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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]循环式多定时数显混匀检查装置及其操作方法-CN201210373289.2无效
发明人：王昉;王之嵘 -专利权人：王昉;王之嵘
申请日： 2012-09-27 - 公布日： 2013-01-02 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种循环式多定时数显混匀检查装置及其操作方法，其在控制系统部分采用微处理器单元对定时时间进行统筹，并通过八段等数码管组显示在装置表面，并且该检查装置的运行状态也一并通过外设的LED指示灯进行显示本发明采用循环式多定时，通过内部的微处理器单元对混匀工作盘中多个批次待检试纸的混匀时间进行计时，通过微处理器单元的计时可将每批次定时的混匀时间准确到秒，保证了检测准确性，避免了漏诊、误诊等情况的发生。
循环定时数显混匀检查装置及其操作方法

[实用新型]循环式多定时数显混匀检查装置-CN201220503430.1有效
发明人：王昉;王之嵘 -专利权人：王昉;王之嵘
申请日： 2012-09-27 - 公布日： 2013-03-20 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种循环式多定时数显混匀检查装置，其在控制系统部分采用微处理器单元对定时时间进行统筹，并通过八段等数码管组显示在装置表面，并且该检查装置的运行状态也一并通过外设的LED指示灯进行显示。本实用新型采用循环式多定时，通过内部的微处理器单元对混匀工作盘中多个批次待检试纸的混匀时间进行计时，通过微处理器单元的计时可将每批次定时的混匀时间准确到秒,保证了检测准确性，避免了漏诊、误诊等情况的发生
循环定时数显混匀检查装置

[发明专利]用于磁共振成像中造影增强动态扫描中的动态规划工具-CN200980109386.7无效
发明人： J·布尔曼 -专利权人：皇家飞利浦电子股份有限公司
申请日： 2009-03-11 - 公布日： 2011-02-16 - 主分类号： A61B5/055 文献下载
摘要：对于任何后续分析或CAD而言，乳房的动态造影度增强MRI扫描的定时方案都是关键的。本发明提出了一种规划装置，该规划装置被配置成计算动态MRI检查的定时方案，该规划装置被配置成集成在MRI扫描器或乳房分析或CAD软件套装中。可以手工或借助检查卡(ExamCard)将规划的扫描传送到扫描器。也可以将规划用作分析或CAD软件套装的输入。
用于磁共振成像造影增强动态扫描中的规划工具

[发明专利]检查数据显示控制装置、方法以及程序-CN201480018229.6在审
发明人：星野贵 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2014-03-20 - 公布日： 2015-11-25 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：在显示按时间序列取得的多个检查项目的检查数据时，以更容易观察的状态进行显示。在显示按时间序列取得的多个检查项目的检查数据的检查数据显示控制装置中，具备：显示期间指定受理部(14)，受理对所显示的检查数据的显示期间的指定；诊疗信息取得部(11)(检查数据取得部)，在受理了显示期间的指定时，确定多个检查项目中的在显示期间内存在检查数据的检查项目，仅取得该确定的检查项目的显示期间内的检查数据，来作为显示期间内的显示对象的检查数据；以及显示控制部(13)，仅显示在显示期间内存在的检查项目的检查数据
检查数据显示控制装置方法以及程序

[发明专利]组合计量系统、组合计量方法及组合计量程序-CN202080019858.6有效
发明人：福本健二;江藤贵生;石山和朗;塚本真也 -专利权人：株式会社日冷食品
申请日： 2020-03-11 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01G19/387 文献下载
摘要：一种组合计量系统(1)，其具备第一X射线检查装置(20)、组合计量装置(40)、制袋包装装置(50)、重量检查装置(60)、第二X射线检查装置(70)、以及进行各装置各自的管理的管理装置(90)，管理装置(90)基于根据重量检查装置(60)中的一定时间的检查结果计算出的商品(B)的重量的平均值，修正第一X射线检查装置(20)的重量换算表以及组合计量装置(40)的修正值。
组合计量系统方法程序

[发明专利]一种接纳控制方法及装置、存储介质、终端-CN201711131719.9有效
发明人：范伟;邓云 -专利权人：展讯通信（上海）有限公司
申请日： 2017-11-15 - 公布日： 2020-09-18 - 主分类号： H04W48/08 文献下载
摘要：一种接纳控制方法及装置、存储介质、终端，所述方法包括：响应于触发的接入请求，确定所述接入请求对应的接纳等级；根据接纳控制定时器的忙闲状态以及所述接纳等级的优先级确定是否执行接纳控制检查操作，所述接纳控制定时器适用于所有的接纳等级；如果所述接纳控制检查操作被执行，则根据检查结果允许或拒绝所述接入请求。
一种接纳控制方法装置存储介质终端

[发明专利]自动分析装置以及分析方法-CN201980081758.3有效
发明人：山田巧 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2019-11-22 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：在检查领域不同的多个检体中，测定开始定时存在偏差，因此测定结果不匹配，报告延迟。在决定由能够实现多个检查领域的测定的自动分析装置新识别出的检体的测定顺序时，参照检体信息(301)的患者编号(303)相同的患者的其他检体的紧急检查信息(302)、测定完成时刻(309)、其他检体测定完成最早时刻(311)等检体信息(301)，变更待测定检体的测定顺序，而使同一患者的多个检体的测定结果输出定时的时间差为最小限度。
自动分析装置以及方法

[发明专利]半导体器件的制造系统与制造方法-CN201010263401.8无效
发明人：牛久幸广;柿沼英则;秋山龙雄;首藤俊次;安部正泰;小松茂;小川章 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2004-09-07 - 公布日： 2011-01-05 - 主分类号： H01L21/00 文献下载
摘要：本发明的半导体器件制造系统具有：实行采用半导体基板(17)的加工处理的处理装置(14)；从处理装置(14)接收装置信息进行处理装置(14)自管理的自诊断系统(11a)；检查加工处理结果的检查装置(19)；基于检查结果判定处理装置(14)能否自动修复，并在判定结果为有效判定时维持自诊断系统(11a)的参数，为无效判定时变更这种参数的计算机(11)。
半导体器件制造系统方法

[发明专利]半导体器件的制造系统与制造方法-CN200410074615.5无效
发明人：牛久幸广;柿沼英则;秋山龙雄;首藤俊次;安部正泰;小松茂 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2004-09-07 - 公布日： 2005-03-16 - 主分类号： H01L21/00 文献下载
摘要：本发明的半导体器件制造系统具有：实行采用半导体基板(17)的加工处理的处理装置(14)；从处理装置(14)接收装置信息进行处理装置(14)自管理的自诊断系统(11a)；检查加工处理结果的检查装置(19)；基于检查结果判定处理装置(14)能否自动修复，并在判定结果为有效判定时维持自诊断系统(11a)的参数，为无效判定时变更这种参数的计算机(11)。
半导体器件制造系统方法

[发明专利]电镀方法和电镀装置-CN201310102661.0有效
发明人：南吉夫;藤方淳平;岸贵士 -专利权人：株式会社荏原制作所
申请日： 2013-03-27 - 公布日： 2013-10-23 - 主分类号： C25D7/12 文献下载
摘要：该电镀方法中，实施第1阶段泄漏检查，即基板的外周部以密封构件(66，68)密封且基板W由基板架(18)保持，对基板架保持基板时以密封构件密闭的在该基板架的内部形成的内部空间R内进行真空吸引，对该内部空间在规定时间后是否达到规定真空压力进行检查，并且实施第2阶段泄漏检查，即对第1阶段泄漏检查合格了的保持基板的基板架，密封内部空间并检查该内部空间内的压力在规定时间内是否变化了规定值以上。
电镀方法装置

[发明专利]基板架的维护方法-CN201610459967.5有效
发明人：南吉夫;藤方淳平;岸贵士 -专利权人：株式会社荏原制作所
申请日： 2013-03-27 - 公布日： 2018-08-03 - 主分类号： C25D7/12 文献下载
摘要：该电镀方法中，实施第1阶段泄漏检查，即基板的外周部以密封构件(66，68)密封且基板W由基板架(18)保持，对基板架保持基板时以密封构件密闭的在该基板架的内部形成的内部空间R内进行真空吸引，对该内部空间在规定时间后是否达到规定真空压力进行检查，并且实施第2阶段泄漏检查，即对第1阶段泄漏检查合格了的保持基板的基板架，密封内部空间并检查该内部空间内的压力在规定时间内是否变化了规定值以上。
基板架维护方法

[发明专利]电镀方法和电镀装置-CN201610458133.2有效
发明人：南吉夫;藤方淳平;岸贵士 -专利权人：株式会社荏原制作所
申请日： 2013-03-27 - 公布日： 2018-07-27 - 主分类号： C25D7/12 文献下载
摘要：该电镀方法中，实施第1阶段泄漏检查，即基板的外周部以密封构件(66，68)密封且基板W由基板架(18)保持，对基板架保持基板时以密封构件密闭的在该基板架的内部形成的内部空间R内进行真空吸引，对该内部空间在规定时间后是否达到规定真空压力进行检查，并且实施第2阶段泄漏检查，即对第1阶段泄漏检查合格了的保持基板的基板架，密封内部空间并检查该内部空间内的压力在规定时间内是否变化了规定值以上。
电镀方法装置

[发明专利]电镀方法和电镀装置-CN201610459972.6有效
发明人：南吉夫;藤方淳平;岸贵士 -专利权人：株式会社荏原制作所
申请日： 2013-03-27 - 公布日： 2018-06-12 - 主分类号： C25D7/12 文献下载
摘要：该电镀方法中，实施第1阶段泄漏检查，即基板的外周部以密封构件(66，68)密封且基板W由基板架(18)保持，对基板架保持基板时以密封构件密闭的在该基板架的内部形成的内部空间R内进行真空吸引，对该内部空间在规定时间后是否达到规定真空压力进行检查，并且实施第2阶段泄漏检查，即对第1阶段泄漏检查合格了的保持基板的基板架，密封内部空间并检查该内部空间内的压力在规定时间内是否变化了规定值以上。
电镀基板泄漏密封构件基板架检查密封内部空间电镀装置真空吸引真空压力重大问题对基板密封性外周部密闭对极密封发现

[发明专利]免疫检查装置和其操作方法、信息处理装置和其操作方法、以及信息处理系统-CN201880012142.6有效
发明人：石川成利;小田佳成 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2018-01-30 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： G01N33/543 文献下载
摘要：本发明提供一种免疫检查装置和其操作方法、信息处理装置和其操作方法及操作程序、以及信息处理系统，所述免疫检查装置能够将从检查开始至得到被检体内存在被检物质的判定结果为止所需要的检查经过时间即判定所需时间有效地应用于感染症的感染蔓延的预防中免疫检查装置的主控制部计时经过时间TP。信息输出部将和判定所需时间相关的判定所需时间信息与判定结果信息建立关联并输出。判定所需时间信息是表示至少经过时间TP超过设定时间TS的信息，即，表示实施了敏化处理的信息，所述设定时间TS为将对与流感病毒结合而着色的试剂的着色状态进行敏化的药液在载体上展开的敏化处理开始的时间。
免疫检查装置操作方法信息处理以及系统

[发明专利]掩模的制造方法和半导体集成电路器件的制造方法-CN03103366.0无效
发明人：长谷川昇雄;早野胜也;久保真二;古泉裕弘;高谷洋宣;法元盛久 -专利权人：株式会社日立制作所;大日本印刷株式会社
申请日： 2003-01-24 - 公布日： 2003-11-12 - 主分类号： H01L21/027 文献下载
摘要：在用光刻胶膜构成遮光体的掩模RM的缺陷检查中，采用使用异物检查装置CIS，读取对照射到掩模RM上的检查光的反射光、透过光或这两方的光学信息的办法，检查掩模RM上边的光刻胶图形的卷边、膜减薄、异物等这样的缺陷的有无就是说，在掩模RM的检查中，可以不进行要求多的测定时间和高级技术的比较检查来进行缺陷检查。因此，可以简化掩模RM的检查工序，还可以缩短掩模的检查时间。
制造方法半导体集成电路器件

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