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[实用新型]一种用于镜头的杂散光消除装置及镜头-CN202021504154.1有效
发明人：于向前 -专利权人：江苏迪盛智能科技有限公司
申请日： 2020-07-27 - 公布日： 2021-04-06 - 主分类号： G02B13/00 文献下载
摘要：本实用新型揭示了一种用于镜头的杂散光消除装置，杂散光消除装置包括用于削弱杂散光的光陷阱和用于消除杂散光的光阑，光陷阱根据杂散光照射至镜筒内侧壁的位置设于镜筒内侧壁上，使得杂散光从杂散光入口至少部分进入杂散光削弱腔本实用新型还揭示了一种镜头，具有上述杂散光消除装置。本实用新型通过设置光陷阱和光阑，可有效消除杂散光，提高成像质量。
一种用于镜头散光消除装置

[发明专利]一种全天时高精度星光折射导航杂散光抑制方法-CN201610899908.X有效
发明人：林亲;李志;李怀锋 -专利权人：中国空间技术研究院
申请日： 2016-10-14 - 公布日： 2019-04-09 - 主分类号： G01C21/02 文献下载
摘要：本发明一种全天时高精度星光折射导航杂散光抑制方法，步骤为：1)将杂散光种类分为三类；2)对一级杂散光进行处理，确定一级杂散光强度，并对一级杂散光进行抑制；3)对二级杂散光进行处理，确定二级杂散光强度，并对二级杂散光进行抑制；本发明采用的内掩式杂散光抑制技术不仅有效，且利于星光折射敏感器的小型化设计；杂散光强度确定方法正确、结果精度高：基于杂散光产生原理，结合不同光学分析工具对各个级别的杂散光强度及抑制效果进行了确定，并对各级杂散光确定方法的准确性进行了校验，确保了结果的有效性和高精度；为星光折射导航和其它情况下的亮面源非常近距离处杂散光的抑制提供了技术支撑。
一种天时高精度星光折射导航散光抑制方法

[发明专利]一种弱目标探测红外相机关键表面涂层发射率确定方法-CN201410073596.8有效
发明人：阮宁娟;苏云;郭崇玲;吴立民;赵海博;胡斌;郑国宪;肖思 -专利权人：北京空间机电研究所
申请日： 2014-02-28 - 公布日： 2014-06-18 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：一种弱目标探测红外相机关键表面涂层发射率确定方法，弱目标探测红外相机的杂散光有内杂散光和外杂散光之分。在选取关键表面的发射率时，抑制措施对内部杂散光和外部杂散光的影响是相互矛盾的，需要对红外光学遥感器的内部杂散光和外部杂散光采取综合抑制措施。该方法通过分析弱目标探测红外相机关键表面涂层发射率值改变时内部杂散光和外部杂散光的变化趋势，找出表面涂层发射率的最优值，使得该发射率同时满足内部杂散光和外部杂散光的综合抑制要求。
一种目标探测红外相机关键表面涂层发射确定方法

[实用新型]一种光调制结构-CN202122716046.1有效
发明人：王少永;惠旅锋 -专利权人：苏州苏信环境科技有限公司
申请日： 2021-11-08 - 公布日： 2022-04-19 - 主分类号： G02B5/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光调制结构，包括光发射装置和杂散光抑制结构，杂散光抑制结构具有用于光束传播的通孔，通孔内壁上具有对杂散光进行吸收和反射的凹陷，或通孔内壁连通用于困住杂散光的空间，或通孔内壁上具有凹陷和空间，以有效抑制杂散光。所述光调制结构的杂散光抑制结构能够有效吸收或反射杂散光，对杂散光的抑制效果更好，经所述光调制结构出射的光束杂散光更少，有利于提高采用所述光调制结构的光学测量装置的精度。
一种调制结构

[实用新型]防杂散光造成误判的背景抑制型光电传感器-CN202320316502.X有效
发明人：叶立平;姚南;赵爱伦 -专利权人：深圳市志奋领科技有限公司
申请日： 2023-02-20 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01D5/26 文献下载
摘要：本实用新型属于光电传感器技术领域，具体涉及一种防杂散光造成误判的背景抑制型光电传感器。本实用新型在光源和整形镜之间设置有聚光镜和除杂散光光阑组，沿光源的传播光路，光源、聚光镜、除杂散光光阑组和整形镜依次分布。聚光镜设置的目的在于将光源发射的光进行汇聚，并投射在除杂散光光阑组上。除杂散光光阑组用于滤除在发射光路腔体内杂乱反射并从聚光镜射出的杂散光。由于除杂散光光阑组的作用，使得杂散光得到滤除，不会再有杂散光或仅有极少量杂散光从发射光路射出到被测物上，也就不会导致杂散光被被测物镜面反射进入接收光路导致误判，进而解决了非激光光源、非点光源等发散光源的背景抑制型光电传感器因杂散光造成误判的技术问题
散光造成误判背景抑制光电传感器

[发明专利]一种杂散光吸收装置-CN202110684604.2有效
发明人：宗兆玉;赵军普;李森;梁樾;熊迁;龙蛟;薛峤;吴振海;张君;冯斌;彭志涛;胡东霞;郑万国 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2021-06-21 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：本发明涉及一种杂散光吸收装置，属于高功率激光装置技术领域，包括透镜、吸收体和外围管道，透镜、吸收体沿着杂散光传输方向依次设置，透镜对入射的杂散光口径进行扩束，吸收体吸收部分杂散光，并将剩余杂散光反射会聚至其与透镜之间，杂散光折返于吸收体、透镜之间，以消耗能量，外围管道用于封装透镜和吸收体，且外围管道的内壁能够吸收传输至其表面的杂散光，本发明降低了杂散光对光学元件的损伤风险，同时，不会对原光路带来洁净风险，结构简单且设计合理，杂散光吸收效果较好，生产加工成本低。
一种散光吸收装置

[发明专利]一种杂散光吸收装置、激光加工头及光纤激光器-CN202011510047.4在审
发明人：卢琳;陈明洁 -专利权人：上海波刺自动化科技有限公司
申请日： 2020-12-18 - 公布日： 2021-03-19 - 主分类号： H01S3/067 文献下载
摘要：本发明涉及激光加工技术领域，具体公开了一种杂散光吸收装置、激光加工头及光纤激光器，其中，该杂散光吸收装置包括壳体，壳体包括反射部与吸收部，吸收部自上至下依次设有第一吸收面、第二吸收面和第三吸收面，反射部的反射面能吸收部分杂散光并能将剩余的杂散光反射至第一吸收面，第一吸收面能吸收部分杂散光并能将剩余的杂散光反射至第二吸收面，第二吸收面能吸收部分杂散光并能将剩余的杂散光反射至第三吸收面或者第一吸收面；第三吸收面能吸收部分杂散光并能将剩余的杂散光反射至第二吸收面。上述设置使得杂散光能够在吸收部完成自上至下与自下至上的两条路径的反射与吸收，提高了杂散光的吸收效率，降低激光加工头内部腔体温度。
一种散光吸收装置激光工头光纤激光器

[实用新型]一种杂散光吸收装置、激光加工头及光纤激光器-CN202023067035.7有效
发明人：卢琳;陈明洁 -专利权人：上海波刺自动化科技有限公司
申请日： 2020-12-18 - 公布日： 2021-08-03 - 主分类号： H01S3/067 文献下载
摘要：本实用新型涉及激光加工技术领域，具体公开了一种杂散光吸收装置、激光加工头及光纤激光器，其中，该杂散光吸收装置包括壳体，壳体包括反射部与吸收部，吸收部自上至下依次设有第一吸收面、第二吸收面和第三吸收面，反射部的反射面能吸收部分杂散光并能将剩余的杂散光反射至第一吸收面，第一吸收面能吸收部分杂散光并能将剩余的杂散光反射至第二吸收面，第二吸收面能吸收部分杂散光并能将剩余的杂散光反射至第三吸收面或者第一吸收面；第三吸收面能吸收部分杂散光并能将剩余的杂散光反射至第二吸收面。上述设置使得杂散光能够在吸收部完成自上至下与自下至上的两条路径的反射与吸收，提高了杂散光的吸收效率，降低激光加工头内部腔体温度。
一种散光吸收装置激光工头光纤激光器

[发明专利]一种测试杂散光的方法及装置-CN202210085286.2有效
发明人：洪志坤;宁谦;郑增强;欧昌东;刘荣华 -专利权人：武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2022-01-25 - 公布日： 2022-05-20 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试杂散光的方法及装置，涉及杂散光的测试评估领域，该方法包括以下步骤：获取设定位置下的每个局部发光区域产生的杂散光对待测成像系统的全视野亮度的影响；根据所有局部发光区域产生的杂散光对全视野亮度的影响，得到杂散光对待测成像系统的影响位置与大小。本发明中的测试杂散光的方法可以定位、定量分析杂散光影响。
一种测试散光方法装置

[发明专利]一种基于引导杂散光的高功率激光模组设计方法及装置-CN202310828185.4在审
发明人：萧德瑛;郭诗坪;马奡麟 -专利权人：南通唐人电子科技有限公司
申请日： 2023-07-07 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G02B26/12 文献下载
摘要：本发明提供一种基于引导杂散光的高功率激光模组设计方法及装置，所述方法包括：计算激光扫描周期的反射起始旋转角，调整入射激光与旋转多面镜的转轴轴心高度以及转动角度的位置状态关系，计算旋转多面镜转动中的反射光线角度以及杂散光的方向角度，求解杂散光反射面的设置角度，设计杂散光反射镜的设置位置，使得杂散光反射向激光扫描面。本发明通过计算杂散光反射面的设置角度，设计杂散光反射镜的设置位置，将一维入射光因旋转镜多面镜交角处光线反射所产生的杂光经由挡在杂散光前的反射镜反射向激光扫描面，减少了杂散光对激光机构的加热，解决了杂散光的乱反射问题
一种基于引导散光功率激光模组设计方法装置

[发明专利]基于高动态图像合成的杂散光量化方法-CN202010660844.4在审
发明人：张露萍;毛之华 -专利权人：宁波舜宇光电信息有限公司
申请日： 2020-07-10 - 公布日： 2022-01-11 - 主分类号： G06T3/40 文献下载
摘要：本申请提供了一种杂散光量化方法，包括：获取待检测摄像模组拍摄的光源图像；将光源图像进行拼接叠加，并将完成拼接叠加的光源图像转换为灰度图像；标记灰度图像中的杂散光区域，对每个杂散光区域进行分割形成多个连通的杂散光区块；以及对分割后的杂散光区块进行量化以得到杂散光的量化数值。
基于动态图像合成散光量化方法

[发明专利]一种星敏感器抗杂散光星点提取方法-CN202111330585.X在审
发明人：魏新国;王刚毅;李苏祺 -专利权人：江苏集萃智能光电系统研究所有限公司
申请日： 2021-11-11 - 公布日： 2022-02-08 - 主分类号： G06T11/00 文献下载
摘要：本发明公开一种星敏感器抗杂散光星点提取方法，包括以下步骤：构建杂散光在局部区域内的曲面成像模型，给出曲面模型的描述函数和曲面参数的闭合解；利用邻域构建星点的局部区域，并在邻域上设计滤波矩阵，遍历图像中每一个像素位置，利用其邻域内像素信息估计杂散光曲面参数；根据曲面参数信息确定杂散光在每一个像素位置上的能量强度，得到杂散光背景图像；通过图像减运算得到去杂散光的星点图像，在此图像上检测和提取星点。本发明实现了杂散光干扰下星点提取，可有效抵抗杂散光的干扰，能增加杂散光干扰下星点检测到的数目和星点质心定位精度，可提升星敏感器在杂散光干扰下的姿态解算精度和可靠性，最终提升星敏感器在杂散光干扰下的性能。
一种敏感器抗杂散光星点提取方法

[发明专利]抑制杂散光的光学系统设计方法、设备及存储介质-CN202310623887.9在审
发明人：冯逸鹤;廖亦奇 -专利权人：杭州环峻科技有限公司
申请日： 2023-05-29 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种抑制杂散光的光学系统设计方法、设备及存储介质，光学系统设计方法包括以下步骤：步骤S1、确认杂散光类型；步骤S2、根据杂散光类型，基于光阑视场角和子午平面内的相对孔径，绘制杂散光的光路图；步骤S3、根据步骤S2绘制的杂散光的光路图，得到特征光线及特征光线路径点；步骤S4、利用特征光线及特征光线路径点，计算杂散光评价函数；步骤S5、根据杂散光评价函数优化设计光学系统。本发明的抑制杂散光的光学系统设计方法能够实现以超大视场、极低或无杂散光干扰，成像清晰、稳定为主要优点的光学设计。
抑制散光光学系统设计方法设备存储介质

[发明专利]用于抑制跨波段光谱成像系统杂散光的方法及光路系统-CN202211722294.X在审
发明人：郭少军;周晓松;邹春荣;沈同圣;程靖轩 -专利权人：中国人民解放军军事科学院国防科技创新研究院
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01J3/02 文献下载
摘要：一种用于抑制跨波段光谱成像系统杂散光的方法，所述跨波段光谱成像系统包含用于调整光线走向的镜片组、能够探测光线的辐照度的探测元件，所述用于抑制跨波段光谱成像系统杂散光的方法包含以下步骤：S1：杂散光分析步骤，对所述跨波段光谱成像系统进行杂散光分析，得到所述跨波段光谱成像系统的初始杂散光系数和杂散光路径；S2：滤光元件设计步骤，至少基于所述初始杂散光系数和所述杂散光路径，设计滤光元件；S3：滤光元件安装步骤根据此方案，能够有效地抑制系统的杂散光，提高系统的成像质量，并且能够简化结构、降低成本。
用于抑制波段光谱成像系统散光方法

[发明专利]杂散光的评估方法及其系统-CN200710161266.4有效
发明人：张铨仲;吴宜玲;曹孝岳 -专利权人：财团法人工业技术研究院
申请日： 2007-09-25 - 公布日： 2009-04-01 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：一种杂散光的评估方法与杂散光测量系统。其中杂散光测量系统的光源可分别位于待测光学元件或待测光学系统的光轴上与光轴外。杂散光的评估方法包括得到第一光扩展函数与第二光扩展函数，另外，将第一光扩展函数与第一光扩展函数进行相关运算，以得到第一相关函数，并且将第一光扩展函数与第二光扩展函数进行相关运算，以得到第二相关函数。再者，依据第一相关函数与第二相关函数得到杂散光系数或杂散光分布函数。因此即可依据杂散光系数或杂散光分布函数评估光学元件或光学系统的杂散光情形。
散光评估方法及其系统

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