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- [发明专利]一种数据库变更对现有业务影响的快速侦测方法-CN201510275375.3有效
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梁猛;陈曦
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梁猛;陈曦
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2015-05-26
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2018-11-27
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G06F17/30
- 本发明公开了一种数据库变更对现有业务影响的快速侦测方法,包括如下步骤:a)在测试环境安装与生产系统相同的操作系统和数据库软件;b)将生产系统的数据库中元数据同步到测试环境的数据库中,统计与数据库表变更相关的SQL信息并同步到测试环境的数据库中;c)在测试环境的数据库中模拟生产系统数据库将要进行的变更,并生成变更后执行计划;d)对比分析变更前后测试环境数据库的性能变化,获取访问受影响的SQL语句。本发明提供的数据库变更对现有业务影响的快速侦测方法,不需要搭建与生产环境一样的测试环境,避免了海量数据的同步所需的大量时间和人力成本,且能准确快速地侦测数据库变更对现有业务影响。
- 一种数据库变更现有业务影响快速侦测方法
- [发明专利]一种可调刮取结构的光学涂布复合生产线-CN201910178536.5有效
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张溯材
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深圳市领辉科技有限公司
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2019-03-11
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2021-05-25
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B05C11/04
- 本发明涉及一种复合生产线,尤其涉及一种可调刮取结构的光学涂布复合生产线。要解决的技术问题是:提供一种能够将涂布溶液刮均匀,不影响光学薄膜的质量,并且还能对光学薄膜张力进行测量,使得光学薄膜张力足够不影响涂抹的可调刮取结构的光学涂布复合生产线。技术方案为:一种可调刮取结构的光学涂布复合生产线,包括有机架、薄膜导入辊、薄膜筒体、电晕处理器等;机架前侧面下部右侧转动式的设有两个薄膜导入辊。本发明通过刮刀的作用,能将光学薄膜上的涂布溶液刮均匀,避免了涂布溶液不均匀影响光学薄膜的质量,通过张力调节机构,能付光学薄膜的张力进行测量,并且使得光学薄膜的张力足够,避免了光学薄膜张力不够影响涂布溶液的涂抹
- 一种可调结构光学复合生产线
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