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[发明专利]外观检查装置以及外观检查装置的照明条件设定方法-CN201811509322.3在审
发明人：林信吾 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2018-12-11 - 公布日： 2019-08-30 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种外观检查装置以及外观检查装置的照明条件设定方法，即便不具备充分的光学知识或经验，也能够在外观检查装置中设定最优照明条件。本外观检查装置具有照明部，将照明光照射于被检查物；摄像部，对被检查物进行拍摄；缺陷检测部，对由摄像部所拍摄的被检查物的图像进行分析，检测被检查物的缺陷；照明条件设定部，设定照射于被检查物的照明光的照明条件；以及最优照明条件导出部，根据利用多个不同的所述照明条件所拍摄的图像对各照明条件进行评分，由此导出最优照明条件，此最优照明条件是最适于缺陷检测部检测被检查物的缺陷的照明条件。
照明条件外观检查装置被检查物缺陷检测部摄像部照明光拍摄照射图像光学知识导出部照明部检测导出分析

[发明专利]半导体薄片外观检查装置的检查条件数据生成方法以及检查系统-CN201080011823.4有效
发明人：大美英一;山本比佐史 -专利权人：东丽工程株式会社
申请日： 2010-03-01 - 公布日： 2012-02-08 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种薄片检查条件生成方法，生成检查形成在薄片(10)上的半导体芯片外观的多台检查装置的检查条件数据，该方法包括以下步骤：计算出相对于设计值的每台薄片检查装置(A～C)装置的机差，然后将机差校正数据进行登录；在所选择的任意一台薄片检查装置(A)中，使用薄片(10)生成检查条件数据；从检查条件数据和所选择的任意一台薄片检查装置(A)的机差校正数据，生成通用检查条件数据；从通用检查条件数据和每台薄片检查装置(B～C)装置机差校正数据，生成每台薄片检查装置(B～C)装置的检查条件数据。
半导体薄片外观检查装置条件数据生成方法以及系统

[发明专利]分发文件检查条件的传输方法及装置-CN202111509971.5在审
发明人：刘宜;隗梦夕;吴定波 -专利权人：奇安信科技集团股份有限公司;网神信息技术（北京）股份有限公司
申请日： 2021-12-10 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： G06F9/445 文献下载
摘要：本发明提供一种分发文件检查条件的传输方法及装置，方法包括：获取待分发文件对应的目标检查条件及条件之间的关系；其中，目标检查条件包括：M个前置检查条件和/或N个后置检查条件；M，N为整数；将目标检查条件及条件之间的关系转化为基于AST Node的目标json表达式；向终端发送目标json表达式，以使终端基于目标json表达式执行检查。本发明采用将目标检查条件及条件之间的关系转化为基于AST Node的目标json表达式的方案，不限定多条检查条件之间的关系，能够配置多种表达式的与或关系，满足用户的差异化检测需求，提高文件分发的精准性及文件分发结果判断的准确性
分发文件检查条件传输方法装置

[发明专利]信息终端及其认证条件检查方法和认证条件检查程序-CN200510128502.3有效
发明人：伊藤吾朗 -专利权人：京瓷株式会社
申请日： 2005-11-28 - 公布日： 2006-06-07 - 主分类号： H04M1/00 文献下载
摘要：该指南表示仅当满足了具有不同电子文献的站点所规定的认证条件时，允许通过通信部分获得与显示在显示部分上的电子文献相关的不同电子文献的行为的可能性。当通过操作部分执行条件检查操作时，控制部分针对特定字符串对显示在显示部分上的电子文献进行搜索，并且对与特定字符串相匹配的字符串进行计数。
信息终端及其认证条件检查方法程序

[发明专利]扫描协议检测方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202110118418.2在审
发明人：贾二维;王春雨 -专利权人：上海联影医疗科技股份有限公司
申请日： 2021-01-28 - 公布日： 2021-06-11 - 主分类号： A61B5/055 文献下载
摘要：所述方法包括：获取输入的扫描参数以及初始检查条件；所述扫描参数以及初始检查条件与扫描协议相关；将所述扫描参数在预设的检查列表中进行匹配，获得与所述扫描参数匹配的目标标准检查条件；所述预设的检查列表中包括扫描参数和标准检查条件的对应关系；根据所述目标标准检查条件对所述初始检查条件进行检测，获得相应的检测结果。
扫描协议检测方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]内存操作条件检查方法-CN202010248509.3在审
发明人：林正隆;梁万栋 -专利权人：森富科技股份有限公司
申请日： 2020-04-01 - 公布日： 2021-10-12 - 主分类号： G11C29/50 文献下载
摘要：一种内存操作条件检查方法，由内存操作条件检查装置来实施，可使主板上中央处理单元（central processing unit,CPU）通过设置在数个待测内存模块（device under test,DUT
内存操作条件检查方法

[发明专利]一种命令操作权限配置方法、设备及介质-CN202210882310.5在审
发明人：邵泽瑞 -专利权人：成都交控轨道科技有限公司
申请日： 2022-07-26 - 公布日： 2022-12-27 - 主分类号： G06F3/0482 文献下载
摘要：本发明公开了一种命令操作权限配置方法、设备及介质，属于轨道交通站场界面命令菜单项操作配置领域，包括步骤：S1，首先将不同操作命令所需要检查的条件提取出来，抽象成具有原子性的检查条件，所述具有原子性的检查条件即使抽象后的检查条件之间互不影响，且抽象后的每个检查条件都不可再分；S2，然后使用工具对不同操作命令配置其所需的具有原子性的检查条件，且每个命令所需的具有原子性的检查条件由用户配置；S3，最后根据用户配置的具有原子性的检查条件，对每个操作命令进行权限检查本发明可以实现站场界面命令菜单项操作权限可配置化，灵活便捷地配置命令权限，实现检查条件原因可视化。
一种命令操作权限配置方法设备介质

[发明专利]外观检查系统、设定方法以及计算机可读存储介质-CN201910022254.6有效
发明人：加藤豊 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2019-01-10 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明提供一种外观检查系统、设定装置、图像处理装置、设定方法以及程序。外观检查系统能够降低依序拍摄对象物上的多个检查对象位置时的设计者设定拍摄条件的劳力。外观检查系统包括拍摄条件决定部与路径决定部。拍摄条件决定部对于多个检查对象位置中的至少一个检查对象位置，决定包含工件与拍摄装置之间的相对位置的多个拍摄条件候补。路径决定部以满足预定要件的方式，选择多个拍摄条件候补中的一个拍摄条件，由此来决定用于依序拍摄多个检查对象位置的、拍摄条件的变更路径。
外观检查系统设定方法以及计算机可读存储介质

[发明专利]检查条件管理系统、部件安装系统及处理装置-CN201010246026.6有效
发明人：中村昭彦;铃木芳邦 -专利权人：雅马哈发动机株式会社
申请日： 2006-01-27 - 公布日： 2010-12-15 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明提供检查条件管理系统、部件安装系统及处理装置。部件安装线的检查条件管理系统，具有：多个处理装置，包括糊剂涂敷装置、部件安装装置及回流装置中的至少两个；和检查装置，在各处理装置进行处理后，分别根据图像识别检查对应基板，并且，对多个检查装置之间共同的或相互关联的检查项目进行检查，其中，具有：判断单元，根据共同的基板的各检查装置中的检查结果，对于所述共同或关联的检查项目，判断在检查装置间检查结果有无矛盾；条件改变单元，当通过该判断单元判断存在矛盾时，在检查结果中产生矛盾的检查装置中的任意一个检查装置中，改变所述共同或关联的检查项目的检查条件。
检查条件管理系统部件安装处理装置

[发明专利]基板检查方法及装置-CN200510084783.7有效
发明人：村上清;石羽正人;栗山淳;四谷辉久 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2005-07-20 - 公布日： 2006-01-25 - 主分类号： G01N21/898 文献下载
摘要：基板检查用窗口设定条件的确定方法、基板检查方法、基板检查用的检查数据生成方法、及基板检查装置，能简单确定基板检查用窗口设定条件。部件检查机对部件安装后基板的模型摄像，并接收来自作为上工序检查机的焊锡印刷检查机的同一基板的图像供给。通过对图像间的差分运算和差图像的2值化处理，提取基板上的各部件后，通过与从登记有各种部件的标准检查数据的部件库中提取的部件大小进行对照，特定各部件。根据提取的部件确定部件窗口设定条件，将该设定条件与该部件特定信息一起登记。在检查时，基于登记的设定条件，在检查对象的部件安装图像上设定部件窗口，利用该窗口内的图像数据和与部件特定信息对应的标准检查数据检查部件的安装状态。
检查方法装置

[发明专利]移动物体异常检查系统,移动物体、以及地面系统-CN200410032849.3有效
发明人：前川景示;长洲正浩;佐藤裕;佐佐木正贵;石田启二 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2004-04-09 - 公布日： 2004-10-13 - 主分类号： B61K13/00 文献下载
摘要：本发明提供一种移动物体异常检查系统，移动物体、以及地面系统。在移动物体上装配计测单元，在可以收集来自计测单元的移动物体的状态数据的移动物体异常检查系统中，在移动侧，不装配高性能的装置，为了使移动物体在制造时不能设想的异常可以被检查，追加异常检查条件。在地面侧配置数据分析装置，在移动物体发生故障时，收集故障发生以前的移动物体的状态数据，分析收集的数据，在数据分析单元上装备抽取在故障发生前可以检出移动物体的异常的条件的异常条件抽出单元，在移动物体上装备存储由数据分析装置抽出的异常检查条件的异常检查条件存储介质，按照异常检查条件存储介质存储的异常检查条件，进行移动物体的异常检查的异常检查单元。
移动物体异常检查系统以及地面

[发明专利]缺陷检查系统以及缺陷检查方法-CN202211080646.6在审
发明人：佐野裕子;石川昌义;新藤博之 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2022-09-05 - 公布日： 2023-03-17 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明提供缺陷检查系统、缺陷检查方法，能吸收拍摄条件不同所引起的检查图像的差，或具有各检查工序中能共同使用的过滤模型，能进行高效率的检查。缺陷检查系统(100)具有：缺陷检测部(104)，比较检查图像(4)和不具有缺陷的图像即参照图像来检测检查图像内缺陷位置；过滤模型，将检测的缺陷位置分类为虚报或指定的缺陷种类；过滤条件保持部(106)，保持过滤条件；缺陷区域提取部，在每个预定的距离内将缺陷检测部(104)检测的缺陷位置汇总；缺陷过滤部(105)，按每个缺陷区域判定是否符合过滤条件，仅提取符合的缺陷区域；标准化部(101)，基于检查时的加工工序和按每个加工工序或每个拍摄条件设定的标准化条件对检查图像
缺陷检查系统以及方法

[发明专利]自动分析装置-CN200610088590.3有效
发明人：大内胜美;三卷弘 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2006-06-06 - 公布日： 2007-09-26 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供通过简单的操作进行装置的性能检查的自动分析装置。所采用的方法是，使用与样品分析用试剂卡盘外形相同的性能检查用卡盘来进行装置的性能检查。性能检查用卡盘保持装置的性能检查用试剂，同时，以二维条码的方式保持处理条件以及判断条件。自动分析装置根据记录在性能检查用卡盘中的处理条件，使用密封进性能检查用卡盘中的试剂进行吸光度测量，把测量结果与记录在性能检查用卡盘中的判断条件进行对照来进行装置性能检查。
自动分析装置

[发明专利]检查装置的操作方法以及检查装置的操作程序-CN201010235606.5有效
发明人：佐野聪;小嶋伸时 -专利权人：东京毅力科创株式会社
申请日： 2010-07-22 - 公布日： 2011-03-30 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供一种检查装置的操作方法以及检查装置的操作程序，能够显著提高具有多个工作台的检查装置的检查效率。本发明的检查装置的操作方法，是在利用显示于多个显示器(14)的各操作画面上的操作按钮，操作具备多个检查用工作台(17)的检查装置(10)中，使用归纳了用于执行检查装置(10)的各种功能所需的数据的排他条件数据(D)和将排他条件数据(D)的排他条件归纳为能否按下用于执行各功能的操作按钮的数据的排他条件类型(P)，在至少一个显示器(14)上设定用于排除操作按钮的排他条件按钮，按下排他条件按钮禁止在其他显示器中显示至少符合一个显示器的排他条件的画面
检查装置操作方法以及操作程序

[发明专利]基板检查方法和装置、及其检查逻辑设定方法和装置-CN200610008388.5有效
发明人：森谷俊洋;和田洋贵;大西贵子;清水敦;仲岛晶 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2006-02-21 - 公布日： 2006-08-30 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：基板检查方法和装置、及其检查逻辑设定方法和装置。本发明的课题是提供可以高速地且以较小的存储容量检查IC类部件的错位的技术。作为解决手段，预先存储检查逻辑，该检查逻辑包含规定检查对象部件的部件主体所呈现的颜色的颜色条件、以及判断条件，以不同的入射角对检查对象部件照射多种颜色的光，对其反射光进行拍摄，从而取得包含所述检查对象部件的部件主体的边缘的至少一部分的检查图像，使用所述颜色条件，通过图像处理，从所述检查图像中提取满足所述颜色条件的部件主体区域，通过图像处理确定所述部件主体区域的边缘，通过对所述边缘的特征量的值和所述判断条件进行比较，来判断所述检查对象部件是否为正确的位置和
检查方法装置及其逻辑设定

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