专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种激光微熔覆专用设备-CN201010562229.6有效
  • 蔡志祥;曾晓雁;段军;张洁;李祥友;王泽敏 - 华中科技大学
  • 2010-11-26 - 2011-04-13 - C23C24/10
  • 本发明公开了一种激光微熔覆专用设备,该设备包括工作台、激光加工系统和控制系统,其特征在于,该系统还包括CCD监测定位系统直写系统;CCD监测定位系统包括同轴CCD传感器、旁轴CCD传感器、变焦透镜、成像目镜、变焦光学系统、旁轴成像物镜和外接监视器;直写系统包括微细笔直写装置和微喷直写装置;微细笔直写装置包括支架,导轨、气缸、滑块、活塞杆、千分表、微距调节螺母和微细笔;微喷直写装置包括水浴锅、导气管、微压表和微喷工具;该设备合理设计了激光光路、微喷和微细笔的安装工位及工作方式,将激光加工与微细笔、微喷直写系统集成在同一个工作平台上,实现多种加工手段的优势互补。
  • 一种激光微熔覆专用设备
  • [实用新型]一种激光微熔覆专用设备-CN201020628633.4无效
  • 蔡志祥;曾晓雁;段军;张洁;李祥友;王泽敏 - 华中科技大学
  • 2010-11-26 - 2011-07-20 - C23C24/10
  • 本实用新型公开了一种激光微熔覆专用设备,该设备包括工作台、激光加工系统和控制系统,其特征在于,该系统还包括CCD监测定位系统直写系统;CCD监测定位系统包括同轴CCD传感器、旁轴CCD传感器、变焦透镜、成像目镜、变焦光学系统、旁轴成像物镜和外接监视器;直写系统包括微细笔直写装置和微喷直写装置;微细笔直写装置包括支架,导轨、气缸、滑块、活塞杆、千分表、微距调节螺母和微细笔;微喷直写装置包括水浴锅、导气管、微压表和微喷工具;该设备合理设计了激光光路、微喷和微细笔的安装工位及工作方式,将激光加工与微细笔、微喷直写系统集成在同一个工作平台上,实现多种加工手段的优势互补。
  • 一种激光微熔覆专用设备
  • [发明专利]一种晶圆沟道的直写填充装备-CN202310468649.5在审
  • 尹周平;吴豪;徐洲龙;谢斌 - 华中科技大学
  • 2023-04-26 - 2023-09-22 - H01L21/67
  • 本发明公开了一种晶圆沟道的直写填充装备,属于晶圆沟道填充设备技术领域,包括有工作台、机架、移动载物台、十字模组、激光检测系统、视觉实时监控系统直写填充装置、填充视觉监测系统;所述十字模组安装在所述机架上;所述移动载物台位于所述工作台上,带动晶圆运动至直写填充位置;所述视觉实时监控系统用于对沟道的填充过程进行实时监控;所述直写填充装置用于对晶圆沟道进行直写填充;所述填充视觉监测系统用于监测所述直写填充装置的填充高度本发明提供的晶圆沟道的直写填充装备,自动化程度高,减少了填充材料的使用量,减少了打磨面积,提高了生产效率,节约了生产成本。
  • 一种沟道填充装备
  • [发明专利]一种激光直写方法和激光直写系统-CN202111637233.9在审
  • 贾富强;丘国雄;冯涣;陈银榕;李巍伟;叶泽群 - 南光高科(厦门)激光科技有限公司
  • 2021-12-29 - 2022-04-15 - B23K26/362
  • 本申请公开了一种激光直写方法和激光直写系统,所述激光直写方法包括步骤:建立模板:通过激光直写软件,将直写材料的加工面上需激光直写加工内容创建在图层上;设置参数:通过激光直写软件,将加工面上的激光直写加工内容进行填充或者像素化,并设置激光参数;上料:将直写材料固定,将加工面朝向激光光束的传输方向;激光直写加工:将激光光束照射在加工面上,将激光光束与直写材料之间产生相对运动,形成激光光束对加工面的激光扫描点,将激光扫描点对加工面进行激光直写加工;能实现在例如证照票签材料上激光直写加工,并实现高质量的加工效果,及实现灰度等级、表面形貌和粗糙度等的精确控制。
  • 一种激光方法系统
  • [发明专利]超精密回转轴与激光直写直写光轴空间对准方法-CN200510076827.1有效
  • 谭久彬;刘俭;杨文国;金国良;邱丽蓉;邹丽敏;赵晨光 - 哈尔滨工业大学
  • 2005-06-17 - 2005-10-26 - G02B27/42
  • 本发明公开了一种超精密回转轴与激光直写直写光轴空间对准方法,该方法利用极坐标直写系统的差动像散离焦检测装置、调焦伺服系统、精密定位机构以及位相光栅,实现回转轴与直写光轴的对准,所述方法包括以下步骤:把测量范围划分成精确测量区和定位测量区,并使定位测量区的分辨率极限值小于精确测量区的范围;借助差动像散离焦检测装置的检焦功能,使光斑处于准焦状态;产生光斑离焦产生轴对准偏离量测量信号;根据对准偏离量测量信号,使直写光轴进入所述定位测量区;测量对准偏离量,借助直写系统精密定位机构的精密定位功能使光轴移动到所述精确测量区;再次测量对准偏离量,并借助直写系统精密定位机构的精密定位功能实现最终对准。
  • 精密回转激光直写机直写光轴空间对准方法
  • [发明专利]一种激光直写系统的曝光异常检测方法-CN202111496546.7在审
  • 刘栋;胡传武;张雷 - 苏州源卓光电科技有限公司
  • 2021-12-09 - 2022-03-01 - G03F7/20
  • 本发明涉及一种激光直写系统的曝光异常检测方法,所述激光直写系统设置有曝光区域和检测区域,所述曝光区域用于对工件图像进行曝光,所述检测区域用于对检测图像进行曝光,所述检测区域设置有标记点,根据所述标记点对所述检测图像进行对位曝光,获取曝光后的曝光检测图像的数据信息,根据所述曝光检测图像的数据信息对激光直写系统的曝光异常进行检测。利用检测区域对检测图像进行曝光,便于及时检测激光直写系统是否存在异常,及时处理曝光不合格的工件,减少异常板的流出,及时校正激光直写系统存在的问题,避免产生异常板,有效减少损失。
  • 一种激光系统曝光异常检测方法
  • [发明专利]直写光刻系统直写光刻方法-CN201911303595.7有效
  • 浦东林;朱鹏飞;朱鸣;邵仁锦;张瑾;王冠楠;陈林森 - 苏州苏大维格科技集团股份有限公司;苏州大学
  • 2019-12-17 - 2023-01-24 - G03F7/20
  • 一种直写光刻系统直写光刻方法,其中直写光刻系统包括直写光源、运动机构、中央控制器、光斑图形输入装置以及投影光学装置;运动机构用于带动投影光学装置沿预设路径扫描,并用于发出参考点的位置数据;中央控制器用于根据位置数据读取光斑图形文件序列中对应的光斑图像数据;光斑图形输入装置用于根据光斑图像数据将直写光源提供的起始光束调制生成图形光;投影光学装置用于根据图形光向光刻件的表面投影出变形光斑,并在运动机构的带动下沿预设路径扫描,在扫描过程中光斑图像数据随位置数据而变化本发明的直写光刻系统直写光刻方法实现了复杂表面三维形貌结构的无掩模灰度光刻,并提高了光刻精度和光刻效率。
  • 光刻系统方法

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