专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种大尺寸氧化物晶体生长方法-CN201410000566.4在审
  • 陈远帆;陈冠廷;彭志豪 - 苏州晶特晶体科技有限公司
  • 2014-01-02 - 2014-05-07 - C30B17/00
  • 本发明公开了一种大尺寸氧化物晶体生长方法,根据晶体生长原理结合熔体生长过程特点,结晶过程的驱动力,物质传输、分凝和溶质分布,热传输、对流和温度分布,界面稳定性和组分过冷的理论建立一套稳定的温场,采用籽晶下种的方式生长晶体,当完成籽晶下种后晶体与熔体自然形成一个固-液界面,利用生长参数控制固-液界面的移动来完成晶体生长,其晶体生长过程具体包括以下步骤:开始晶体生长、拉脱结束生长以及退火释放晶体内残留的应力。本发明提供的大尺寸氧化物晶体生长方法,结合了各式传统晶体生长的优点,随不同晶体生长的特点改变生长参数,减少晶体缺陷的产生而达到优化晶体质量的目的,进一步达成产业化的目标。
  • 一种尺寸氧化物晶体生长方法
  • [发明专利]无需退火的氧化物晶体生长方法及设备-CN202110318110.2在审
  • 王宇;官伟明;李敏 - 眉山博雅新材料有限公司
  • 2019-08-21 - 2021-07-06 - C30B29/22
  • 本说明书实施例提供一种晶体生长方法,所述方法包括:根据生成晶体的反应方程式对式中各反应物料进行第一预处理后按摩尔比对反应物料进行称重,其中,包含Si或Ga的反应物料的重量超出基于反应方程式计算出的其理论重量的0.01%‑10%;对晶体生长装置的至少一个部件进行装配前处理后,将执行过第二预处理的反应物料置于晶体生长装置内,装配前处理至少包括对埚的涂层保护、酸液泡洗、异物清洁中的一种或多种;晶体生长装置密闭后内部通入流动气体;启动晶体生长装置基于上提拉法生长晶体
  • 无需退火氧化物晶体生长方法设备
  • [发明专利]一种硫脲硫酸锌晶体的制备方法和装置-CN202111326615.X在审
  • 禹化健;刘冰;王旭平;邱程程;杨玉国 - 山东省科学院新材料研究所
  • 2021-11-10 - 2022-02-08 - C30B7/08
  • 本发明涉及新型非线性光学晶体材料的生长制备技术领域,具体涉及一种硫脲硫酸锌晶体的制备方法和装置。制备方法包括如下步骤:制备生长液:预设溶液饱和点温度为51℃,根据硫脲硫酸锌的温度溶解度曲线计算称量硫脲硫酸锌粉体,在高于饱和点温度下溶解于蒸馏水中,得到晶体生长所需要的生长溶液,调节生长溶液的pH值;然后对生长溶液进行提纯处理;配制过饱和硫脲硫酸锌溶液,通过自然降温蒸发法,自发结晶获得小晶体作为晶体生长的籽晶;将籽晶固定在籽晶杆上,浸入生长溶液中,按照理论计算的硫脲硫酸锌晶体生长降温曲线进行晶体生长生长一段时间后得到硫脲硫酸锌晶体;制备的晶体尺寸较大,光学质量较好。
  • 一种硫脲硫酸锌晶体制备方法装置
  • [发明专利]一种泡生法蓝宝石晶体生长的工艺机器人系统-CN201410647025.0无效
  • 刘瑜;陈晓玲 - 刘瑜
  • 2014-11-17 - 2015-03-04 - C30B29/20
  • 涉及一种泡生法蓝宝石晶体生长的工艺机器人系统,设置工艺参数采集系统、工艺进程模拟系统、工艺可靠性分析系统及工艺参数改进系统。工艺参数采集系统是检测传感器的数据,形成反应晶体生长状态的工艺参数。工艺进程模拟系统设置晶体生长理论所形成的长晶核心算法,根据工艺参数采集系统获得的工艺参数再现晶体生长的状态。工艺可靠性分析系统是基于晶体生长的状态和工艺参数,判断整个工艺完成情况的系统。该系统是具有简单的自学习与分析功能的机器人程序,可以不断提高了系统的可靠性和进程模拟的精确程度,使晶体成品率得到最大限度的保证。
  • 一种泡生法蓝宝石晶体生长工艺机器人系统
  • [发明专利]低成本稀土闪烁晶体生长-CN201710060012.7在审
  • 薛冬峰;孙丛婷 - 中国科学院长春应用化学研究所
  • 2017-01-24 - 2017-05-31 - C30B29/34
  • 本发明提供了稀土闪烁晶体生长工艺中生长参数的计算方法及低成本稀土闪烁晶体生长工艺,包括以下步骤,首先将制备稀土闪烁晶体的氧化物原料进行混合后,得到混合原料;然后在真空或保护性气氛下,将上述步骤得到的混合原料经过烧结后,得到多晶料块;最后在真空或保护性气氛下,将多晶料块熔化后,在具有特定生长方向的籽晶的引导下,依据计算方法所计算的生长参数,采用提拉法进行晶体生长后,得到稀土闪烁晶体。本发明从晶体生长理论出发,通过特定的模拟、推演和计算方法,得到热力学允许的最快生长速率、提拉生长速率和晶体旋转速率等生长参数。该生长工艺,能耗低,贵金属损耗少,生长过程时间短,晶体成品率高,具有明显的低成本优势。
  • 低成本稀土闪烁晶体生长
  • [发明专利]一种确定溶液晶体生长溶解度曲线的光学显微技术-CN201510227560.5有效
  • 苏静;裴世鑫;王迪;桑琳;郝蒙萌;张黎 - 南京信息工程大学
  • 2015-05-06 - 2019-04-16 - G01N21/84
  • 本发明涉及一种确定溶液晶体生长溶解度曲线的光学显微技术,使用微型溶液晶体生长装置来确定溶液晶体生长溶解度曲线,包括晶体生长槽和生长槽温度控制器,晶体生长槽上设有进气孔、出气孔和补料孔,首先在室温下量取适量晶体生长溶液,加入到微型溶液晶体生长装置的晶体生长槽中;称取晶体,从补料孔加入到晶体生长槽中;待晶体充分溶解,通过生长槽温度控制器缓慢的升高晶体生长槽内的温度,与此同时,通过显微镜观察晶体生长槽内晶体溶解情况。本发明的确定溶液晶体生长溶解度曲线的光学显微技术结合了晶体生长装置和显微技术,操作简单,易于观察,精度高,适用于多数无机、有机以及有机‑无机杂合溶液晶体的测定。
  • 一种确定溶液晶体生长溶解度曲线光学显微技术

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