专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种中能电子探测单元、探测探头及探测-CN201711065122.9在审
  • 宗秋刚;邹鸿;贾向红;陈鸿飞;邹积清;陈江;施伟红;于向前 - 北京大学
  • 2017-11-02 - 2018-03-23 - G01T1/36
  • 本发明提供一种中能电子探测单元、探测探头及探测器。中能电子探测单元包括屏蔽壳和多个位置灵敏探测器;屏蔽壳的一面开有小孔;位置灵敏探测器面向小孔设置在屏蔽壳内;多个位置灵敏探测器被设置于同一平面上,且位于一条直线上。中能电子探测探头包括探测单元支架和多个中能电子探测单元;多个中能电子探测单元小孔朝外地固定安装在探测单元支架上,且安装在探测单元支架上的多个中能电子探测单元位于同一平面内,且对称轴交于一点;多个中能电子探测单元的探测张角之和为本发明采用了小孔成像技术,实现了同时对多方向入射的50‑600keV中能电子的能谱信息的精确测量。
  • 一种电子探测单元探头探测器
  • [发明专利]一种双内置复合结构的探测系统-CN202310060494.1在审
  • 何伟;胡继闯;陈志明;张景龙;张子豪;张月新 - 纳克微束(北京)有限公司
  • 2023-01-18 - 2023-05-05 - H01J37/244
  • 本发明涉及一种双内置复合结构的探测系统,属于电子显微镜技术领域,能够有效地将电子探测、EDS探测、荧光探测结合,可以达到对样品同一位置的多探测器同时探测的效果,并且高效收集信号,得到高质量图像信息;该系统包括:电子源、电子加速电极、物镜、EDS探测器、直接电子探测器、样品、样品台和控制单元;所述EDS探测器和所述直接电子探测器均以斜插方式设置在物镜内部,所述EDS探测器和所述直接电子探测器的探头均靠近物镜的探测口处;所述样品台、所述EDS探测器、所述直接电子探测器、所述电子源和所述物镜均与所述控制单元连接;物镜的内部极靴上设有打拿级,物镜探测口的内外两环壁的底端均设有反射锥。
  • 一种内置复合结构探测系统
  • [实用新型]一种双内置复合结构的探测系统-CN202320113375.3有效
  • 何伟;胡继闯;陈志明;张景龙;张子豪;张月新 - 纳克微束(北京)有限公司
  • 2023-01-18 - 2023-06-20 - H01J37/244
  • 本实用新型涉及一种双内置复合结构的探测系统,属于电子显微镜技术领域,能够有效地将电子探测、EDS探测、荧光探测结合,可以达到对样品同一位置的多探测器同时探测的效果,并且高效收集信号,得到高质量图像信息;该系统包括:电子源、电子加速电极、物镜、EDS探测器、直接电子探测器、样品、样品台和控制单元;所述EDS探测器和所述直接电子探测器均以斜插方式设置在物镜内部,所述EDS探测器和所述直接电子探测器的探头均靠近物镜的探测口处;所述样品台、所述EDS探测器、所述直接电子探测器、所述电子源和所述物镜均与所述控制单元连接;物镜的内部极靴上设有打拿级,物镜探测口的内外两环壁的底端均设有反射锥。
  • 一种内置复合结构探测系统
  • [发明专利]用于信号电子探测的系统和方法-CN202180020567.3在审
  • 任伟明;王勇新 - ASML荷兰有限公司
  • 2021-03-09 - 2022-11-11 - H01J37/04
  • 公开了使用电子束装置观察样品的系统和方法。该电子束装置包括:电子源,其被配置为沿着主光轴(404)产生初级电子束;以及第一电子探测器(420),其具有基本上平行于主光轴的第一探测层(421),并且被配置为探测从样品上的探测斑点产生的多个信号电子该方法可包括产生多个信号电子、并使用基本上平行于初级电子束的主光轴的第一电子探测探测信号电子。第二电子探测器(407)的第二探测层可以基本上垂直于主光轴。通过在静电或磁性元件的内表面上设置第一电子探测器,静电元件或磁性元件可以被配置为探测背散射电子
  • 用于信号电子探测系统方法
  • [发明专利]一种复合结构的探测系统及探测方法-CN202310060452.8在审
  • 何伟;胡继闯;陈志明;张景龙;张子豪;张月新 - 纳克微束(北京)有限公司
  • 2023-01-18 - 2023-06-23 - H01J37/244
  • 本发明涉及一种复合结构的探测系统及探测方法,属于电子显微镜技术领域,把EDS探测器置入物镜内部,在提高空间利用率的同时使EDS更靠近极靴头和样品表面,提高探测效率;该系统包括:电子源、电子加速电极、物镜、EDS探测器、样品、样品台和控制单元;所述电子源设于顶部正中,所述电子加速电极设于电子源下方,所述物镜设于电子加速电极下方,所述样品设于物镜下方;所述电子源产生的电子束依次经过电子加速电极和物镜后到达样品表面;所述EDS探测器以斜插方式设置在物镜内部,所述EDS探测器的探头位于物镜的探测口处;所述样品置于样品台上;所述样品台、所述EDS探测器、所述电子源和所述物镜均与所述控制单元连接。
  • 一种复合结构探测系统方法
  • [实用新型]带有椭球形反射器的同轴电子探测器及扫描电子显微镜-CN202220574170.0有效
  • 杨润潇;张松涛;李晓昂 - 惠然科技有限公司
  • 2022-03-16 - 2022-07-29 - G01N23/2251
  • 本实用新型公开了一种带有椭球形反射器的同轴电子探测器及具有该同轴探测器的扫描电子显微镜,包括同轴电子探测器本体和椭球形反射器,所述椭球形反射器包括托盘和椭球形反射镜,所述托盘具有中心孔,所述椭球形反射镜的顶部沿所述中心孔的四周与所述托盘的底部连接,所述托盘顶部位于所述椭球形反射镜的上侧焦点的下方,所述同轴电子探测器本体位于所述托盘的顶部。本实用新型在现有同轴电子探测器的基础上增加椭球形反射器,利用椭球形反射镜所具有的从其中一个焦点发射的光或电子会在另一焦点会聚的特性,对超过同轴电子探测探测尺寸的信号电子进行会聚,使其向同轴电子探测探测尺寸内反射,大大提高了同轴电子探测器的探测效率。
  • 带有椭球反射同轴电子探测器扫描电子显微镜
  • [实用新型]一种中子探测装置-CN201621284235.9有效
  • 黄永益 - 中国科学院紫金山天文台
  • 2016-11-28 - 2017-06-30 - G01T3/06
  • 本实用新型提供了一种中子探测装置。所述中子探测装置包括壳体、用于在空间次级中子作用下产生荧光的探测晶体单元和用于接收并转换所述荧光为电信号的后端电子学单元,所述探测晶体单元设置在所述壳体内部,所述后端电子学单元设置在所述壳体的边缘位置,且所述探测晶体单元与所述后端电子学单元对应设置;所述探测晶体单元包括多个设置在同一平面的探测晶体,所述后端电子学元件包括多个后端电子学部件,每一所述探测晶体对应一个所述后端电子学部件设置。所述中子探测装置能够应用于空间环境下对次级中子进行探测,也可辅助区分电子和质子。
  • 一种中子探测装置

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