,用于统计所述多个米粒颗粒中残缺米粒总数占据所述多个米粒颗粒总数的百分比。本发明还涉及一种米粒残缺程度现场分析方法。本发明的米粒残缺程度现场分析系统及方法设计紧凑、运行智能。由于能够对残缺米粒和非残缺米粒进行有效辨别,并将残缺米粒占据米粒总数的百分比作为米仓的米粒整体残缺程度,从而提升了米仓监管的智能化水平。
  • 米粒残缺程度现场分析系统方法
  • [实用新型]一种米粒粒宽检测机构-CN202222861922.4有效
  • 曾敏;彭玉慧;于福浩;陈召桂 - 浙江五芳斋实业股份有限公司
  • 2022-10-28 - 2023-03-24 - G01B5/02
  • 本实用新型涉及一种米粒粒宽检测机构,包括面板,面板上设有米粒粒宽定挡板、米粒粒长定挡条和十块米粒粒宽动挡板,米粒粒宽动挡板平行于米粒粒宽定挡板,米粒粒宽动挡板沿米粒粒长定挡条的延伸方向分布,米粒粒宽动挡板同面板之间设有米粒粒宽动挡板状态保持机构,离米粒粒宽定挡板最近的米粒粒宽动挡板、米粒粒长定挡条和米粒粒宽定挡板之间围成第一米粒储存盲槽,相邻的两块米粒粒宽动挡板和米粒粒长定挡条围出第二米粒储存盲槽。本实用新型具有能够准确地检测出米粒粒宽的优点,解决了现有的大米目测粒宽人工用手直接并肩摆齐头来检测粒宽所导致的检测精度低的问题。
  • 一种米粒检测机构
  • [发明专利]米粒子膜与其形成方法-CN201110069623.0有效
  • 林孟贤;陈虹颖;果尚志 - 果尚志
  • 2011-03-18 - 2011-11-09 - B82B3/00
  • 本发明是有关于一种纳米粒子膜与其形成方法。该纳米粒子膜的形成方法,包含先制备包含溶剂与过饱和纳米粒子的纳米粒子溶液,且纳米粒子表面具有表面配位分子,接着浸没基板于纳米粒子溶液后再拉出,以形成纳米粒子单层于基板上,构成纳米粒子膜。该纳米粒子膜,包含一层或多层纳米粒子单层,纳米粒子单层由二维纳米粒子阵列构成,其中相邻纳米粒子是近场耦合,并通过改变纳米粒子单层的层数,调整纳米粒子膜的表面等离子体共振性质。
  • 纳米粒子与其形成方法
  • [发明专利]一种玉米粒串生产线用模具盘-CN202110761740.7在审
  • 王金刚 - 王金刚
  • 2021-07-06 - 2021-09-03 - A23P10/10
  • 本发明公开了一种玉米粒串生产线用模具盘,包括:侧包框架,所述侧包框架内侧夹设横向玉米粒夹板及竖向玉米粒夹板,所述横向玉米粒夹板下部与竖向玉米粒夹板卡接,所述横向玉米粒夹板上部设有签杆穿槽,相邻横向玉米粒夹板与相邻竖向玉米粒夹板之间形成的间隙为玉米粒卡槽其结构简单,将玉米粒置于模具盘中,无需人工一个个穿制,玉米粒置于玉米粒卡槽中,通过插入签杆,即可形成玉米粒串,工作效率高,节约人力。
  • 一种玉米生产线模具
  • [实用新型]一种玉米粒串生产线用模具盘-CN202121523218.7有效
  • 王金刚 - 王金刚
  • 2021-07-06 - 2022-01-25 - A23P10/10
  • 本实用新型公开了一种玉米粒串生产线用模具盘,包括:侧包框架,所述侧包框架内侧夹设横向玉米粒夹板及竖向玉米粒夹板,所述横向玉米粒夹板下部与竖向玉米粒夹板卡接,所述横向玉米粒夹板上部设有签杆穿槽,相邻横向玉米粒夹板与相邻竖向玉米粒夹板之间形成的间隙为玉米粒卡槽其结构简单,将玉米粒置于模具盘中,无需人工一个个穿制,玉米粒置于玉米粒卡槽中,通过插入签杆,即可形成玉米粒串,工作效率高,节约人力。
  • 一种玉米生产线模具
  • [实用新型]一种可使玉米粒更加干净的剥玉米粒-CN202121836398.4有效
  • 黄永锠 - 黄永锠
  • 2021-08-08 - 2022-03-29 - A01F11/06
  • 本实用新型公开了一种可使玉米粒更加干净的剥玉米粒机,包括剥玉米粒机剥离仓体,所述剥玉米粒机剥离仓体的上表面位置开设有玉米棒进料口,所述剥玉米粒机剥离仓体的前表面位置开设有玉米粒出料口,所述剥玉米粒机剥离仓体的前表面靠近一侧表面位置固定安装有左侧玉米粒集尘箱,所述剥玉米粒机剥离仓体的前表面靠近另一侧表面位置固定安装有右侧玉米粒集尘箱,所述左侧玉米粒集尘箱与所述右侧玉米粒集尘箱之间固定安装有玉米粒出口扬板。本实用新型所述的一种可使玉米粒更加干净的剥玉米粒机,能够对剥出的玉米粒进行除尘,使得玉米粒更加干净,能够在滤网严重积灰时,一键清除滤网灰尘,不影响工作进程。
  • 一种玉米更加干净
  • [发明专利]一种米粒检测设备-CN202211103329.1在审
  • 郭盼盼;薛轶;黄志强;林钊镔;陈晓明;何鸣;吕江波;沈小勇 - 深圳思谋信息科技有限公司
  • 2022-09-09 - 2023-01-17 - B07C5/34
  • 本发明公开了一种米粒检测设备,包括:上料机构,包括料斗、储料仓、振动机构、减振器以及上料支架;米粒传输机构,包括用于逐粒传送米粒的水平料道和倾斜料道;水平料道沿输送方向穿过储料仓,倾斜料道斜向地设置于水平料道的前下方;米粒感应机构,设于倾斜料道下端的米粒出口位置,用于感应是否有米粒掉落至米粒检测区域;视觉检测机构,包括在米粒检测区域的周围均匀分布的至少三个摄像单元,摄像单元用于对米粒进行360°的全方位拍照;米粒回收机构,设于米粒掉落区域,用于收集从米粒检测区域掉落的米粒。该设备可实现米粒一次掉落时全外观的检测,并且大大提高了检测的准确率和增加了检测项目范围。
  • 一种米粒检测设备
  • [实用新型]一种熟玉米刨粒装置-CN201520481036.6有效
  • 王者 - 王者
  • 2015-07-07 - 2015-12-09 - A23N15/00
  • 一种熟玉米刨粒装置,其特征在于:包括盛装熟玉米粒的玉米粒腔和刀片,所述的玉米粒腔为一环形腔体,环形腔体的内侧可以套置在玉米上,在环形腔体的内侧开有玉米粒入口,在环形腔体玉米粒入口内侧安装有环形刀片。通过将环形的玉米粒腔的内侧套置在煮熟的玉米上,玉米粒入口处的环形刀片与玉米粒接触,推动玉米粒腔使得环形刀片与玉米粒间产生相对运动,熟玉米的玉米颗粒可以很容易的脱落,实现了熟玉米的快速脱粒,提高了脱粒效率脱落的玉米粒从玉米粒入口进入到玉米粒腔内储存,进而保证玉米粒脱落的过程中保证食用者的卫生要求,该装置结构简单,易操作。
  • 一种玉米装置
  • [发明专利]一种增强拉曼和荧光信号的纳米结构及其制备方法-CN201010553375.2无效
  • 董健;许蓓蓓;陶琴;钱卫平 - 东南大学
  • 2010-11-22 - 2011-05-18 - C09K11/58
  • 纳米聚集体包括:一个修饰有巯基的磁性纳米粒子,且磁性纳米粒子的两侧分别通过所述的巯基连接第一金属纳米粒子和第二金属纳米粒子,所述的第一金属纳米粒子、磁性纳米粒子与第二金属纳米粒子成直线排列,所述的第一金属纳米粒子和第二金属纳米粒子的粒径为20-400nm且第一金属纳米粒子和第二金属纳米粒子为同种金属纳米粒子,所述的磁性纳米粒子的粒径为3-20nm。利用纳米粒子表面功能化的基团将待测物定向到金属纳米粒子的间隙处,实现待测分子的拉曼或荧光信号的极大增强。本发明可以为实验研究、临床诊断及大样本筛查提供快速超灵敏检测新方法。
  • 一种增强荧光信号纳米结构及其制备方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top