专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]玻璃、强化微玻璃和终端-CN202011307742.0在审
  • 范少华;司合帅 - 华为机器有限公司
  • 2020-11-19 - 2022-05-20 - C03C10/02
  • 本申请提供一种微玻璃,该微玻璃中的晶体包括含钠霞石、镁橄榄石和TiO2,其中,所述含钠霞石包括钠霞石及其氧化硅固溶体、钠‑钾固溶体霞石及其氧化硅固溶体中的一种或多种;所述TiO2包括锐钛矿和金红石相中的至少一种。含有上述晶体的微玻璃的光透过率高,可进行高效离子交换获得表面含六方钾霞石的强化微玻璃,该强化微玻璃的硬度高、抗跌落性能好,可满足大尺寸、超薄终端玻璃盖板等的应用需求。本申请实施例还提供了该微玻璃经强化后得到的强化微玻璃、采用强化微玻璃的终端。
  • 玻璃强化终端
  • [发明专利]一种预检装置及方法-CN202210762373.7在审
  • 王林梓;苏永鹏;张立芳;刘浩南;周尧;马铁中 - 昂坤视觉(北京)科技有限公司
  • 2022-06-30 - 2022-10-04 - G01N21/95
  • 本发明提供了一种预检装置及方法,该预检装置用于对圆进行预检和校正,圆包括基底片以及芯粒,预检装置包括:工作台;活动载台,且用于承载圆;第一机组件,用于对圆进行拍摄以获取圆的第一检测图像;第机组件,用于对圆进行拍摄以获取芯粒的第检测图像;分光元件,分光元件用于将第一检测图像的传输光路导向至第一机组件,以及,分光元件用于将第检测图像的传输光路导向至第机组件。通过本申请,第一机组件不仅能够对圆进行预检,以减少后续检测模块中的工作量,同时还能辅助第机组件对圆进行位置校准,以使第机组件的校准效果更好,且校准效率更高效。
  • 一种预检装置方法
  • [实用新型]一种预检装置-CN202221672757.1有效
  • 王林梓;苏永鹏;张立芳;刘浩南;周尧;马铁中 - 昂坤视觉(北京)科技有限公司
  • 2022-06-30 - 2022-10-11 - G01N21/95
  • 本实用新型提供了一种预检装置,该预检装置用于对圆进行预检和校正,圆包括基底片以及芯粒,预检装置包括:工作台;活动载台,且用于承载圆;第一机组件,用于对圆进行拍摄以获取圆的第一检测图像;第机组件,用于对圆进行拍摄以获取芯粒的第检测图像;分光元件,分光元件用于将第一检测图像的传输光路导向至第一机组件,以及,分光元件用于将第检测图像的传输光路导向至第机组件。通过本申请,第一机组件不仅能够对圆进行预检,以减少后续检测模块中的工作量,同时还能辅助第机组件对圆进行位置校准,以使第机组件的校准效果更好,且校准效率更高效。
  • 一种预检装置
  • [发明专利]界组织重构制备高性能钐钴磁体的方法-CN202110984046.1有效
  • 蒋成保;席龙龙;张天丽;杨奇承 - 北京航空航天大学;苏州航大新材料科技有限公司
  • 2021-08-25 - 2022-09-30 - H01F41/02
  • 本发明涉及一种界组织重构制备高性能钐钴磁体的方法。所述界组织重构是指添加第界合金,补充主合金界相中贫乏元素,使得界变得更加连续、光滑且均质化,界处组成接近内,界附近形成完整胞状结构,界内部形成近似内的胞状结构。所述第界合金分子式为Sm(FebalCoaCub)磁体采用传统粉末冶金技术制备,以所述第界合金粉与所述主合金粉混合物的总质量计,第界合金粉添加比例为0~10wt.%。与不添加第界合金的钐钴磁体相比,磁体结构更加均一,内部形成了类似内的胞状结构,实现了磁体剩磁、矫顽力、方形度和磁能积的同步提高。
  • 组织制备性能磁体方法
  • [发明专利]圆清洗方法及圆清洗设备-CN201910777358.8有效
  • 惠世鹏 - 北京北方华创微电子装备有限公司
  • 2019-08-22 - 2022-03-22 - H01L21/02
  • 本发明提供了一种圆清洗方法,其中,包括:向流发生装置的进液口通入纳米气泡水,使所述流发生装置喷出纳米气泡水喷雾;利用所述纳米气泡水喷雾对所述圆进行清洗。本发明还提供了一种圆清洗设备。根据本发明的圆清洗方法,其采用纳米气泡水作为流清洗过程中的液,使流发生装置生成的每个微小液滴中,充满了纳米级的气泡,在该气泡与圆表面接触时,通过气泡破裂产生的局部爆破,增大了对圆表面附着的颗粒的冲击力,提高了圆的清洗效果。
  • 清洗方法设备
  • [发明专利]一种鉴定次电池失效原因的方法-CN200810141991.X有效
  • 李永胜 - 比亚迪股份有限公司
  • 2008-08-23 - 2010-02-24 - G01N23/207
  • 本发明公开了一种鉴定次电池失效原因的方法,包括对失效电池的电极材料取样,用X射线衍射仪进行分析,得到电极材料样品的X射线衍射图谱,然后对衍射图谱进行检索分析得到样品组成,将样品组成与鉴定标准对比,找到鉴定标准中与样品组成对应的标准,该标准所对应的电池失效原因即为所述失效电池的失效原因。通过本发明公开的方法能对失效次电池进行准确鉴定,即使由于产生爆炸的失效电池也能准确鉴定。
  • 一种鉴定二次电池失效原因方法

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