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[发明专利]MEMS器件真空度测量方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202310446718.2在审
发明人：董显山;黄鑫龙;路国光;周斌;赖灿雄;黄钦文;苏伟 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2023-04-23 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01L21/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种MEMS器件真空度测量方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：获取MEMS器件在真空封装条件下的品质因数；获取MEMS器件在不同气压条件下的品质因数；根据不同气压条件下的品质因数进行拟合，得到拟合方程；基于拟合方程以及真空封装条件下的品质因数进行计算，得到MEMS器件的腔内真空度。整个方案通过测量MEMS器件在不同气压条件下的品质因数，根据不同气压条件下的品质因数进行拟合，得到拟合方程，拟合方程可以准确描述气压与品质因数之间的相关关系，进而根据拟合方程以及真空封装条件下的品质因数进行计算，可以准确地得到MEMS器件的腔内真空度。
mems 器件真空测量方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]一种品质因数可调节的高阶滤波器的设计方法及相关设备-CN202211446749.X在审
发明人：黄娴;朱马 -专利权人：上海艾为电子技术股份有限公司
申请日： 2022-11-18 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： H03H17/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种品质因数可调节的高阶滤波器的设计方法及相关设备，该设计方法将待设计n阶滤波器划分为m个待设计二阶滤波器；将未设计n阶滤波器划分为m个未设计二阶滤波器；n≥3，m≥1，其中，m＝n/2，且m向下取整；其中待设计n阶滤波器的品质因数为目标品质因数，未设计n阶滤波器的品质因数为固定品质因数；根据固定品质因数与目标品质因数计算出一个比例系数，再计算出每个未设计二阶滤波器的品质因数，根据比例系数与每个未设计二阶滤波器的品质因数即可计算出每个待设计二阶滤波器的品质因数；当目标品质因数改变时，比例系数与每个待设计二阶滤波器的品质因数也随之改变，此时就得到了一个品质因数可调节的n阶滤波器。
一种品质因数调节滤波器设计方法相关设备

[发明专利]一种利用地震数据确定品质因数的方法-CN201110124599.6有效
发明人：王秋成;王梅生;李培明;马涛;李伟波 -专利权人：中国石油天然气集团公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
申请日： 2011-05-13 - 公布日： 2012-11-14 - 主分类号： G01V1/28 文献下载
摘要：本发明是地球物理勘探技术中利用地震数据确定品质因数的方法，通过计算得到均方根振幅趋势线和均方根品质因数趋势线，沿均方根品质因数趋势线拾取品质因数，通过交互拾取调整均方根品质因数的数值，使计算得到的振幅值和实际振幅变化趋势曲线相吻合，得到这一时间上的均方根品质因数，最后利用Dix公式计算得到每一层的品质因数。本发明有效地解决了利用实际地震数据计算品质因数稳定性不好的问题，使利用实际地震数据也能较为精确确定地层的品质因数，实现了地层吸收衰减量计算在实际资料应用中的定量化。
一种利用地震数据确定品质因数方法

[发明专利]剪切波成像方法、装置和存储介质-CN201911417365.3有效
发明人：王鋐;曹三;张勇;张建军 -专利权人：无锡祥生医疗科技股份有限公司
申请日： 2019-12-31 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： A61B8/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种剪切波成像方法、装置和存储介质，其中剪切波成像方法包括获取根据基波信号得到的第一剪切波参数、及与第一剪切波参数相对应的第一品质因数；获取根据谐波信号得到的第二剪切波参数、及与第二剪切波参数相对应的第二品质因数；分别将第一品质因数与第一品质因数阈值进行比较、将第二品质因数与第二品质因数阈值进行比较；基于第一品质因数与第一品质因数阈值的比较结果和第二品质因数与第二品质因数阈值的比较结果，利用第一剪切波参数和/或第二剪切波参数确定剪切波速度估计值
剪切成像方法装置存储介质

[发明专利]用于利用归一化品质因数选择聚焦设置的方法以及数字成像设备-CN200880132581.7无效
发明人： S.波拉 -专利权人：惠普开发有限公司
申请日： 2008-10-31 - 公布日： 2011-12-07 - 主分类号： H04N5/232 文献下载
摘要：一种用于为数字图像获取设备选择聚焦设置的方法，所述方法包括：获取至少两个图像，所述图像是利用不同的聚焦设置获取的；为每个图像计算品质因数；使用为每个图像计算的品质因数来计算归一化常数；通过将每个图像的品质因数除以所述归一化常数来为每个图像计算归一化的品质因数；使用每个图像的归一化的品质因数以及预定的选择准则来选择聚焦设置。
用于利用归一化品质因数选择聚焦设置方法以及数字成像设备

[发明专利]粒子甄别方法及装置-CN202111351158.X在审
发明人：陈炼;徐晓禹;金革 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2021-11-12 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G01T1/38 文献下载
摘要：从多个甄别算法中选取一个甄别算法，根据与甄别算法对应的多个甄别参数值，计算甄别算法的与每个甄别参数值对应的品质因数。从多个品质因数中确定甄别算法的最佳品质因数以及最佳甄别参数值。重复上述步骤，获取每个甄别算法的最佳品质因数以及最佳甄别参数值。根据每个甄别算法的最佳品质因数，确定目标品质因数，并确定与目标品质因数对应的目标甄别算法，以及将目标甄别算法对应的最佳甄别参数值作为目标甄别参数值。
粒子甄别方法装置

[发明专利]用于在基站和终端之间执行数据传输的方法及系统-CN202080070845.1有效
发明人：李骞睿;N·格雷塞特 -专利权人：三菱电机株式会社
申请日： 2020-10-05 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： H04W16/28 文献下载
摘要：获得代表整个多跳网络的路由性能的第一品质因数的值。独立于第一品质因数的值，计算针对基站和多跳网络的入口点之间的传输的每个候选配置的代表基站和多跳网络之间的传输性能的第二品质因数的值。然后，通过组合第一品质因数的值和第二品质因数的值来计算代表整个多跳网络的路由性能与基站和多跳网络之间的传输性能之间的折衷的第三品质因数的值。然后，选择示出了第三品质因数的最佳值的候选配置以执行数据传输。
用于基站终端之间执行数据传输方法系统

[发明专利]确定感应充电支架上的金属对象的位置的方法-CN201880057918.6在审
发明人： M.谢赫 -专利权人：法国大陆汽车公司;大陆汽车有限公司
申请日： 2018-09-06 - 公布日： 2020-04-21 - 主分类号： H02J50/10 文献下载
摘要：该方法包括：测量发射天线的品质因数的步骤（E1），测量接收天线的品质因数的步骤（E2），以及将测得的发射天线的品质因数与发射天线的预定品质因数阈值进行比较并将测得的接收天线的品质因数与接收天线的预定品质因数阈值进行比较的步骤
确定感应充电架上金属对象位置方法

[发明专利]表征摩擦纳米发电机的品质因数的方法-CN201510555781.5有效
发明人：王中林;訾云龙;牛思淼 -专利权人：北京纳米能源与系统研究所
申请日： 2015-09-01 - 公布日： 2019-05-03 - 主分类号： H02N1/04 文献下载
摘要：本发明提供的表征摩擦纳米发电机品质因数的方法，从摩擦纳米发电机的电压V‑转移电荷量Q曲线出发，首次提出了摩擦纳米发电机的最大能量输出循环。基于此循环，提出了发电机的性能品质因数，其中包括一个与发电机设计相关的结构品质因数和一个等于表面电荷密度平方的材料品质因数。本发明还提供一种标准方法来表征材料品质因数，采用液态金属较为准确测量了摩擦层材料的表面电荷密度。本发明提出的表征摩擦纳米发电机输出性能的标准方法确定的性能品质因数，可以作为一个共同的标准，评价摩擦纳米发电机的性能。
表征摩擦纳米发电机品质因数方法

[发明专利]一种低介电常数高品质因数的微波介质陶瓷及其制备方法-CN202111641899.1有效
发明人：刘兵;周梦飞;沙柯;林峰立;宋开新 -专利权人：杭州电子科技大学
申请日： 2021-12-30 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： C04B35/553 文献下载
摘要：本发明公开了一种低介电常数高品质因数的微波介质陶瓷及其制备方法，本发明的微波介质陶瓷的化学组成表达式为MgAlF5，其相对介电常数为6.5～7.7，品质因数为31400～40500GHz，本发明的微波介质陶瓷具有十分优异的低介电常数与高品质因数性能组合，在未来微波通讯系统无源器件中有非常广泛的应用前景。本发明的一种低介电常数高品质因数的微波介质陶瓷的制备方法采用固相反应法制备工艺，工艺简单，重复性好且合成的物相稳定单一。此外，本发明的一种低介电常数高品质因数的微波介质陶瓷的制备方法以全氟化物为反应原料，烧结温度不高于1200℃，相比于其他氧化物陶瓷，如MgAl2O
一种介电常数品质因数微波介质陶瓷及其制备方法

[发明专利]微纳光电子器件的优化方法及片上模分复用/解复用器-CN202310396755.7在审
发明人：杜特;杨俊波;彭政;张兆健;马汉斯;姜鑫鹏;罗鸣宇 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2023-04-12 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G06F30/398 文献下载
摘要：本发明公开了一种微纳光电子器件的优化方法及片上模分复用/解复用器，包括以下步骤：建立器件的初始仿真模型，计算此时整个仿真模型的品质因数值；选择初始多边形的一个可移动顶点作为搜索点，每改变一次搜索点的位置，计算一次品质因数值；搜索使得品质因数值最优的搜索点的位置；将搜索点的位置保持在使得品质因数值最优的位置，对下一个搜索点进行搜索，所有的搜索点均搜索过一遍最优位置为一次迭代；重复迭代，直至达到设定的指标
光电子器件优化方法片上模分复用解复用器

[发明专利]电感品质因数测量方法及相应的电感品质因数测量电路-CN201910948994.2在审
发明人：王聪颖;王曌;计艳;印辉云;舒文丽 -专利权人：无锡华润矽科微电子有限公司
申请日： 2019-10-08 - 公布日： 2021-04-09 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明涉及一种电感品质因数测量方法及相应的电感品质因数测量电路，其中，所述的方法利用振荡电路在欠阻尼振荡过程中电路的衰减速度与电路中电感品质因数Q的呈一定对应关系的特点，通过公式Q＝K×N得到所述的电感品质因数产生的阻尼振荡幅度大于预设基准电压的振荡周期个数，K为系统预设值，且0＜K≤1，所述的系统预设值K的具体取值与所述的预设基准电压和所述的阶跃电压的比值对应，相应的电路无需复杂的计算过程及处理时序要求，通过简单的电路结构即可求出电感品质因数采用本发明中的电感品质因数测量方法及相应的电感品质因数测量电路具备精度可调、测量方便及成本较低的特点。
电感品质因数测量方法相应测量电路

[发明专利]一种基于能量损耗机理分析的半球谐振子结构参数优化方法-CN202111276018.0在审
发明人：刘赫男;秦彪;陈明君;吴春亚;程健 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2021-10-29 - 公布日： 2022-02-08 - 主分类号： G06F30/17 文献下载
摘要：一种基于能量损耗机理分析的半球谐振子结构参数优化方法，涉及半球谐振子结构参数优化技术领域，用以解决现有技术不能对半球谐振子结构参数进行优化以提高品质因数的问题。本发明的技术要点包括：从能量角度定义半球谐振子的品质因数，影响品质因数的阻尼机理包括热弹性阻尼和支撑损耗；建立理想半球谐振子的总品质因数与热弹性阻尼和支撑损耗之间的关系；改变半球谐振子每个结构参数的尺寸，分别计算其对应的总品质因数，选择每个结构参数中总品质因数最高的尺寸为最优结构参数尺寸。
一种基于能量损耗机理分析半球谐振子结构参数优化方法

[发明专利]一种具有高品质因数的自卷曲电感的制备方法-CN202211561908.0在审
发明人：黄文;汪颖;张子涵 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2022-12-07 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： H01F41/02 文献下载
摘要：本发明公开一种具有高品质因数的自卷曲电感的制备方法，属于电子器件技术领域。）沉积金属应变层，得到U型金属图案；（4）通过干法刻蚀或湿法刻蚀，刻蚀牺牲层，利用金属应变层的金属薄膜应力，触发卷曲得到金属结构的自卷曲电感；（5）对金属结构的自卷曲电感镀金或镀铜处理，得到一种具有高品质因数的自卷曲电感本发明的自卷曲电感，其应变层由金属薄膜构成能够减小趋肤效应，提升品质因数。而且卷曲后的电感经镀金或镀铜处理后，能够增加金属薄膜的厚度，使品质因数提高到非金属应变层结构电感的2~30倍。
一种具有品质因数卷曲电感制备方法

[发明专利]圆片级封装的真空度测试方法及圆片级封装结构-CN202210720711.0在审
发明人：罗蓉;杨拥军;徐淑静;任臣 -专利权人：河北美泰电子科技有限公司
申请日： 2022-06-24 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： B81C1/00 文献下载
摘要：该方法包括：将盖板圆片与结构圆片键合，在盖板圆片与结构圆片之间形成空腔，将键合后的圆片置于真空测试系统中抽真空，在不同真空度下激励谐振器，得到真空度与谐振器品质因数值的对应关系，在预设真空度下对键合后的圆片进行真空封装，并激活吸气剂，再次激励谐振器，得到对应的谐振器的第二品质因数值，根据真空度与谐振器品质因数值的对应关系和第二品质因数值，反推出圆片级真空封装的器件的空腔内部的真空度。本发明能够实现对圆片级真空封装的真空度的测试，解决现有技术中无法直接测试出芯片内部真空度大小的问题，有利于相关MEMS器件的进一步推广应用。
圆片级封装真空测试方法结构

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